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信號(hào)完整性（Signal Integrity，SI）是指一個(gè)信號(hào)在電路中產(chǎn)生正確的響應(yīng)的能力。在長(zhǎng)距離、高比特率的信號(hào)傳輸中，由于多種效應(yīng)的影響，信號(hào)的可信度會(huì)降低。因此，高速互連系統(tǒng)里的數(shù)據(jù)傳輸對(duì)信號(hào)完整性的要求越來越高。

在高速數(shù)據(jù)傳輸中，信號(hào)完整性測(cè)試的重要性不言而喻。如果信號(hào)在傳輸過程中出現(xiàn)問題，如衰減、反射、失真等，將會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤，甚至系統(tǒng)崩潰。因此，通過信號(hào)完整性測(cè)試，可以確保信號(hào)在傳輸過程中保持正確的形態(tài)和幅度，從而提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃院头€(wěn)定性。

隨著PCIe 6.0和即將到來的PCIe 7.0技術(shù)的高速發(fā)展，傳輸速率不斷突破極限，從112 Gbps到224 Gbps的應(yīng)用逐漸成熟，未來甚至448Gbps的高速鏈路也將在實(shí)際場(chǎng)景中落地。伴隨著速率的大幅提升，高速信號(hào)的完整性 (SI) 問題也變得日益突出。從信號(hào)反射、串?dāng)_、到通道損耗等因素，設(shè)計(jì)和驗(yàn)證過程面臨前所未有的挑戰(zhàn)。在這一背景下，TDR (時(shí)域反射計(jì)) 測(cè)試作為重要的測(cè)量手段，對(duì)傳輸線的阻抗控制及信號(hào)路徑問題的定位至關(guān)重要。TDR測(cè)試不僅能夠直觀反映傳輸線的阻抗特性，還可幫助工程師快速識(shí)別故障點(diǎn)，是解決高速信號(hào)完整性難題的“關(guān)鍵武器”。

高頻高速PCB廣泛應(yīng)用于AI、高速通信、數(shù)據(jù)中心和消費(fèi)電子等領(lǐng)域。其性能的穩(wěn)定性和可靠性決定了整個(gè)系統(tǒng)的信號(hào)完整性和運(yùn)行效率。高速PCB產(chǎn)業(yè)鏈中的各環(huán)節(jié)緊密相連，共同確保最終產(chǎn)品的質(zhì)量。

PCB測(cè)試的主要項(xiàng)目包括頻域S參數(shù)、時(shí)域阻抗、Rise Time、Skew、眼圖和材料特性等。這些測(cè)試項(xiàng)目可以全面評(píng)估PCB的傳輸性能、阻抗特性、時(shí)序特性以及信號(hào)完整性等。

224Gbps高速互連的應(yīng)用場(chǎng)景非常廣泛，包括但不限于芯片至光引擎 (D2OE) 封裝基板走線、背板互連高速PCB和高速無(wú)源銅纜、機(jī)架內(nèi)互連高速有源銅纜 (AEC) 以及數(shù)據(jù)中心光模塊 (如OSFP可插拔模塊)。在這些場(chǎng)景中，對(duì)傳輸介質(zhì)的性能、傳輸距離以及關(guān)鍵要求都有著嚴(yán)格的規(guī)定，以確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和可靠性。

224Gbps高速線纜的測(cè)試指標(biāo)主要由常規(guī)指標(biāo)和部分后處理指標(biāo)組成。常規(guī)指標(biāo)分為頻域指標(biāo)和時(shí)域指標(biāo)，其結(jié)果可由VNA直接測(cè)量得到。后處理指標(biāo)，通過對(duì)VNA測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行算法處理后得到。