9-16

9.上升時(shí)間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時(shí),各組輸出從10% ~ 90% POINT 之上升時(shí)間(常規(guī)定義為≤20mS).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD .

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",

TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定.

(3). 用CURSOR 中"TIME", 量測待測品各組輸出從電壓10% 至90% 之上升時(shí)間.

五. 注意事項(xiàng):

測試前先將待測品處于冷機(jī)狀態(tài),待BUCK Cap. 電荷放盡后進(jìn)行測試.

10. 下降時(shí)間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時(shí),各組輸出從90% ~ 10% POINT 之下降時(shí)間(常規(guī)定義≥5mS);

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD.

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"-",TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定;

(3). 用CURSOR 中"TIME", 量測待測品各組輸出從電壓90% 至10% 之下降時(shí)間.

五. 注意事項(xiàng):

測試前先將待測品熱機(jī), 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測試.

11. 開機(jī)延遲時(shí)間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時(shí), 輸入電壓AC LINE 與輸出之時(shí)間差(常規(guī)定義為≤3000mS).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 測試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY 和輸出負(fù)載(一般LOW LINE & MAX. LOAD時(shí)間最長).

(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE, CH2 接AC LINE.

(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定.

(4). 用CURSOR 中"TIME", 量測AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時(shí)間差.

五. 注意事項(xiàng):

(1). 測試前先將待測品處于冷機(jī)狀態(tài), 待BULK Cap. 電荷放盡后進(jìn)行測試;

(2). 示波器(OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器.

12. 關(guān)機(jī)維持時(shí)間測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER OFF 時(shí), 輸入電壓AC LINE 與輸出OUTPUT 之時(shí)間差(常規(guī)定義≥10mS/115Vac & ≥20mS/230Vac );

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 測試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY 和輸出負(fù)載.

(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE, CH2 接ACLINE.

(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“-”, VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定.

(4). 用CURSOR 中"TIME", 量測AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時(shí)間差.

五. 注意事項(xiàng):

(1). 測試前先將待測品熱機(jī), 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測試;

(2). 示波器(OSCILLOSCOPE) 需使用隔離變壓器.

13. 輸出過沖幅度測試

一、目的:

測試S.M.P.S. POWER ON 時(shí), 輸出DC OUTPUT 過沖幅度變化量(常規(guī)定義為≤10%).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所要求,輸入電壓范圍與輸出負(fù)載(Min. – Max. load).

四、測試方法:

(1). 測試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE, FREQUENCY 和輸出負(fù)載.

(2). OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為TRIGGER SOURCE;

(3). TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+” 和“-”, VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定.

(4). 用CURSOR 中"VOLT", 量測待測品輸出過沖點(diǎn)與穩(wěn)定值之關(guān)系.

(5). ON / OFF 各做十次, 過沖幅度%=△V / Vo *100%;

五、注意事項(xiàng):

產(chǎn)品在CC與CR模式都需滿足規(guī)格要求.

14. 輸出暫態(tài)響應(yīng)測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸出負(fù)載快速變化時(shí), 其輸出電壓跟隨變動之穩(wěn)定性(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC.所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE, 變化的負(fù)載LOAD, 頻率及升降斜率SR/F 值.

四、測試方法:

(1). 測試時(shí)設(shè)定好待測品輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY.

(2). 測試時(shí)設(shè)定好待測品輸出條件: 變化負(fù)載和變化頻率及升降斜率.

(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到OUTPUT 偵測點(diǎn), 量其電壓之變化.

(4). CH2 接CURRENT PROBE 測試輸出電流, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER MODE設(shè)定為"AUTO.".

五、注意事項(xiàng):

(1). 注意使用CURRENT PROBE 時(shí),每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO,

(2). 須經(jīng)常對CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.

15. 過流保護(hù)測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸出電流過高時(shí)是否保護(hù), 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi), 及是否會對S.M.P.S. 造成損傷(常規(guī)定義過流點(diǎn)為輸出額定負(fù)

載的1.2-2.5倍/ CV模式產(chǎn)品初外).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和電子負(fù)載.

四、測試方法:

(1). 將待測組輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD.

(2). 以一定的斜率(通常為1.0A/S) 遞增, 加大輸出電流直至電源保護(hù), 當(dāng)保護(hù)后, 將所加大之電流值遞減, 視其輸出是否會自動RECOVERY.

(3). OSCILLOSCOPE CH2 接上CURRENT PROBE, 以PROBE 檢測輸出電流.

(4). CH1 則接到待測輸出電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"-", TRIGGER MODE 設(shè)定為"AUTO", TIME/DIV 視情況而定.

五、注意事項(xiàng):

(1). 注意使用CURRENT PROBE 時(shí),每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO,

(2). 須經(jīng)常對CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.

(3). 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生.

16. 短路保護(hù)測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸出端在開機(jī)前或在工作中短路時(shí), 產(chǎn)品是否有保護(hù)功能.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4). 低阻抗短路夾

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值和低阻抗短路夾.

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定測試條件: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值(一般為MAX.LOAD).

(2). 各組輸出相互短路或?qū)Φ囟搪? 偵測輸出特性.

(3). 開機(jī)后短路TURN ON THEN SHORT & 短路后開機(jī)SHORT THEN TURN ON 各十次.

五、注意事項(xiàng):

(1).當(dāng)SHORT CIRCUIT 排除之后, 檢測待測品是否自動恢復(fù)或需重新啟動(視SPEC 要求),并測試產(chǎn)品是否正?；蛴袩o零件損壞(產(chǎn)品要求應(yīng)正常).

(2). 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生.

17-24

17. 過壓保護(hù)測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 輸出電壓過高時(shí)是否保護(hù), 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi), 及是否會對S.M.P.S. 造成損傷(常規(guī)定義:Vout<12V,過壓保護(hù)點(diǎn)為1.8倍輸出電壓; Vout≥12V,.過壓保護(hù)點(diǎn)為1.5倍輸出電壓).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4). DC SOURCE / 直流電源;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值.

四、測試方法:

(1). 測試方式一: 拿掉待測品回授FEEDBACK, 找出過壓保護(hù)OVP 點(diǎn),

(2). 測試方式二: 外加一可變電壓于操作待測品的輸出, 緩慢增大電壓值, 找出過壓保護(hù)OVP 點(diǎn),

(3). OSCILLOSCOPE CH1 接到OVP 偵測點(diǎn), 測量其電壓之變化.

(4). CH2 則接到其它一組輸出電壓, 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.

(5). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"-", TRIGGER MODE 設(shè)定為"NORMAL".

五、注意事項(xiàng):

產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生.

18. 重輕載變化測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 的輸出負(fù)載在重輕載切換時(shí)對輸出電壓的影響(規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD(MIN. AND MAX.) 值.

四、測試方法:

(1). 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE, FREQUENCY AND LOAD (MAX. LOAD 和MIN. LOAD).

(2). SCOPE 的CH1 接Vo, 并設(shè)為TRIGGER SOURCE, LEVEL 設(shè)定在Vo 的90% ~ 100% 較為妥當(dāng), TRIGGER SLOPE 設(shè)定在"+",VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定.

(3). TIME/DIV 設(shè)定為1S/DIV 或2S/DIV,為滾動狀態(tài).

(4). 在輸入電壓穩(wěn)定時(shí),變化輸出負(fù)載(最大/最小).

(5). 在設(shè)定電壓下測試輸出電壓的最大和最小值.

五、注意事項(xiàng):

無

19. 輸入電壓變動測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內(nèi)變動時(shí),是否會對S.M.P.S. 造成損傷或輸出不穩(wěn)定.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

三. 測試條件:

依SPEC. 所規(guī)定: 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值.

四、測試方法:

(1). 將待測輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD 和MIN. LOAD.

(2). TRIGGER SLOPE 設(shè)定為"+", TRIGGER MODE 設(shè)定為"AUTO", TIME/DIV 視情況而定1S/DIV 或2S/DIV.

(3). 變動輸入電壓,如:90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac…… 0-264Vac.

(4). 測試輸出電壓在輸入電壓變動時(shí)的最大值和最小值.

五、注意事項(xiàng):

輸出電壓變動的范圍應(yīng)在規(guī)格電壓要求內(nèi).

20.電源開關(guān)循環(huán)測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 是否能承受連續(xù)開關(guān)操作下的沖擊.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). OSCILLOSCOPE / 示波器;

(4) POWER ON/OFF TESTER / 電源開關(guān)測試儀;

三. 測試條件:

(1). 輸入電壓: 115Vac/230Vac 輸出負(fù)載: 滿載.

(2). ON/OFF時(shí)間: ON 5秒/ OFF 5秒ON/OFF CYCLE：AT LEAST 5000 CYCLE.

(3). 環(huán)境溫度: 室溫.

四、測試方法:

(1). 連接待測品到電源開/關(guān)測試儀及電源. (115Vac和230Vac &滿載, 或依客戶規(guī)格執(zhí)行)

(2). S.M.P.S OFF 5秒及ON 5秒為一周期,總共測試周期: 5000 CYCLES.

(3). 測試過程中每完成1000周期時(shí),記錄產(chǎn)品的輸入功率和輸出電壓.

(4). 待試驗(yàn)結(jié)束后,確定待測品在試驗(yàn)前后電氣性能是否有差異.

五、注意事項(xiàng):

測試過程中或測試完成階段, 待測品都需能正常操作且不應(yīng)有任何性能降低情況發(fā)生.

21.元件溫升測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在規(guī)格操作環(huán)境, 電壓, 頻率和負(fù)載條件時(shí), 元件的溫升狀況.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). HYBRID RECORDER / 混合記錄儀(DR130);

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三. 測試條件:

依SPEC. 規(guī)定: 輸入電壓AC LINE, 頻率FREQUENCY, 輸出負(fù)載LOAD 及環(huán)境溫度.

四、測試方法:

(1). 依線路情況先確定溫升較高的元件, 后用溫升線粘貼所確定的元件.

(2). 依規(guī)格設(shè)定好測試條件(AC LINE AND OUTPUT LOAD) 再開機(jī), 并記錄輸入功率和輸出電壓.

(3). 用混合記錄儀HYBRID RECORDER 記錄元件的溫升曲線, 待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結(jié)果,并記錄輸入功率和輸出電壓.

五、注意事項(xiàng):

(1). 溫升線耦合點(diǎn)應(yīng)盡量貼著元件測試點(diǎn), 溫升線走勢應(yīng)盡量避免影響S.M.P.S 元件的散熱.

(2). 測試的樣品應(yīng)模擬其實(shí)際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài).

(3). 針對于無風(fēng)扇( NO FAN)的產(chǎn)品, 測試時(shí)應(yīng)盡量避免外界風(fēng)流動對它的影響.

22. 高溫操作測試

一、目的:

測試高溫環(huán)境對S.M.P.S. 操作過程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀

三. 測試條件:

(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸出負(fù)載(FULL LOAD) 和操作溫度OPERATION TEMP (通常為溫度: 40℃);

(2). 試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs.

四、測試方法:

(1). 將待測品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測試條件, 然后開機(jī);

(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度,然后啟動溫控室;

(3). 定時(shí)記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常;

(4). 做完測試后回溫到室溫,再將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下至少恢復(fù)4小時(shí).

五、注意事項(xiàng):

(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

23. 高溫高濕儲存測試

一、目的:

測試高溫高濕儲存環(huán)境對S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀

三. 測試條件:

儲存高溫高濕條件: 通常為溫度70±2℃, 濕度90-95% 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況;

(2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動溫控室;

(3). 試驗(yàn)24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs,再確認(rèn)待測品外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

24. 低溫操作測試

一、目的:

測試低溫環(huán)境對S.M.P.S. 操作過程中的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC.要求: 輸入條件(RATED VOLTAGE), 輸出負(fù)載(FULL LOAD) 和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為:(0℃).

(2). 試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs.

四、測試方法:

(1). 將待測品置于溫控室內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測試條件, 然后開機(jī).

(2). 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度,然后啟動溫控室.

(3). 定時(shí)記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常;

(4). 做完測試后將待測品從溫控室中移出, 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時(shí),然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無異常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

25-32

25.低溫儲存測試

一、目的:

測試低溫儲存環(huán)境對S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu), 元件及整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

儲存低溫條件: 通常為溫度-30℃, 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動溫控室.

(3). 試驗(yàn)24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs, 再將待測品做HI-POT 測試, 記錄測試結(jié)果, 之后確認(rèn)待測品的外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

26. 低溫啟動測試

一、目的:

測試低溫儲存環(huán)境對S.M.P.S. 的整機(jī)電氣的影響, 用以考量S.M.P.S. 電氣及零件選用的合理性.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三. 測試條件:

儲存低溫條件: 通常為操作溫度0℃ 條件下降低到-10 ±2℃, 儲存時(shí)間至少4Hrs.

四、測試方法:

(1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動溫控室.

(3). 試驗(yàn)溫度儲存至少4Hrs, 然后分別在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機(jī)各20 次, 確認(rèn)待測品電氣性能是否正常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 在產(chǎn)品性能測試期間或測試之后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度.

27. 溫度循環(huán)測試

一、目的:

測試針對S.M.P.S. 所有組成零件的加速性測試, 用來顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問題.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

操作溫度條件: 通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃(濕度: 50-90%), 試驗(yàn)至少24個(gè)循環(huán).

四、測試方法:

(1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率, 輸出電壓及HI-POT 狀況.

(2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi), 以無包裝,非操作狀態(tài)下.

(3). 設(shè)定溫度順序?yàn)?6±2 ℃保持1小時(shí), 33±2 ℃和濕度90±2%保持1小時(shí), -40±2 ℃保持1小時(shí), 25±2 ℃和濕度50±2%保持30分鐘,為一個(gè)循環(huán).

(4). 啟動恒溫恒濕機(jī), 然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形, 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程,

(5). 試驗(yàn)完成后, 溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機(jī)中移出, 放置樣品在空氣中4Hr 再確認(rèn)外觀, 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.

28. 冷熱沖擊測試

一、目的:

測試高, 低溫度沖擊對S.M.P.S. 的影響,用來揭露各組成元件的弱點(diǎn).

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). TEMP. CHAMBER / 溫控室;

(5). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC. 要求: 儲存最高(70℃), 低溫度(-30℃), 測試共10 個(gè)循環(huán), 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為<2min;

(2). 依客戶所提供的試驗(yàn)條件.

四、測試方法:

(1). 在溫控室內(nèi)待測品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤1Hr.

(2). 溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時(shí)間為2min., 并高溫烘烤1Hr.

(3). 在高溫70 ℃ 和低溫-30 ℃ 之間循環(huán)10 個(gè)周期后, 溫度回到常溫將S.M.P.S. 取出(至少恢復(fù)4小時(shí)).

(4). 確認(rèn)待測品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測試前的差異.

五、注意事項(xiàng):

(1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象.

(2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.

(3). 產(chǎn)品為非操作條件.

28. 冷熱沖擊測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下, 是否產(chǎn)生電弧ARCING, 其CUT OFF CURRENT 是否滿足SPEC. 要求, 及是否會對S.M.P.S.造成損傷.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

依SPEC. 要求: 耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA) 值;

四、測試方法:

(1). 依SPEC. 設(shè)定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE, 操作時(shí)間TIME, CUT OFF CURRENT 值.

(2). 將待測品與耐壓測試儀依要求連接, 進(jìn)行耐壓測試, 觀察是否有產(chǎn)生電弧ARCING, 及漏電流CUT OFF CURRENT 是否過大.

(3). 耐壓測試后, 確認(rèn)待測品輸入功率與輸出電壓是否正常.

五、注意事項(xiàng):

(1). 測試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測試儀的測試條件, 待測品的輸入與輸出分別應(yīng)與測試儀接觸良好.

(2). 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求.

30. 跌落測試

一、目的:

了解S.M.P.S. 由一定高度, 不同面進(jìn)行跌落DROP, 其結(jié)構(gòu), 電氣等特性的變化狀況.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

依SPEC. 要求: 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面.

四、測試方法:

(1). 所有待測品需先經(jīng)過電氣上的測試及目視檢查，以保證測試前沒任何可見的損壞存在.

(2). 確定六個(gè)面(小-大)順序依次進(jìn)行跌落.

(3). 使待測品由規(guī)定的高度及項(xiàng)(2) 所確定的測試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落, 每跌落一次均須對其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn),記錄正?；虍惓＝Y(jié)果.

31.絕緣阻抗測試

一、目的:

測量待測物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER / 功率表;

(4). HI-POT TESTER / 高壓測試儀;

三. 測試條件:

(1). 依SPEC. 要求: 施加500V直流電壓后進(jìn)行測試的絕緣阻抗值要高10MOhm(常規(guī)定義).

四、測試方法:

(1). 確認(rèn)好電氣性能后, 在絕緣阻抗測試儀中設(shè)定好施加的電壓(500Vdc)和測試的時(shí)間(1 Minute).

(2). 將待測物輸入端和輸出端分別短路連接, 然后分別連接測試儀對應(yīng)端進(jìn)行測試.

(3). 再將待測物輸入端和外殼之間分別與測試儀對應(yīng)端連接進(jìn)行測試.

(4). 確認(rèn)待測物的測試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.

五、注意事項(xiàng):

(1). 阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義.

32. 額定電壓輸出電流測試

一、目的:

測試S.M.P.S. 在AC LINE 及OUTPUT VOLT. 一定時(shí), 其輸出電流值.

二. 使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE / 交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

三. 測試條件:

四、測試方法:

(1). 固定輸入電壓與頻率,依條件設(shè)定CV 模式下的輸出電壓.

(2). 開機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值.

(3). 切換輸入電壓與頻率,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值.

(4). 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值.

五、注意事項(xiàng):

記錄輸出電流值前待測品電流值需穩(wěn)定.