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以SURGE測試中通訊端口防護(hù)器件損壞為例,進(jìn)行損壞機(jī)理等分析說明

電磁兼容EMC ? 來源:電磁兼容EMC ? 作者:電磁兼容EMC ? 2020-10-14 15:51 ? 次閱讀
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1.引言

獨(dú)學(xué)而無友,則孤陋而寡聞。

本文以SURGE測試中通訊端口防護(hù)器件損壞為例,進(jìn)行損壞機(jī)理分析、不同測試方法帶來的影響分析、不同應(yīng)用場景的測試方法選擇,以及SURGE防護(hù)設(shè)計(jì)中的注意點(diǎn)等內(nèi)容進(jìn)行分析說明。

2.背景介紹

某機(jī)車控制器的通訊端口進(jìn)行±1KV等級的SURGE測試,出現(xiàn)通訊端口防護(hù)器件TVS管損壞情況。

3.系統(tǒng)組網(wǎng)

組網(wǎng):某機(jī)車控制器(EUT),通過CAN通訊線與AE設(shè)備連接,互連線長度10m;

測試端口:CAN端口,±1KV,阻抗42Ω;

端口防護(hù)說明:EUT側(cè)CAN端口TVS管防護(hù)①;AE側(cè)CAN端口TVS管防護(hù)②;EUT側(cè)15V電源對地跨接電容C和TVS管③;AE側(cè)對地?zé)o跨接防護(hù)④;

端口注入方法:斷開與AE相連的CAN-H和CAN-L,但A-GND保持與AE設(shè)備相連。

接地說明:CAN參考地為A-GND,AE設(shè)備的通訊參考與電源的參考地為A-GND,AE由EUT的DC15V供電,DC15V的參考地為P-GND。測試組網(wǎng)如圖1所示。

圖1組網(wǎng)圖

實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象:在多次SURGE測試中發(fā)現(xiàn), EUT端口TVS管被打壞,但并不是每次試驗(yàn)都能復(fù)現(xiàn),試驗(yàn)次數(shù)越多,越容易復(fù)現(xiàn)。

4.TVS管損壞的機(jī)理分析

4.1SURGE干擾的路徑分析

CAN電路的參考地為A-GND,AE設(shè)備的電源參考地為A-GND ,EUT的15V電源地為P-GND,因EUT的DC15V給AE進(jìn)行供電,使得A-GND與P-GND進(jìn)行了互連,且P-GND對PE有跨接TVS管和電容,使得SURGE噪聲沿著低阻抗路徑流到大地。

SURGE噪聲干擾路徑:SURGE發(fā)生器→CDN的Zin→通訊TVS1管→通訊線地線Zline→電源地線Zline→對PE跨接電容C1和TVS3管→PE,如下圖2所示。

圖2SURGE噪聲回路示意圖

4.2SURGE噪聲頻譜分析

4.2.1SURGE的波形

根據(jù)IEC61000-4-5 2019標(biāo)準(zhǔn)中SURGE的典型開路電壓波形參數(shù)為1.2/50us。參見圖3所示:

圖3 SURGE發(fā)生器開路電壓波形

4.2.2SURGE的頻譜特性分析

IEC61000-4-5中描述SURGE的BW帶寬是指頻域波形的下降沿斜率開始達(dá)到-60dB/十倍頻程時(shí)的頻率帶寬。SURGE電壓波形波前時(shí)間短,包含的頻帶較寬,SURGE的BW達(dá)到了2MHz,但主要能量集中在頻率較低的頻段,幅值頻譜分析表明SURGE呈現(xiàn)低頻特征(50KHz→-40dB),參見圖4所示。

圖4 Voltage surge (1,2/50 μs): spectral response with ?f = 3,333 kHz

4.3TVS 管損壞分析

4.3.1TVS管損壞模式

TVS管損壞模式有兩種:

(1)單次能量超過額定功率

TVS的標(biāo)稱功率是極短時(shí)間內(nèi)對TVS 施加的單次脈沖能量,施加的噪聲波形能量大于額定功率時(shí),會導(dǎo)致TVS管過流燒毀,呈現(xiàn)短路失效模式。

(2)積累的能量超過上限值

實(shí)際測試中施加的噪聲波形通常是重復(fù)地出現(xiàn),使得短時(shí)間積累的能量超過上限值,TVS管就會損壞,呈現(xiàn)短路失效模式。

4.3.2TVS管中的SURGE電流分析

(1)TVS管參數(shù)對比

TVS1和TVS2管型號均為PESD1CAN,其Ipp為3A,20uf脈沖功率為200W,50us脈寬功率約為130W;TVS3管的型號為SD05C,其Ipp為24A,20uf脈沖功率為350W,50us的脈沖脈寬功率約為210W。TVS3的功率和通流能力優(yōu)于TVS1。TVS參數(shù)表參見表1。

表1 TVS規(guī)格參數(shù)表

(2)噪聲回路參數(shù)

根據(jù)圖3的路徑分析及表1參數(shù)表,可計(jì)算出回路阻抗參數(shù)參見下表2。

表2 回路阻抗參數(shù)

符號 參數(shù) 線路阻抗
(在TVS1管最大3A下進(jìn)行計(jì)算)
含義
Zin 42Ω 2Ω差模+40Ω共模 信號線注入阻抗
Zline 3.1Ω Zline=10m*1uH/m*2π*50KHz=3.1Ω 線路阻抗1uH/m
Zc1 32Ω Zc1=1/(2π*50KHz*0.1uf=31.8Ω 對地跨接電容C1,噪聲頻率50KHz
ZTVS1 23.3Ω ZTVS1=70V/3A=23.3Ω,型號PESD1CAN(NXP) CAN電路保護(hù)TVS管
ZTVS3 2.7Ω ZTVS3=8V/3A=2.7Ω,型號SD05C 對地跨接TVS

(3) 回路SURGE電流計(jì)算:

在TVS1管最大3A阻抗條件下計(jì)算分析:

Isurge=Vsurge/(Zin+ZTVS1// ZTVS1+2*Zline+Zc1//ZTVS3)=16A

在TVS1管短路失效條件下計(jì)算:

Isurge= Vsurge/(Zin+2*Zline+Zc1//ZTVS3)=19.7A

SURGE噪聲在回路中的電流范圍在16A~19.7A之間,流過CAN-H和CAN-L的TVS管電流各為8A-9.85A左右,超過了TVS1的最大Ipp(3A),但小于TVS3的Ipp(24A)。從計(jì)算分析可知,TVS1承受超額SURGE電流,有較大的損壞風(fēng)險(xiǎn)。

4.4實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證

4.4.1TVS管阻抗測定

萬用表對TVS1和TVS 3管進(jìn)行實(shí)驗(yàn)前后的阻抗測定,參見表3。

在多次實(shí)驗(yàn)后,TVS1管的阻抗越來越小,最終失效短路。

表3 TVS管阻抗測定

TVS1 TVS3
試驗(yàn)次數(shù) 阻抗值 試驗(yàn)次數(shù) 阻抗值
實(shí)驗(yàn)前 開路 實(shí)驗(yàn)前 開路
一次SURGE實(shí)驗(yàn) 65Ω 一次SURGE實(shí)驗(yàn) 開路
二次SURGE實(shí)驗(yàn) 16Ω 二次SURGE實(shí)驗(yàn) 開路
三次SURGE實(shí)驗(yàn) 0.1Ω 三次SURGE實(shí)驗(yàn) 開路

4.4.2SURGE實(shí)驗(yàn)波形抓取

SURGE實(shí)測噪聲回路電流峰值19.2A,脈寬55.3us,CAN-H和CAN-L的TVS1管個(gè)分流9.6A,與理論計(jì)算相匹配,驗(yàn)證分析的準(zhǔn)確性。實(shí)測波形參見圖5。

圖5 回路噪聲電流

4.5TVS管損壞的機(jī)理分析小結(jié)

(1)15V參考地P-GND與CAN的參考地A-GND連接到一起,使得SURGE噪聲可以通過P-GND的對地跨接流到大地;

(2)SURGE的噪聲帶寬可達(dá)到2MHz,但一般能量集中在低頻段50KHz左右;

(3)TVS管損損壞模式有兩種,超額定或多次能量疊加導(dǎo)致的短路損壞,本文為典型超額定而導(dǎo)致的RVS管損壞。

(4)噪聲回路的SURGE電流理論計(jì)算與實(shí)測相對應(yīng),結(jié)合理論計(jì)算可幫助產(chǎn)品在前期理論模型階段的防護(hù)器件設(shè)計(jì)選型。

5.從產(chǎn)品端解決方案分析

綜合以上分析,從產(chǎn)品端解決CAN通訊口TVS管損壞問題,就是要改變噪聲回路阻抗分布。方法有三種,參見表4。

表4 整改設(shè)計(jì)方法分析表

整改設(shè)計(jì)方法 可落地措施 備注
提高TVS管的耐流能力 將TVS1管替換成TVS3 結(jié)電容變大17pf→350pf,會影響通訊信號質(zhì)量
提高P-GND與PE的阻抗 去掉對地跨接TVS管
將TVS管變?yōu)?MΩ電阻
地電位差防護(hù)變差
噪聲回路的線路去耦 線路地線去耦 改變通訊地阻抗,有共地阻抗風(fēng)險(xiǎn)

6.從測試端解決方案分析

SURGE測試不同實(shí)驗(yàn)方法如下表5所示。

表5不同的測試方法

業(yè)界對CAN、485、232等通訊電路是否為平衡線對有不同的看法,導(dǎo)致使用不同的CDN,產(chǎn)生不同的測試結(jié)果。

(1)對稱線的定義:

差模到共模轉(zhuǎn)換損耗大于20DB的平衡對線,一般由芯片廠家確定。

(2)CND非對稱注入:

A-GND進(jìn)行了去耦,老板標(biāo)準(zhǔn)中為20mH,50KHz阻抗為6.28KΩ,回路SURGE電流為約0.3A,TVS管正常工作。

(3)CND對稱注入

標(biāo)準(zhǔn)中沒有對A-GND是否連接進(jìn)行說明,然而一般A-GND實(shí)驗(yàn)時(shí)時(shí)默認(rèn)連接的,只對對稱線線進(jìn)行注入實(shí)驗(yàn)。

A-GND不接:SURGE回路噪聲電流為0.15A左右。

A-GND接:與初始測試結(jié)果一直,無改善。

(4)組網(wǎng)CAN端口直接注入

通過組網(wǎng)連接,使得AE設(shè)備對SURGE噪聲電流分流,但每個(gè)TVS管子電流約為4.8A,超過最大Ipp,存在損壞風(fēng)險(xiǎn)。

綜上對測試方法的說明,解決方案有二:

不接A-GND,進(jìn)行CDN注入;

按照非對稱進(jìn)行注入;

7.不同測試方法的應(yīng)用分析

各企業(yè)在SURGE的非屏蔽通訊端口測試中,以IEC61000-4-5為基礎(chǔ),進(jìn)行了各自的適應(yīng)性測試方法改善。主要有三種方式,參見表6所示。

表6 SURGE 非屏蔽通訊端口測試方法

EMC測試要結(jié)合產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用場景,來定制適合的測試方法,才能真正的在設(shè)計(jì)端規(guī)避產(chǎn)品的使用風(fēng)險(xiǎn),三種測試方法的應(yīng)用場景如下:

①利用CDN的共模阻抗,進(jìn)行非組網(wǎng)的通訊端口注入測試

主要應(yīng)用在低要求場合,只要防護(hù)器件不損壞就可以,如二次供水。

②利用CDN的共模阻抗,進(jìn)行組網(wǎng)的通訊端口注入測試

主要應(yīng)用在高要求,考量系統(tǒng)對SURGE的抗擾性,而非單體產(chǎn)品本身,要求通訊不能出錯(cuò),如生產(chǎn)線。

③按照標(biāo)準(zhǔn)推薦,將CDN串入通訊線中進(jìn)行測試

將EUT與AE進(jìn)行隔離,主要為認(rèn)證測試的應(yīng)用。

8.思考與啟示

(1)TVS管損壞原因?yàn)樵肼暬芈纷杩惯^低,使得SURGE電流過大,TVS管超限值而損壞,可以選用功率大而結(jié)電容相對較小的TVS管;

(2)增大對PE的阻抗,可以去掉跨接TVS管,或減小跨接電容,或串跨接電阻等方法,提升阻抗值,使得SURGE電壓大部分加在跨接阻抗上;

(3)產(chǎn)品設(shè)計(jì)要進(jìn)行噪聲路徑分析和SURGE電流估算,指導(dǎo)阻抗分配與器件的選型。

需要結(jié)合產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用場景,來選擇測試方法,不要完全照搬標(biāo)準(zhǔn)要求,而缺乏系統(tǒng)化分析。

責(zé)任編輯:xj

原文標(biāo)題:浪涌測試中通訊端口TVS管損壞機(jī)理分析

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