400G/800G光電器件測(cè)試方案

目前400G/800G光模塊或元器件、光子集成芯片和器件等高性能光電元器件在現(xiàn)代超大容量光纖骨干網(wǎng)絡(luò)、云計(jì)算數(shù)據(jù)中心、高速移動(dòng)通信系統(tǒng)等領(lǐng)域中發(fā)揮著不可替代的作用，其帶寬、幅度響應(yīng)、相位響應(yīng)等頻率響應(yīng)參數(shù)決定了整個(gè)設(shè)施系統(tǒng)的通信容量上限，而帶寬發(fā)展的最新趨勢(shì)正在從67 GHz向110 GHz演進(jìn)。

羅德與施瓦茨(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“R&S”公司)公司和蘇州六幺四科技聯(lián)合推出的頻域參數(shù)測(cè)試方案——GOCA-110 通用光電元器件分析儀與R&S矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀協(xié)同工作，能夠幫助用戶(hù)快速、可靠地實(shí)現(xiàn)110 GHz寬頻帶光電元器件多維頻率響應(yīng)參數(shù)測(cè)量，助力用戶(hù)實(shí)現(xiàn)高效率高質(zhì)量的研發(fā)與生產(chǎn)。

該方案集成電-光、光-電、光-光三類(lèi)元器件的頻域參數(shù)測(cè)量，測(cè)量頻率最高可達(dá)110 GHz，測(cè)量波長(zhǎng)覆蓋C波段 / L波段 / 1310 nm?？蓪?shí)現(xiàn)用戶(hù)對(duì)于直調(diào)激光器、電光調(diào)制器、光電探測(cè)器、光微環(huán)、光柵等光電芯片、器件和模塊的測(cè)量，支持S參數(shù)、截止頻率、差分/共模參數(shù)、延時(shí)參數(shù)、交調(diào)/互調(diào)參數(shù)、噪聲系數(shù)等關(guān)鍵數(shù)據(jù)的獲取，適用于光電元器件研發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用的整個(gè)周期鏈。方案已應(yīng)用于華為、海思光電子、之江實(shí)驗(yàn)室、國(guó)家創(chuàng)新中心等單位。

測(cè)試系統(tǒng)方案構(gòu)成

o R&S 110 GHz矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(ZNA系列)

o GOCA-110 光電底座

方案優(yōu)勢(shì)：

o 覆蓋電-光、光-電、光-光三種光學(xué)器件性能參數(shù)測(cè)試

o 具有極低的噪聲、較高的電功率精確度和校準(zhǔn)精度

o 波長(zhǎng)分辨率1 fm(125 kHz @ 1550 nm)

o 帶寬可達(dá)110 GHz

o 各模塊可根據(jù)生產(chǎn)、測(cè)試需求定制

o 最大程度簡(jiǎn)化用戶(hù)操作

o 高測(cè)試效率

典型指標(biāo)：

o 測(cè)試波長(zhǎng)覆蓋：C波段 / L波段 / 1310 nm;其他波段可定制

o 支持外置光源

o 測(cè)試頻率：10 MHz ~ 110 GHz

o 幅度不確定度(典型值)：±1.8 dB

o 相位不確定度(典型值)：±2.3°

測(cè)試原理：

GOCA-110通用光電元器件分析儀采用“微波光子技術(shù)”，突破了傳統(tǒng)方法對(duì)測(cè)量分辨率和相位精確度的限制。通過(guò)寬帶電-光、光-電轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)微波頻譜掃描向光波光譜掃描的映射;配合電-光、光-電和光-光校準(zhǔn)技術(shù)，輔以高精度的微波幅相接收，實(shí)現(xiàn)大帶寬、高精度、高分辨率的電-光、光-電和光-光元器件頻譜響應(yīng)測(cè)試。在頻率分辨率、幅度準(zhǔn)確度、相位精確度和動(dòng)態(tài)范圍等關(guān)鍵參數(shù)上，均完成大幅度提升，實(shí)現(xiàn)技術(shù)突破。

典型測(cè)試案例

1、E/O器件測(cè)量：

典型待測(cè)件：110 GHz電光調(diào)制器

測(cè)量結(jié)果：

2、O/E器件測(cè)量：

典型待測(cè)件：110GHz高速光電探測(cè)器

測(cè)量結(jié)果：

3、O/O器件測(cè)量：

典型待測(cè)件：光波分復(fù)用器

測(cè)量結(jié)果：

GOCA系列通用光電元器件分析儀由專(zhuān)用光電底座和R&SZNA、ZNB等系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀協(xié)同構(gòu)成，不僅可實(shí)現(xiàn)電器件參數(shù)分析，還可實(shí)現(xiàn)用戶(hù)對(duì)于直調(diào)激光器、電光調(diào)制器、光電探測(cè)器、光微環(huán)、光柵等光電芯片、器件和模塊的測(cè)量，支持S參數(shù)、截止頻率、差分/共模參數(shù)、延時(shí)參數(shù)、交調(diào)/互調(diào)參數(shù)、噪聲系數(shù)等關(guān)鍵數(shù)據(jù)的獲取，適用于光電元器件研發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用的整個(gè)周期鏈。

羅德與施瓦茨是測(cè)試與測(cè)量、系統(tǒng)與方案、網(wǎng)絡(luò)與網(wǎng)絡(luò)安全領(lǐng)域的知名供應(yīng)商。公司成立已超過(guò)85年，總部設(shè)在德國(guó)慕尼黑，在全球70多個(gè)國(guó)家設(shè)有子公司。作為一家獨(dú)立的科技集團(tuán)，羅德與施瓦茨創(chuàng)新性的產(chǎn)品和解決方案為全球工業(yè)客戶(hù)提供了一個(gè)更安全與互聯(lián)的世界。

審核編輯：湯梓紅