芯片測(cè)試是每一顆芯片進(jìn)入市場(chǎng)前的必經(jīng)環(huán)節(jié)。和消費(fèi)類芯片不同，汽車芯片對(duì)安全性、可靠性有著更嚴(yán)苛的標(biāo)準(zhǔn)，自然也對(duì)測(cè)試提出了更高的要求，這不僅關(guān)乎用戶體驗(yàn)，更關(guān)乎用戶安全，因而至關(guān)重要。季豐電子推出車規(guī)級(jí)專線測(cè)試服務(wù)，以期滿足客戶對(duì)于芯片功能、性能、品質(zhì)等多方面的要求。專注于三溫CP，三溫FT，三溫SLT以及量產(chǎn)老化測(cè)試領(lǐng)域，旨在全面提升芯片測(cè)試能力，為車規(guī)級(jí)芯片保駕護(hù)航。

*CP測(cè)試目的：

CP測(cè)試，英文全稱Chip Probing，對(duì)Wafer進(jìn)行電性功能測(cè)試，挑選出好die，可以減少封裝和測(cè)試的成本，也可以透過Wafer的良率，檢查fab廠制造的工藝水平，起到監(jiān)控的目的。

*FT測(cè)試目的：

FT測(cè)試，英文全稱Final Test，即在芯片封裝完成后，通過分選機(jī)和測(cè)試機(jī)的配合使用，對(duì)芯片功能和電參數(shù)性能進(jìn)行的一系列測(cè)試。這一般是芯片出廠前的最后一道攔截，以保證芯片性能和功能滿足要求。

*SLT測(cè)試目的：

SLT測(cè)試，英文全稱System Level Test，模擬終端使用場(chǎng)景中對(duì)被測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試，純粹通過運(yùn)行和使用來完成測(cè)試，測(cè)試時(shí)間一般超過一分鐘，甚至可能長(zhǎng)達(dá)數(shù)十分鐘之久。

*量產(chǎn)老化測(cè)試目的：

量產(chǎn)老化測(cè)試，英文全稱Burn in test

這種老化測(cè)試一般是對(duì)車規(guī)級(jí)類別芯片在FT結(jié)束后放入高溫環(huán)境中洗個(gè)澡，并加上高壓，這樣幾個(gè)小時(shí)就相當(dāng)于過了幾周，然后再進(jìn)行測(cè)試，不好的淘汰掉，好的進(jìn)行出貨，這個(gè)高溫環(huán)境測(cè)試過程稱為老化測(cè)試。 硬件齊全 專業(yè)保證

季豐電子三溫CP測(cè)試車間擁有千級(jí)無塵車間面積3000+平方米，F(xiàn)T測(cè)試車間擁有萬(wàn)級(jí)無塵車間面積8000+平方米，車間已通過ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證。

CP測(cè)試車間配備AOI（Camtek Eagle series）、Prober有Opus SH系列&SLT系列等設(shè)備，可滿足6寸、8寸、12寸產(chǎn)品-55°~200°三溫測(cè)試需求，年產(chǎn)能可達(dá)40萬(wàn)片。

FT測(cè)試車間配備鴻勁HT1028C、HT7080B、Cohu Rasco2000T、SRM F208、SRM Z208、SRMF248、Vitrox TR3000Si等知名品牌分選機(jī)，滿足-65℃~175℃的三溫測(cè)試要求，年產(chǎn)能可達(dá)2億顆產(chǎn)品。

測(cè)試機(jī)主要配備ADVANTEST V93000 CTH&STH、V93000EXA、TERADYNE J750HD&ETS-88、Chroma3380P、Accotest8200、Accotest8200動(dòng)態(tài)測(cè)試、Accotest8200PMOS、Accotest8300、Juno DTS1000等主流測(cè)試機(jī)。

季豐電子

上海季豐電子股份有限公司成立于2008年，致力于集成電路及相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)的軟硬件及設(shè)備研發(fā)與專業(yè)技術(shù)服務(wù)，為客戶提供一站式的綜合解決方案。公司的四大業(yè)務(wù)版塊包括：基礎(chǔ)技術(shù)中心、硬件軟件方案、特種封裝測(cè)試、儀器設(shè)備研發(fā)。

季豐電子通過國(guó)家級(jí)專精特新“小巨人”、國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)、上海市“科技小巨人”、研發(fā)機(jī)構(gòu)、公共服務(wù)平臺(tái)等企業(yè)資質(zhì)認(rèn)定，通過了ISO9001、ISO17025、CMA、CNAS等認(rèn)證。公司員工規(guī)模超過700人，總部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地設(shè)有分公司。