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新硅聚合實現6英寸光學級硅基高均勻性鈮酸鋰薄膜的工程化制備

MEMS ? 來源:異質集成XOI技術 ? 2023-06-09 09:43 ? 次閱讀
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上海微系統(tǒng)所異質集成XOI課題組孵化的上海新硅聚合半導體有限公司(簡稱:新硅聚合)近期實現了6英寸的光學級硅基高均勻性鈮酸鋰薄膜(LNOI)的工程化制備。如圖1(a)為所制備的6 inch LNOI薄膜照片,得益于LN與Si襯底之間良好的鍵合工藝,所制備的6 inch LNOI無孔洞,劃傷等缺陷。圖1(b)為所制備的600 nm 6 inchLNOI 產品薄膜厚度mapping圖。

測試結果表明,其薄膜厚度平均值為600.1 nm,薄膜厚度面內極差(Range,膜厚最大值與最小值之差)僅為8.93 nm,計算得到的膜厚不均勻性為±0.7%,顯示出極好的薄膜均勻性,可為高均勻性光學器件的制備提供優(yōu)異的異質晶圓基礎。

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圖1(a)高均勻性6 inch晶圓級硅基鈮酸鋰薄膜照片;(b)高均勻性6 inch晶圓級硅基鈮酸鋰薄膜厚度測試圖

基于所制備的薄膜鈮酸鋰材料,實現了高Q值微環(huán)諧振器的制備。圖2(a)為微環(huán)諧振器光鏡圖,圖2(b)為微環(huán)諧振器測試結果,其QL值可達1.99×106。

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圖2(a)LN微環(huán)諧振器光鏡圖;(b)LN微環(huán)諧振器1550 nm波長附近傳輸圖譜測試結果

除了硅基鈮酸鋰薄膜晶圓外,團隊開發(fā)了多種鈮酸鋰異質襯底的制備技術,如SiC,藍寶石和石英等。這些新型鈮酸鋰薄膜異質襯底結構可用于新型高性能光學器件以及5G聲學諧振器和濾波器的制備。圖3為相應的晶圓襯底結構示意圖及對應的晶圓級鈮酸鋰薄膜照片。多種新型襯底鈮酸鋰薄膜的制備,可進一步豐富鈮酸鋰薄膜的應用場景。

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圖3(a)6 inch 碳化硅基LN薄膜結構及照片;(b)4 inch藍寶石基LN薄膜結構及照片;(c)4 inch石英基LN薄膜結構及照片

其中,SiC基鈮酸鋰薄膜結構可用于5G通信中的高頻大帶寬聲表面波濾波器的制備。圖4為基于SiC基鈮酸鋰薄膜所制備的高頻大帶寬濾波器的測試結果。濾波器中心頻率達到了4.88 GHz,3 dB帶寬高達408 MHz,插入損耗僅為0.96dB,帶外抑制為26 dB,顯示出應用于5G中高頻段的巨大潛力。

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圖4 SiC基LN薄膜SAW濾波器測試結果

未來,新硅聚合將更進一步致力于高品質壓電、光電薄膜的研發(fā)和量產化,為廣大國內外客戶提供優(yōu)質的產品與服務。





審核編輯:劉清

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原文標題:新硅聚合實現6英寸光學級硅基高均勻性鈮酸鋰薄膜的工程化制備

文章出處:【微信號:MEMSensor,微信公眾號:MEMS】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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