|| 前言
作者一直覺(jué)得,善待和重視每個(gè)產(chǎn)品。產(chǎn)品簡(jiǎn)單,但是背后隱藏的東西卻很多。量產(chǎn)近十年的產(chǎn)品,因?yàn)槿毙締?wèn)題也不得不改版。盡管不想改,但是市場(chǎng)供應(yīng)非常嚴(yán)峻。那既然這樣,就正確一次到位,當(dāng)然在市場(chǎng)面前發(fā)現(xiàn)一次到位幾無(wú)可能。因?yàn)閺?fù)雜系統(tǒng),缺一種芯片和缺十種芯片最終是一樣的,都無(wú)法有效生產(chǎn)出貨。
改板出來(lái),變化有點(diǎn)大了,改板的話也就沒(méi)有改多少,cpu換了,電源全部換了,業(yè)務(wù)芯片全換了,增加了fpga,電源架構(gòu)相比上板也基本全變了。除了產(chǎn)品大的架構(gòu),基本上和新產(chǎn)品一樣。
這不變化最大的其實(shí)最沒(méi)有引起注意的是,之前業(yè)務(wù)芯片是一顆負(fù)責(zé)兩路,新的芯片是一顆負(fù)責(zé)一路,然后就翻番了;然后spi從過(guò)去的1驅(qū)8改為1驅(qū)16了,因?yàn)樾酒呔€尺寸也同時(shí)完全翻番(業(yè)務(wù)芯片QFN封裝且外圍電路高壓低壓配置一應(yīng)俱全,單元電路面積較大)。

然后作者就覺(jué)得這事懸了,提出過(guò)優(yōu)化拓?fù)涞暮袈曇庖?jiàn)在群情激奮大干快干的口號(hào)中也被淹沒(méi)了。
但是信號(hào)質(zhì)量饒過(guò)誰(shuí),這不就翻車了。


|| 正文
信號(hào)回溝不可怕,時(shí)鐘回溝就有點(diǎn)要老命了。正常情況我們是杜絕時(shí)鐘邊沿上有回溝,特別是在非穩(wěn)定區(qū)間及臨界點(diǎn)上的回溝,更是絕不接受的。

事已至此,說(shuō)啥都是虛的,作者提倡實(shí)際行動(dòng)走起來(lái)!
邊仿邊測(cè)是王道,只仿不測(cè)是高手,只測(cè)不仿要么是高手(已經(jīng)完全從理論經(jīng)驗(yàn)積累上杜絕了),只測(cè)不仿要么是渣渣(太過(guò)于沉迷淺顯的認(rèn)知理解了)。
分析
實(shí)際走線已看過(guò),長(zhǎng)得有點(diǎn)超出我的想象了,而且是一驅(qū)16啊,負(fù)載容性效應(yīng),走線寄生效應(yīng)及反射疊加。近端的質(zhì)量可想而知了,現(xiàn)在唯一的意思希望是提升驅(qū)動(dòng)力看看能否明顯好轉(zhuǎn)點(diǎn)。
當(dāng)然很不幸,驅(qū)動(dòng)力已經(jīng)是最大等級(jí)了。


分析設(shè)計(jì)
作者認(rèn)為需要出大招了,上buffer。上buffer干嘛,縮短有效傳輸路徑,增加驅(qū)動(dòng)能力解決邊沿時(shí)間過(guò)長(zhǎng)及反射明顯影響。

器件有了,該搞拓?fù)淞?。拓?fù)涫莻€(gè)啥,就是連連看。


仿真結(jié)果

需要說(shuō)明下,仿真過(guò)程中我們并沒(méi)有使用實(shí)際器件模型,都是使用友商相應(yīng)模型代替評(píng)估。仿真和實(shí)際測(cè)試結(jié)果偏差稍大點(diǎn)原因如下:
驅(qū)動(dòng)電流達(dá)不到實(shí)際處理器輸出12mA驅(qū)動(dòng),驅(qū)動(dòng)電流最大10mA;
示波器探頭影響,盡管測(cè)試中已經(jīng)使用有源探頭進(jìn)行測(cè)試;


修改拓?fù)浜?,buffer輸出段業(yè)務(wù)芯片上的時(shí)鐘信號(hào)。信號(hào)質(zhì)量明顯去除回溝且邊沿時(shí)間裕量較大。

|| 總結(jié)
作者一直認(rèn)為存在即合理,其實(shí)在出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)候已經(jīng)想到十多年前復(fù)雜通訊系統(tǒng)班上的jtag鏈接菊花鏈方式,但是很不幸使用的芯片不支持,但是芯片支持through模式,可以省卻部分網(wǎng)絡(luò)走線例如片選、多組輸入。但是距離這種菊花鏈拓?fù)溥€是多了點(diǎn)復(fù)雜程度需要考慮注意。

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原文標(biāo)題:|| 總結(jié)
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時(shí)鐘信號(hào)測(cè)試有回溝怎么辦?測(cè)試點(diǎn)位置與芯片DIE分析
運(yùn)放做比較器時(shí)輸出高低電平上出現(xiàn)了過(guò)沖和回溝
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時(shí)鐘信號(hào)回溝與測(cè)試點(diǎn)位置有關(guān)嗎
請(qǐng)問(wèn)時(shí)鐘信號(hào)回溝與測(cè)試點(diǎn)位置有關(guān)嗎?
簡(jiǎn)析上電過(guò)程中的上電回溝
用運(yùn)放做比較器使用時(shí)輸出高低電平上出現(xiàn)了過(guò)沖和回溝,如何消除?
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