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低電壓標準組件庫操作設計方案

M31 Technology ? 2023-09-08 11:04 ? 次閱讀
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摘要

在現(xiàn)今低功耗的時代,「續(xù)航力」往往是各大公司產(chǎn)品競爭力的一大重點,因此IC設計公司將省電設計視為開發(fā)重點,在眾多方法中,降低操作電壓是最優(yōu)先考慮的方法之一,針對此需求,M31提出低電壓標準組件庫操作設計方案,能確保標準組件在低壓條件下能正常操作。

低電壓標準組件庫設計之挑戰(zhàn)

當操作電壓降低時,制程變異量(process variation)增大,標準組件庫在設計時,面臨以下兩大挑戰(zhàn):

電路內(nèi)部訊號變異量(Internal signal variation)

當操作電壓降低時,電路內(nèi)部訊號變異量增大,進而產(chǎn)生誤動作,以往為了解決此問題,低電壓的驗證仰賴蒙地卡羅(Monte-Carlo)模擬以及硅后(post-silicon)的量測,然而蒙地卡羅的模擬驗證,必須達到一定的采樣數(shù)量(sampling number),才能確認是否能達到預定的西格馬(sigma)值,采樣數(shù)量不足將導致硅后量測的結果與模擬不一致,易造成開發(fā)時程冗長且耗時。

模塊精準度(Modeling accuracy)

標準電壓操作下,在輸入轉(zhuǎn)換(input slew)訊號線性遞增時,電路的延遲時間(delay time)也會呈線性遞增,模塊只需提供幾個固定轉(zhuǎn)換(slew)訊號的電路延遲時間,靜態(tài)時序分析(Static timing analysis, STA),就能透過內(nèi)差公式計算出不同轉(zhuǎn)換訊號的電路延遲時間,然而操作電壓下降時,電路的延遲時間將呈現(xiàn)非線性遞增的狀態(tài),此時內(nèi)差公式計算的延遲時間值,跟實際的值產(chǎn)生落差,導致使用者無法使用精確的延遲時間驗證。


低電壓標準組件庫電路設計及辦法

縮短蒙地卡羅的模擬驗證時間

M31導入快速蒙地卡羅模擬工具,并且針對不同電路,制定設計標準(criteria),在蒙地卡羅的驗證下,定義變異系數(shù)σ/μ必須小于10%,確保內(nèi)部訊號變化量不會超出10%,提升開發(fā)效率以及電路在低電壓操作下的穩(wěn)定性。

電路的關建路徑不采用組件最小寬度(device min. width)

組件(device)的寬度(width)越小,制程變異量越大,因此低電壓操作的標準組件庫電路,在關鍵的傳遞路徑(criticalpath)將不采用最小寬度的組件,確保內(nèi)部訊號的變異量能維持較為理想的狀態(tài)。

采用多指組件(Multi-fingerdevice)

操作在低電壓時,制程變異量增大,如果采用多指組件時,能將變異量分散到各個組件,此時單指組件的最差變異量(worstvariation),不會發(fā)生在多指組件中,進而減低制程變異量,如圖1。

wKgZomT6jRCAVjAhAAAlzc-8s-I648.png

圖1單指/多指組件

采用堆棧閘(stack gate)正反器

傳統(tǒng)傳輸閘正反器(transmission gate, TG),由兩組栓鎖器(latch)所組成,當頻率訊號正源觸發(fā)時,由于操作電壓降低,導致頻率訊號轉(zhuǎn)換(transition)時間拉長,兩組栓鎖器同時打開,內(nèi)部節(jié)點對抗(fighting)時間拉長,并且由于電壓降低,第1組栓鎖器儲存的訊號1電壓較低,在對抗期間,第2組栓鎖器的訊號0會寫回去第1組栓鎖器,造成電路誤動作,如圖2所示。

為了解決以上問題,M31在低電壓設計中,采用堆棧閘正反器,將傳輸閘更改為堆棧閘,當頻率訊號正源觸發(fā)時,由于采用堆棧式架構,第2組栓鎖器的內(nèi)部節(jié)點沒有路徑可以寫回第2組栓鎖器,故堆棧閘正反器相較于傳統(tǒng)傳輸閘正反器,操作電壓較低。

wKgZomT6jRCAapn_AAHkWHXLLXM710.png

圖2傳統(tǒng)傳輸閘正反器低電壓操作波形

模塊精準度

M31提供標準組件庫的漏電(leakage)、延遲時間(delaytime)、功率(power)….等模塊,描述電路特性,以利用戶進行靜態(tài)時序分析(StaticTimingAnalysis,STA),針對延遲時間,模塊會提供不同轉(zhuǎn)換(slew)的輸入訊號(e.g. 7個點)的延遲時間,STA會利用內(nèi)差公式,計算出不同轉(zhuǎn)換輸入訊號的電路延遲時間,在標準電壓操作下,延遲時間會根據(jù)不同的轉(zhuǎn)換輸入訊呈線性遞增,然而當操作在低電壓時,延遲時間已不在是線性遞增,此時將導致內(nèi)差公式得出的值,偏離實際值,如圖3所示。

wKgaomT6jRCAElFNAAEh-_WccaI808.png

圖3不同轉(zhuǎn)換(slew)的電路延遲時間

為了解決以上問題,M31在不同轉(zhuǎn)換輸入訊號點與點之間的范圍(range),利用相關性(correlate)公式,式1,將線性內(nèi)差公式得出的值與實際值進行比對,越接近1代表關聯(lián)性越高,模塊越精確,當小于0.9時,M31會在此范圍多提供1組轉(zhuǎn)換輸入訊號的電路延遲時間在模塊里,進而提升模塊的精準度,如表1所示。

wKgaomT6jRCAGfN8AAAJr4BwnAg528.png

…………………………………………………………………...式1

表1相關性(correlate)改善結果

CORRELATE

old

proposed

Range1

0.999988

0.999301

Range2

0.999339

0.997777

Range3

0.99927

0.997204

Range4

0.99779

0.995099

Range5

0.987776

0.998314

Range6

0.853581

0.986981

總結

相對于標準電壓,低電壓標準組件庫的設計,面臨了制程變異以及模塊的精準度等挑戰(zhàn),皆是設計者必須進一步考慮要點。M31提出了縮短開發(fā)時程、組件/電路低電壓操作改善方法以及提升低電模塊精準度方案,能提供具競爭力的低電壓標準組件庫。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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