MOS管噪聲計算方法

噪聲是電路設(shè)計和性能評估中的一個關(guān)鍵問題，特別是在高頻率和低功耗應(yīng)用中。MOSFET是一種廣泛應(yīng)用于各種電路的半導(dǎo)體器件。因此，正確計算MOS管噪聲是非常重要的。本文將介紹MOSFET噪聲的來源和計算方法。

噪聲來源

在MOSFET中，主要有兩種噪聲源：導(dǎo)體噪聲和本底噪聲。

導(dǎo)體噪聲是由通道載流子的隨機運動、復(fù)合和注入產(chǎn)生的。在MOSFET的源極電阻和通道電阻中產(chǎn)生熱噪聲。

本底噪聲是由于雜質(zhì)、缺陷和熱擾動引起的。這種噪聲在半導(dǎo)體器件中是固有的。

在MOSFET中，導(dǎo)體噪聲主要是由源極電阻和通道電阻的熱噪聲引起的。因此，可以通過降低這些電阻來降低導(dǎo)體噪聲。本底噪聲則很難消除，但可以盡量減少。

MOSFET噪聲計算方法

總噪聲

在MOSFET中，總噪聲可以表示為：

半導(dǎo)體噪聲和熱噪聲的統(tǒng)計分布通常是高斯分布，因此，可以使用均方根值（RMS）來表示噪聲。因此，總噪聲可以表示為：

其中，次平方噪聲和sh（VGS）和sn（VDS）分別表示MOSFET上門電壓和漏極電壓的噪聲系數(shù)。MOSFET的總噪聲可以通過有效為到達(dá)MOSFET的熱噪聲和半導(dǎo)體噪聲之和來計算。

熱噪聲

在MOSFET中，熱噪聲可以由非直線電阻的Johnson噪聲表示。對于線性電阻，Johnson噪聲的密度可以表示為：

其中，k是玻爾茲曼常數(shù)，T是溫度（開爾文），R是電阻（歐姆）。

對于非線性電阻，可以使用下式來計算噪聲密度：

其中，g（V）是電導(dǎo)度，V是電壓。

對于MOSFET中的源極電阻和通道電阻，可以將其視為線性電阻，因此可以使用上述方程來計算熱噪聲。

半導(dǎo)體噪聲

半導(dǎo)體噪聲主要源于Won（ω，T）的Langevin噪聲源。在MOSFET中，半導(dǎo)體噪聲可以通過下式表示：

其中，W is帶寬，T是溫度（開爾文），ID是MOSFET的電流，F(xiàn)n（V）和Fp（V）分別是電子和空穴噪聲密度函數(shù)。

Fn（V）和Fp（V）由以下方程給出：

其中，Eg是禁帶寬度，k是Boltzmann常數(shù)，T是溫度，ni是MOSFET中的本征載流子密度，ε是MOSFET的介電常數(shù)。這些常數(shù)的的值可以從廠商手冊中找到。

除了以上方程，還需要使用一些其他的數(shù)據(jù)來計算MOSFET的總噪聲。這些數(shù)據(jù)包括MOSFET的尺寸，工藝，溫度等參數(shù)。對于特定的MOSFET，可以在廠商手冊中找到這些參數(shù)的值。

總結(jié)

MOSFET是一種廣泛應(yīng)用于各種電路中的半導(dǎo)體器件。在MOSFET的電路設(shè)計和性能評估中，正確計算MOS管噪聲是非常重要的。本文介紹了MOSFET噪聲的來源和計算方法，其中涉及了熱噪聲和半導(dǎo)體噪聲的計算。通過正確計算MOS管噪聲，可以更好地設(shè)計和評估MOSFET電路的性能。