來源：德思特測(cè)量測(cè)試德思特分享丨一文帶你了解ADC測(cè)試參數(shù)有哪些？

一文帶你了解ADC測(cè)試參數(shù)有哪些

模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）是數(shù)字電子系統(tǒng)中重要組成部分，用于捕獲外部世界的模擬信號(hào)，如聲音、圖像、溫度、壓力等，并將它們轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)01, 以供計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理分析。ADC芯片在出廠交付之前，需要對(duì)產(chǎn)品的性能做各種測(cè)試，尤其對(duì)于要求可靠性和安全性較高的行業(yè)，諸如航空航天、醫(yī)用醫(yī)療、汽車電子等應(yīng)用領(lǐng)域，都需要對(duì)ADC芯片做嚴(yán)苛的性能測(cè)試驗(yàn)證。

ADC測(cè)試參數(shù)主要包括靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)。靜態(tài)參數(shù)主要表示ADC實(shí)際測(cè)量的輸出曲線和理想輸出曲線的關(guān)系，而動(dòng)態(tài)參數(shù)著重分析ADC的頻譜特性。

1****靜態(tài)測(cè)試常見參數(shù)

DNL：對(duì)于給定的輸入范圍，ADC輸出之間的步進(jìn)量誤差，用于衡量實(shí)際輸出碼和理想輸出碼的差距。

INL：積分非線性，整個(gè)輸入范圍內(nèi)的非線性誤差，即真實(shí)與理想情況下碼寬誤差的累計(jì)。

Offset：積分非線性，整個(gè)輸入范圍內(nèi)的非線性誤差，即真實(shí)與理想情況下碼寬誤差的累計(jì)。

Gain：增益誤差。輸出全是1時(shí)，對(duì)應(yīng)的實(shí)際電壓和理想電壓之差。

TUE：在考慮所有誤差來源的情況下，評(píng)估轉(zhuǎn)換器的整體性能。

Missing code：輸出范圍中未被轉(zhuǎn)換器所表示的編碼值。

圖1. ADC靜態(tài)參數(shù)測(cè)試

2****動(dòng)態(tài)測(cè)試常見參數(shù)

THD：總諧波失真，轉(zhuǎn)換過程中非線性引起的諧波失真。

SNR：信噪比，輸出信號(hào)與內(nèi)部噪聲之比。

SFDR：無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍，就是基頻信號(hào)不存在額外雜散分量的最大范圍。

ENOB：實(shí)際有效位數(shù)。在噪聲和失真存在的情況下，ADC實(shí)際可達(dá)到的位數(shù)。

圖2. ADC動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試

3****德思特ADC測(cè)試解決方案

圖3. 德思特ADC測(cè)試臺(tái)架ATX7006A

目前針對(duì)ADC芯片的性能測(cè)試，表現(xiàn)出朝著高采樣率、高精度等性能參數(shù)測(cè)試的發(fā)展趨勢(shì)。

德思特提供完整的ADC測(cè)試解決方案，能夠測(cè)試8-24位的ADC芯片，功能測(cè)試涵蓋幾乎所有典型的性能參數(shù)測(cè)試（包括靜態(tài)參數(shù)測(cè)試和動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試）。 我們采用緊湊型模塊化集成的ATE測(cè)試硬件臺(tái)架，配套專用的測(cè)試分析軟件ATView和WaveAnalyzer，給您提供ADC測(cè)試交鑰匙解決方案。

德思特ADC測(cè)試平臺(tái)特點(diǎn)

? 完全集成的ADC測(cè)試解決方案

? 采樣頻率高達(dá)200/400 MHz

? 無(wú)與倫比的信號(hào)發(fā)生質(zhì)量和精度

? 支持所有線性/動(dòng)態(tài)測(cè)試

? 靈活和通用的數(shù)字IO

? 擴(kuò)展分析軟件ATViewWaveAnalyzer

? 靜態(tài)、直方圖測(cè)試

? 易于用戶自定義的測(cè)試腳本

圖4. 德思特ADC測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)

圖5. 德思特ADC測(cè)試配套軟件ATView 7006

審核編輯 黃宇