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underfill工藝常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案

漢思新材料 ? 2024-04-09 15:45 ? 次閱讀
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underfill工藝常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案

Underfill工藝是一種集成電路封裝工藝,用于在倒裝芯片邊緣點(diǎn)涂環(huán)氧樹(shù)脂膠水,通過(guò)“毛細(xì)管效應(yīng)”完成底部填充過(guò)程,并在加熱情況下使膠水固化。該工藝在緩解芯片封裝中不同材料之間熱膨脹系數(shù)不匹配帶來(lái)的應(yīng)力集中問(wèn)題,提高器件封裝可靠性方面起著重要作用。

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Underfill工藝在實(shí)際應(yīng)用中可能會(huì)遇到一些常見(jiàn)問(wèn)題,主要包括:

空洞問(wèn)題:

流動(dòng)型空洞:這種空洞是在底部填充膠流經(jīng)芯片和封裝下方時(shí)產(chǎn)生,流動(dòng)波陣面的前沿可能會(huì)包裹氣泡而形成空洞。

水氣空洞:這類空洞通常發(fā)生在底部填充膠固化時(shí)遇上基板除氣排出的水氣的情況,尤其在有機(jī)基板中更為常見(jiàn)。

流體膠中氣泡產(chǎn)生空洞:對(duì)流體膠材料的處理不當(dāng)或從供應(yīng)商處收到流體膠材料后又對(duì)它進(jìn)行重新分裝可能會(huì)引入氣泡。

沾污空洞:助焊劑殘?jiān)蚱渌廴驹匆部赡芡ㄟ^(guò)多種途徑產(chǎn)生空洞。

氣泡問(wèn)題:膠水固化后可能產(chǎn)生氣泡,這通常是由于水蒸氣造成。

針對(duì)以上問(wèn)題,可以采取的解決方案:

在點(diǎn)膠過(guò)程中避免加熱,確保膠水完全滲透到整個(gè)封裝結(jié)構(gòu)后再進(jìn)行固化。

在點(diǎn)膠前烘烤板子,使膠水充分回溫,以避免氣泡的產(chǎn)生。

對(duì)于錫球周圍產(chǎn)生的空洞問(wèn)題,可以通過(guò)預(yù)熱板子來(lái)加快膠水的流動(dòng)速度,但同時(shí)確保空氣有足夠的時(shí)間排出。

需要注意的是,Underfill工藝的可靠性受多種因素影響,包括膠水的材料特性、工藝參數(shù)、設(shè)備精度等。因此,在實(shí)際應(yīng)用中,需要根據(jù)具體情況調(diào)整和優(yōu)化工藝參數(shù),以確保封裝質(zhì)量和可靠性。同時(shí),對(duì)于復(fù)雜和先進(jìn)的封裝結(jié)構(gòu),可能需要采用更高級(jí)的工藝技術(shù)和設(shè)備來(lái)滿足更高的要求。

此外,隨著封裝技術(shù)的不斷發(fā)展,對(duì)于Underfill工藝的研究也在不斷深入。例如,對(duì)于新型封裝材料、新型膠水的研究,以及對(duì)于工藝參數(shù)的精確控制等,都在為提高Underfill工藝的可靠性和效率做出貢獻(xiàn)。

總的來(lái)說(shuō),雖然Underfill工藝在實(shí)際應(yīng)用中可能會(huì)遇到一些問(wèn)題,但通過(guò)合理的工藝參數(shù)調(diào)整和優(yōu)化的設(shè)備使用,可以有效地解決這些問(wèn)題,確保封裝質(zhì)量和可靠性。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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