觸摸測試控制

設(shè)置組件的觸摸測試類型。ArkUI開發(fā)框架在處理觸屏事件時(shí)，會(huì)在觸屏事件觸發(fā)前，進(jìn)行按壓點(diǎn)和組件區(qū)域的觸摸測試來收集需要響應(yīng)觸屏事件的組件，然后基于觸摸測試結(jié)果分發(fā)相應(yīng)的觸屏事件。hitTestBehavior屬性可以設(shè)置不同的觸摸測試響應(yīng)模式，影響組件的觸摸測試收集結(jié)果，最終影響后續(xù)的觸屏事件分發(fā)，具體影響參考[HitTestMode]枚舉說明。

說明：

• 從API Version 9開始支持。后續(xù)版本如有新增內(nèi)容，則采用上角標(biāo)單獨(dú)標(biāo)記該內(nèi)容的起始版本。
• 當(dāng)Stack組件中有多個(gè)節(jié)點(diǎn)觸摸區(qū)域重疊時(shí)，如兩個(gè)節(jié)點(diǎn)，默認(rèn)只會(huì)對(duì)顯示在最上層的節(jié)點(diǎn)做觸摸測試，若需要顯示在下層的節(jié)點(diǎn)觸發(fā)觸摸測試，請(qǐng)給顯示在上層的節(jié)點(diǎn)設(shè)置hitTestBehavior為HitTestMode.Transparent。

屬性

HitTestMode枚舉說明

示例

Text組件設(shè)置hitTestBehavior為HitTestMode.Transparent，不會(huì)阻塞內(nèi)層Stack的觸摸測試，因此Text和內(nèi)層Stack的onTouch事件都會(huì)觸發(fā)。
內(nèi)層Stack設(shè)置hitTestBehavior為HitTestMode.Block，會(huì)阻塞子節(jié)點(diǎn)和外層Button進(jìn)行觸摸測試，因此內(nèi)層Button和外層Button組件不會(huì)響應(yīng)onTouch事件。

// xxx.ets
@Entry
@Component
struct HitTestBehaviorExample {
  build() {
    // outer stack
    Stack() {
      Button('outer button')
        .onTouch((event) = > {
          console.info('outer button touched type: ' + event.type)
        })
      // inner stack
      Stack() {
        Button('inner button')
          .onTouch((event) = > {
            console.info('inner button touched type: ' + event.type)
          })
      }
      .width("100%").height("100%")
      .hitTestBehavior(HitTestMode.Block)
      .onTouch((event) = > {
        console.info('stack touched type: ' + event.type)
      })

      Text('Transparent')
        .hitTestBehavior(HitTestMode.Transparent)
        .width("100%").height("100%")
        .onTouch((event) = > {
          console.info('text touched type: ' + event.type)
        })
    }.width(300).height(300)
  }
}

審核編輯 黃宇