Texas Instruments AFE3256 256通道模擬前端 (AFE) 設(shè)計(jì)用于滿足基于平板檢測(cè)器 (FPD) 的數(shù)字X射線系統(tǒng)的要求。AFE3256具有256個(gè)集成器、帶雙電源的相關(guān)雙采樣器 (CDS) 和256:2模擬多路復(fù)用器。該器件還具有兩個(gè)16位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。來(lái)自ADC的串行數(shù)據(jù)采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。
數(shù)據(jù)手冊(cè):*附件:Texas Instruments AFE3256 256通道模擬前端數(shù)據(jù)手冊(cè).pdf
TI AFE3256通常也稱為讀出集成電路 (ROIC),可使用多種功耗模式和系統(tǒng)內(nèi)調(diào)試選項(xiàng)等特性來(lái)優(yōu)化整體系統(tǒng)性能。睡眠和待機(jī)模式能夠大幅降低功耗,這對(duì)于電池供電型系統(tǒng)至關(guān)重要。
特性
- 高性能:
- 噪聲:440個(gè)電子RMS(1.2pC輸入電荷范圍)
- 低相關(guān)噪聲
- 全通道積分非線性:16位時(shí)為±2LSB
- 掃描時(shí)間:<16μs至204.8μs
- 集成:
- 256通道
- 片上、16位ADC
- 單個(gè)1.85V電源供電運(yùn)行的簡(jiǎn)單供電方案
- 多種功耗模式,功耗范圍為1mW/ch至2mW/ch
- 睡眠和待機(jī)的掉電模式
- 分箱模式支持
- 定制薄膜覆晶 (COF) 封裝
應(yīng)用
框圖
-
FPD
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
51瀏覽量
16641 -
AFE
+關(guān)注
關(guān)注
8文章
270瀏覽量
123475 -
模擬前端
+關(guān)注
關(guān)注
3文章
242瀏覽量
30767
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
AFE3256用于數(shù)字X射線平板檢測(cè)器的256通道模擬前端數(shù)據(jù)表

AFE2256適用于數(shù)字X射線平板檢測(cè)器的256通道模擬前端數(shù)據(jù)表

DDC3256 256通道、電流輸入模數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)據(jù)表

AFE1256用于數(shù)字X射線平板探測(cè)器的256通道模擬前端數(shù)據(jù)表

AFE5804完全集成的8通道模擬前端數(shù)據(jù)表

AFE5818 16通道超聲波模擬前端數(shù)據(jù)表

AFE2257適用于數(shù)字X射線平板檢測(cè)器的256通道模擬前端數(shù)據(jù)表

AFE0064一款64通道模擬前端數(shù)據(jù)表

AFE0256一款256個(gè)通道模擬前端(AFE)數(shù)據(jù)表

AFE5832 32通道模擬前端評(píng)估模塊用戶指南

Texas Instruments AFE159x 4通道24位模擬前端(AFE)數(shù)據(jù)手冊(cè)
Texas Instruments AFE11612EVM 評(píng)估模塊(EVM)數(shù)據(jù)手冊(cè)

評(píng)論