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無法接觸頂部反饋電阻時的環(huán)路響應測量方案

analog_devices ? 來源:亞德諾半導體 ? 2025-10-07 14:03 ? 次閱讀
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為使電源穩(wěn)定,需要一定的增益和相位裕量。通常,電源若具有至少45°的相位裕量和至少10 dB的增益裕量,便可視為穩(wěn)定。為了測量這些值,通常要在 VOUT節(jié)點和頂部反饋電阻之間插入一個小電阻,然后在這個增加的電阻兩端施加一個擾動信號,并在期望的頻率范圍內測量環(huán)路響應。如果用戶能夠接觸到頂部反饋電阻,這種常規(guī)方法會很簡便,因此很常用。

但是,如果用戶無法接觸模塑模塊內的頂部反饋電阻,該如何測量環(huán)路響應?如果器件不需要頂部反饋電阻,而是使用輸出電壓檢測引腳,又該如何測量環(huán)路響應?對于這兩個問題,通過比較常規(guī)測量方法和新型測量方法的環(huán)路響應波特圖,可以給出解答。

頂部反饋電阻位于何處?

如圖1所示,測量環(huán)路響應的常規(guī)方法是在 VOUT節(jié)點和頂部反饋電阻之間插入一個小值電阻。只有用戶可以接觸到頂部反饋電阻時,才能使用這種方法。

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圖1. 原理圖:使用LT8608測量環(huán)路響應時,需要外加電阻。

許多電源模塊的頂部反饋電阻位于電源封裝內部,無法接觸。若將頂部反饋電阻硬連線到VOUT節(jié)點,則輸出電壓絕不會超過反饋電阻分壓器設定的電壓。如果頂部反饋電阻不是硬連線,在降壓型穩(wěn)壓器中,一旦該電阻連接不當或發(fā)生故障,則VOUT節(jié)點電壓可能會升高到與輸入電壓一樣高。ADI公司的許多μModule器件都將頂部反饋電阻模塑在模塊內部,以提供額外的保護。但這樣一來,便無法用常規(guī)方法測量環(huán)路響應。圖2顯示了LTM8074及其無法接觸的頂部反饋電阻。

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圖2. 示例電路:用戶無法接觸頂部反饋電阻。

另一種特殊情況是模塊使用輸出電壓檢測引腳(VOSNS)來調節(jié)VOUT電壓。如圖3中的簡化框圖所示,由于該設置使用基準電流源,而不是通常的基準電壓源,因此沒有頂部反饋電阻。LTM4702使用該基準電流電路來調節(jié)輸出電壓。

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圖3. 顯示VOSNS電路的簡化框圖。

負載瞬態(tài)響應還是波特圖?

如果沒有辦法測量電源的環(huán)路響應,就必須完全依靠系統(tǒng)的瞬態(tài)響應來確定穩(wěn)定性。瞬態(tài)響應測試用于檢查在 VOUT節(jié)點施加負載階躍時VOUT的電壓響應。瞬態(tài)響應示例如圖4所示。根據(jù)波形,通過測量從施加負載階躍到輸出電壓開始恢復的時間,可以估算帶寬(?BW)??刂骗h(huán)路的帶寬等于該恢復時間(tr)與∏乘積的倒數(shù)。在此示例中,恢復時間約為4 μs,帶寬為80 kHz。

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圖4. 瞬態(tài)響應示例。

此外,通過觀察波形的形狀也可以評估系統(tǒng)的穩(wěn)定性。如果在波形中看到振鈴(綠色響應曲線),則表示系統(tǒng)具有欠阻尼響應。這意味著系統(tǒng)可能不穩(wěn)定,相位裕量較低。但相位裕量有多低呢?

如果波形的恢復時間相當長,則可以認為系統(tǒng)具有過阻尼響應(藍色響應曲線)。系統(tǒng)輸出電壓的恢復時間可能比預期時間要長得多。由于電壓下降持續(xù)時間超過預期,下游電路可能會受到影響。

雖然通過瞬態(tài)響應可以了解有關系統(tǒng)環(huán)路響應的一些信息,但確切的相位裕量和增益裕量只能通過測量來確定。

測量環(huán)路穩(wěn)定性的新方法

對于使用輸出電壓檢測引腳的情形,環(huán)路響應測量與常規(guī)測量方法類似。只需在 VOUT節(jié)點和 VOSNS引腳之間放置一個小值電阻即可。如圖3所示,將擾動信號施加于該電阻,然后測量環(huán)路響應。

對于頂部反饋電阻位于模塊內部而無法接觸的情形,采用新型環(huán)路測量技術時需要格外小心。如圖5所示,必須安裝一個并聯(lián)電阻分壓網(wǎng)絡,并將擾動信號置于底部反饋電阻和地之間插入的電阻上。務必使并聯(lián)電阻分壓網(wǎng)絡盡可能靠近反饋電阻網(wǎng)絡,以盡量減少誤差。

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圖5. 新型環(huán)路響應測量方法

第1步:

在R2和地之間插入20 Ω RPERT電阻。將擾動信號施加于 RPERT。

第2步:

選擇R4,其值應在500 Ω至1 kΩ范圍內。見注釋1。

第3步:

計算并聯(lián)電阻分壓網(wǎng)絡比率。n = R2/R4。

第4步:

使用第3步中的比率n計算R3和CFF2。

第5步:

重新構建包括前饋電容和電容CM的并聯(lián)電阻分壓網(wǎng)絡,以消除擾動信號帶來的附加電容的影響。見注釋2。

公式:

1. n = R2/R4

2. R3 = R1/n

3. CFF2= n × CFF1

4. CM= n × CPERT

注釋1:

選擇R4,使得R2比R4大40到100倍。這樣,由R2和R3組成的電阻網(wǎng)絡將在反饋環(huán)路的測量中起主導作用。

注釋2:

如果無法可靠地測量擾動信號的寄生電容,可以通過迭代試驗的方式,憑借經驗確定CM電容。

新型測量方法產生的環(huán)路響應與常規(guī)方法相同,如圖6所示。

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圖6. 常規(guī)測量方法和新型方法的波特圖比較。

結語

借助這種新型測量方法,用戶現(xiàn)在無需接觸頂部反饋電阻即可確定環(huán)路響應。用戶不再需要使用帶寬有限且誤差較大的低效方法,也不必僅依賴負載瞬態(tài)響應來評估環(huán)路穩(wěn)定性。

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原文標題:無法接觸頂部反饋電阻時的環(huán)路響應測量方案

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