半導(dǎo)體技術(shù)飛速發(fā)展，IC測(cè)試與驗(yàn)證的復(fù)雜性不斷增加。如今被測(cè)設(shè)備（DUT）涉及模擬、數(shù)字和混合信號(hào)領(lǐng)域，高度集成 ADC/DAC、運(yùn)放、控制環(huán)路和 DSP 等，使測(cè)試任務(wù)在精度、時(shí)序控制和功能覆蓋上變得更加復(fù)雜且要求更高。因此，傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)的配置不斷擴(kuò)大，包含示波器、波形發(fā)生器、頻譜分析儀、頻率響應(yīng)分析儀、邏輯分析儀等多個(gè)儀器，這些設(shè)備通常來(lái)自不同供應(yīng)商，自動(dòng)化程度和配置要求差異較大，工程師需要額外編寫(xiě)程序并通過(guò)電纜連接它們。雖然這種傳統(tǒng)的分立式測(cè)試方案能夠滿足當(dāng)前的測(cè)試需求，但也意味著需要投入大量配置時(shí)間、維護(hù)校準(zhǔn)精力和經(jīng)濟(jì)成本。

Moku憑借其強(qiáng)大的可重構(gòu)測(cè)試技術(shù)，集成了15+種儀器功能于一臺(tái)設(shè)備中。通過(guò)多儀器并行模式，用戶可以靈活組合不同的測(cè)試功能，支持多DUT并行測(cè)試，大大加速產(chǎn)品驗(yàn)證和測(cè)試流程。最新型號(hào)Moku:Delta擁有8個(gè)輸入/輸出通道，2GHz帶寬和超低底噪，兼具靈活性與高性能，為半導(dǎo)體IC測(cè)試與驗(yàn)證提供更精準(zhǔn)、更高效的解決方案。

Moku在半導(dǎo)體器件與IC測(cè)試驗(yàn)證中的優(yōu)勢(shì)

1. 高度集成，簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)

多種儀器功能（波形發(fā)生器、任意波形發(fā)生器、碼型發(fā)生器、頻率響應(yīng)分析儀、示波器、邏輯分析儀、頻譜分析儀等）在單一 FPGA 平臺(tái)上運(yùn)行；

無(wú)需多臺(tái)獨(dú)立儀器即可完成復(fù)雜測(cè)試，減少設(shè)備采購(gòu)、布線、參考同步及長(zhǎng)期維護(hù)與校準(zhǔn)成本；

內(nèi)置專業(yè)儀器功能（鎖相放大器、相位表、時(shí)間間隔與頻率分析儀等），滿足復(fù)雜 DUT 測(cè)試需求。

2. 優(yōu)化信號(hào)保真度與抗干擾能力

多通道 ADC/DAC（高達(dá) 8 路）實(shí)現(xiàn) DUT 信號(hào)的高保真采集與激勵(lì)；

多儀器并行模式（MiM）支持最多 8 個(gè)儀器同時(shí)運(yùn)行，儀器間數(shù)字互聯(lián)和時(shí)鐘總線設(shè)計(jì)減少物理線纜，降低噪聲、相位和時(shí)序偏差；

支持外部參考源輸入，兼顧系統(tǒng)同步靈活性。

3. 提升測(cè)試效率與自動(dòng)化能力

單一硬件平臺(tái)運(yùn)行統(tǒng)一時(shí)鐘，減少跨設(shè)備參考同步和觸發(fā)復(fù)雜度；

高度統(tǒng)一的 GUI 和 API 規(guī)范，簡(jiǎn)化自動(dòng)化測(cè)試流程，降低學(xué)習(xí)成本和開(kāi)發(fā)周期；

靈活快速部署不同儀器功能組合，減少人為錯(cuò)誤，提高測(cè)試效率。

4. 可重構(gòu)與自定義能力

FPGA 可編程性允許自定義信號(hào)處理算法，與其他儀器功能無(wú)縫結(jié)合；

隨需求迭代，可快速更新測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)配置，適應(yīng)不同 DUT 類型和測(cè)試場(chǎng)景；

支持實(shí)時(shí)分析與反饋控制（PID 控制器、數(shù)字濾波器等），提升精度和系統(tǒng)穩(wěn)定性。

5. 面向未來(lái)的多通道與高通量測(cè)試

支持多通道并行測(cè)量，滿足高通量測(cè)試需求；

降低測(cè)試時(shí)間和成本，同時(shí)保持高保真度和數(shù)據(jù)可靠性；

系統(tǒng)化解決復(fù)雜 DUT 測(cè)試和混合信號(hào)交互的挑戰(zhàn)。

市場(chǎng)活動(dòng)預(yù)告

隨著半導(dǎo)體行業(yè)對(duì)更高性能、更靈活測(cè)試儀器的需求不斷增長(zhǎng)，無(wú)論是設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)還是生產(chǎn)測(cè)試，都需要更加緊湊和高效的測(cè)試工具來(lái)提高效率。Moku一臺(tái)設(shè)備集成全面的信號(hào)生成、測(cè)試分析和控制調(diào)節(jié)功能，支持云編譯與多儀器并行，客戶可以根據(jù)需要自定義測(cè)試方案，輕松應(yīng)對(duì)復(fù)雜的測(cè)試挑戰(zhàn)。

我們即將參加以下展會(huì)，誠(chéng)邀您蒞臨現(xiàn)場(chǎng)親身體驗(yàn)Moku的強(qiáng)大功能，昊量光電的應(yīng)用工程師將為您提供一對(duì)一的技術(shù)交流，幫助您更好地理解和應(yīng)用Moku。