動態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-10-30 08:05
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發(fā)布了文章 2024-10-26 08:03
解決驗證“最后一公里”的挑戰(zhàn):芯神覺Claryti如何助力提升調(diào)試效率
在高度集成化的芯片設(shè)計領(lǐng)域,驗證是確保設(shè)計可靠性和正確性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。然而,電路的實現(xiàn)過程中難免會出現(xiàn)各種缺陷和不符合預期的行為,這時調(diào)試就顯得尤為重要。調(diào)試不僅是發(fā)現(xiàn)問題后的排查和修復步驟,更是驗證過程中必不可少的一環(huán),它幫助工程師找到問題的根源并進行優(yōu)化。隨著設(shè)計復雜性的提升,調(diào)試作為驗證的“最后一公里”正面臨越來越多的挑戰(zhàn)。如何有效提升調(diào)試效率,已成為行 -
發(fā)布了文章 2024-10-09 08:04
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發(fā)布了文章 2024-09-30 08:04
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發(fā)布了文章 2024-09-26 08:07
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發(fā)布了文章 2024-08-30 12:45
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發(fā)布了文章 2024-08-30 12:44
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發(fā)布了文章 2024-08-03 08:24
思爾芯賽題正式發(fā)布,邀你共戰(zhàn)EDA精英挑戰(zhàn)賽!
賽題發(fā)布COMPETITIONRELEASE2024中國研究生創(chuàng)芯大賽·EDA精英挑戰(zhàn)賽(原“集成電路EDA設(shè)計精英挑戰(zhàn)賽”)現(xiàn)已正式拉開帷幕。作為核心出題企業(yè)之一思爾芯(S2C),已經(jīng)為你們準備了全新的挑戰(zhàn)。今年的賽題,我們更加聚焦于數(shù)字集成電路設(shè)計的核心領(lǐng)域,直擊當前超大規(guī)模設(shè)計下硬件仿真的技術(shù)難點:設(shè)計并優(yōu)化一種高效的超圖分割算法。該技術(shù)可以加速設(shè)計驗