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卡倫測控

主營:半導(dǎo)體芯片可靠性測試設(shè)備、MEMS標(biāo)定(量產(chǎn)、工程驗證)、可靠性環(huán)境模擬試驗設(shè)備。

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動態(tài)

  • 發(fā)布了文章 2025-08-25 09:10

    什么是傳感器標(biāo)定?傳感器標(biāo)定真的如此重要嗎?

    什么是傳感器標(biāo)定?在測量技術(shù)中,傳感器標(biāo)定是指在規(guī)定條件下確定測量儀器(例如傳感器或測量系統(tǒng))輸出的具有相應(yīng)測量不確定度的測量值與使用具有相應(yīng)測量不確定度的標(biāo)準(zhǔn)建立的測量值的相應(yīng)值之間的關(guān)系的任務(wù)。測量儀器(傳感器)或測量系統(tǒng)的術(shù)語“校準(zhǔn)”有時與“調(diào)整”相混淆。調(diào)整時,調(diào)整測量系統(tǒng)的參數(shù),以便正確顯示所需的測量值。為什么傳感器標(biāo)定如此重要?標(biāo)定驗證傳感器和測
  • 發(fā)布了產(chǎn)品 2025-08-22 16:45

    氣壓標(biāo)定測試系統(tǒng),MEMS傳感器標(biāo)定

    產(chǎn)品型號:KL-2502 型號:KL-2502
    21瀏覽量
  • 發(fā)布了產(chǎn)品 2025-08-22 16:41

    溫度標(biāo)定測試系統(tǒng),MEMS傳感器標(biāo)定

    產(chǎn)品型號:KL-C100 型號:KL-C100
    14瀏覽量
  • 發(fā)布了文章 2025-08-21 09:05

    車規(guī)級電子元器件AEC-Q100認(rèn)證測試

    任何芯片在進(jìn)入生產(chǎn)階段之前,都必須通過一系列電氣、使用壽命、可靠性應(yīng)力測試。對于車規(guī)級芯片而言,產(chǎn)品測試相比工業(yè)消費級芯片要嚴(yán)格的多。車輛應(yīng)用工況涉及到不同的溫度等級,對應(yīng)不同的質(zhì)量要求??▊悳y控實驗室擁有豐富的車規(guī)電子驗證經(jīng)驗,幫助客戶預(yù)防產(chǎn)品可能發(fā)生的各種失效,引導(dǎo)零部件供應(yīng)商在開發(fā)過程中選用符合車規(guī)要求的芯片。通過AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)對每一顆芯片進(jìn)行嚴(yán)
  • 發(fā)布了產(chǎn)品 2025-08-21 08:56

    線體式MEMS傳感器測試校準(zhǔn)設(shè)備

    產(chǎn)品型號:KL-MEMS-CAL1700 型號:KL-MEMS-CAL1700
    20瀏覽量
  • 發(fā)布了產(chǎn)品 2025-08-21 08:54

    單站式MEMS傳感器測試校準(zhǔn)設(shè)備

    產(chǎn)品型號:KL-MEMS-CAL1600 型號:KL-MEMS-CAL1600
    16瀏覽量
  • 發(fā)布了產(chǎn)品 2025-08-21 08:52

    MEMS傳感器標(biāo)定測試設(shè)備

    產(chǎn)品型號:KL-MEMS-CAL1900 型號:KL-MEMS-CAL1900
    22瀏覽量
  • 發(fā)布了產(chǎn)品 2025-08-21 08:50

    溫濕度傳感器測試校準(zhǔn)設(shè)備

    產(chǎn)品型號:KL-MEMS-CAL1800 型號:KL-MEMS-CAL1800
    14瀏覽量
  • 發(fā)布了文章 2025-08-20 16:37

    卡倫測控:車規(guī)級電子元器件AEC-Q認(rèn)證測試

    車規(guī)級電子元器件AEC-Q認(rèn)證測試汽車電子委員會由Chrysler/Ford/GM發(fā)起并創(chuàng)立于1994年,目前會員遍及全球各大汽車廠與汽車電子和半導(dǎo)體廠商。車用電子主要依據(jù)AEC作為車規(guī)驗證標(biāo)準(zhǔn),AEC目前主要是針對車載應(yīng)用,汽車零部件,汽車車載電子實施標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,建立質(zhì)量管理控制標(biāo)準(zhǔn),提高車載電子的穩(wěn)定性和標(biāo)準(zhǔn)化。電子元器件符合AEC-Q認(rèn)證測試要求,對提升

企業(yè)信息

認(rèn)證信息: 卡倫測控

聯(lián)系人:謝先生

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地址:錫山區(qū)先鋒中路6號中國電子數(shù)字芯谷3A

公司介紹:卡倫測控技術(shù)(無錫)有限公司成立于 2011 年,公司注冊資金 2000 萬?,F(xiàn)在江蘇無錫·中國電子(無錫)數(shù)字芯谷擁有 3800 平生產(chǎn)制造基地和研發(fā)電子實驗室。全體員工通過十幾年的專業(yè)科研、高校科研成果轉(zhuǎn)化以及技術(shù)引進(jìn)合作,在試驗方法均滿足 GB、GJB、MIL、JIS、IEC、ATE、AEC 等相關(guān)試驗標(biāo)準(zhǔn)篩選要求及規(guī)定下,一直致力于可靠性環(huán)境模擬試驗設(shè)備、可靠性老化測試設(shè)備、低溫恒溫專用設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售并為客戶提供行業(yè)整體解決方案。公司產(chǎn)品分為兩大模塊。一.可靠性試驗設(shè)備,幾乎覆蓋所有電子元器件可靠性試驗,是國內(nèi)可靠性試驗設(shè)備產(chǎn)品線齊全的供應(yīng)商。設(shè)備有:芯片氣體沖擊、步入式試驗室、超快速冷熱沖擊試驗機(jī)、恒溫恒濕試驗箱、應(yīng)力篩選試驗箱、冷熱沖擊試驗設(shè)備、氣體式?jīng)_擊試驗機(jī)、液態(tài)沖擊試驗箱、耐候試驗設(shè)備、快速溫變試驗箱、高溫老化室、老化測試室、低氣壓試驗機(jī)、QUV 紫外線老化試驗機(jī)、淋雨試驗箱、沙塵試驗箱、鹽水噴霧試驗機(jī)等。二.可靠性老化測試設(shè)備,如高溫反偏老化系統(tǒng)(HTRB)、高溫高濕反偏老化系統(tǒng)(H3TRB)、間歇式功率循環(huán)試驗系統(tǒng)(IOL)、HTOL 集成電路高溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)、HAST 高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)、IGBT 模塊高溫反偏老化測試系統(tǒng)、HTGB 高溫柵反偏老化測試系統(tǒng)、高精密導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)等。

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