一、引言

　　通訊設(shè)備不斷更新，對天線的要求愈來愈高，常規(guī)遠場測量天線的方法由于實施中存在著許多困難，有時甚至無能為力，于是人們就渴望通過測量天線的源場而計算出其輻射場的方法。然而由于探頭不夠理想和計算公式的過多近似，致使這種方法未能賦于實用。為了減小探頭與被測天線間的相互影響，Barrett等人在50年代采用了離開天線口面幾個波長來測量其波前的幅相特性，實驗結(jié)果令人大為振奮，由此掀開了近場測量研究的序幕，這一技術(shù)的出現(xiàn)，解決了天線工程急待解決而未能解決的許多問題，從而使天線測量手段以新的面目出現(xiàn)在世人的面前。四十多年過去了，近場測量技術(shù)已由理論研究進入了應(yīng)用研究階段，并由頻域延拓到了時域，它不僅能夠測量天線的輻射特性，而且能夠診斷天線口徑分布，為設(shè)計提供可靠、準確設(shè)計依據(jù)；與此同時，人們利用它進行了目標散射特性的研究，即隱身技術(shù)和反隱身技術(shù)的研究，從而使該技術(shù)的研究有了新的研究手段，進而使此項研究進入了用近場測量的方法對目標成像技術(shù)的探索階段。

　　二、近場測量技術(shù)發(fā)展的過程

　　近場測量的技術(shù)研究從五十年代發(fā)展至今，其研究方向大致經(jīng)歷四個階段，如表1所示。表1 近場測量技術(shù)所經(jīng)歷的時間 1、理論研究在Barrett等人的實驗之后，Richnlond等人用空氣和介質(zhì)填充的開口波導分別測量了微波天線的近場，并把由近場測量所計算得到的方向圖與直接遠場法測得的結(jié)果相比較，其方向圖在主瓣和第一副瓣吻合較好，遠副瓣和遠場法相差較大。于是人們就分析其原因，最終歸結(jié)為探頭是非理想起點源所致，因此，出現(xiàn)了各種方法的探頭修正理論。直到1963年Karns等人提出了平面波分析理論才從理論上嚴格地解決了非點源探頭修正的問題。與此同時，Paris和Leach等人用羅侖茲互易定理也推出了含有探頭修正的平面波與柱面波展開表達式［1，2］。Joy等人也給出了含有探頭修正下的球面波展開式及其應(yīng)用［3］。至此，頻域近場測量模式展開理論已完全成熟，因此研究者的目光投向了應(yīng)用領(lǐng)域。在隨后的十年里，美國標準局（NBS）等研究機構(gòu)進行大量的實驗證明此方法的準確性［4］，其中取樣間隔、探頭型式的選擇以及誤差分析是研究者們關(guān)心的熱門問題。