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標(biāo)簽 > 半導(dǎo)體測試
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測試、芯片封裝和封裝后測試組成。半導(dǎo)體封裝測試是指將通過測試的晶圓按照產(chǎn)品型號及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。
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半導(dǎo)體封裝/模塊驗證:高低溫濕熱環(huán)境的全流程解決方案
環(huán)境變化不是問題的來源,而是讓問題暴露出來的加速器。 在芯片、功率器件、模組、傳感器等電子元件的封測過程中,溫度、濕度、氣壓的變化會對其引腳焊接、...
2025-07-14 標(biāo)簽:芯片測試試驗箱半導(dǎo)體測試 904 0
技術(shù)干貨 | ATX7006線性計算與AD/DA動態(tài)分析解析
想知道如何在ATX7006上進(jìn)行高精度線性度計算?如何通過傅里葉變換分析AD/DA轉(zhuǎn)換器的動態(tài)性能?本文詳細(xì)解析了線性計算的命令配置、結(jié)果獲取方法,以及...
2025-06-30 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測試DAC測試AD/DA 761 0
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對半導(dǎo)體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。...
2025-05-15 標(biāo)簽:試驗機(jī)可靠性測試半導(dǎo)體測試 663 0
技術(shù)干貨 | DAC頻率響應(yīng)特性解析:從sinc函數(shù)衰減到補(bǔ)償技術(shù)
本章解析DAC頻率響應(yīng)特性,探討sinc函數(shù)導(dǎo)致的信號衰減規(guī)律,對比數(shù)字濾波與模擬濾波兩種補(bǔ)償技術(shù),幫助優(yōu)化AWG模塊輸出信號的頻率平坦度,提升測試測量精度。
2025-07-09 標(biāo)簽:芯片測試半導(dǎo)體測試ADC測試 490 0
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