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標(biāo)簽 > 可靠性測(cè)試
可靠性測(cè)試就是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。
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冷熱沖擊試驗(yàn)箱為什么會(huì)出現(xiàn)冰堵現(xiàn)象?
冷熱沖擊試驗(yàn)箱按其內(nèi)箱分為兩箱式和三箱式,并不是說(shuō)其區(qū)別是兩箱和三箱,而是在于試驗(yàn)測(cè)試方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同,冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行...
2023-06-15 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱可靠性測(cè)試冷熱沖擊試驗(yàn)箱 1k 0
芯片研發(fā)環(huán)節(jié)的可靠性測(cè)試
碳化硅作為第三代半導(dǎo)體經(jīng)典的應(yīng)用,具有眾多自身優(yōu)勢(shì)和技術(shù)優(yōu)勢(shì),它所制成的功率器件在生活中運(yùn)用十分廣泛,越來(lái)越無(wú)法離開,因此使用碳化硅產(chǎn)品的穩(wěn)定性在一定程...
可靠性,是指產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下完成規(guī)定功能的能力,是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo),如果在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下產(chǎn)品失去了規(guī)定的功能,則稱之為產(chǎn)品失效或出現(xiàn)了故障...
高度加速壽命測(cè)試是什么 高度加速壽命測(cè)試技術(shù)細(xì)節(jié)
高度加速壽命測(cè)試(HALT)是一種加速的環(huán)境測(cè)試過(guò)程,用于評(píng)估和提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)和組件/材料的耐用性。產(chǎn)品的堅(jiān)固性是最終可靠性性能的直接指標(biāo)。高度加速壽命測(cè)...
2023-07-20 標(biāo)簽:傳感器自動(dòng)化系統(tǒng)監(jiān)測(cè)設(shè)備 912 0
可靠性/可用性驗(yàn)證測(cè)試FIT:定義及目的 FIT (Fault Injection Test) :故障注入測(cè)試,通過(guò)向系統(tǒng)注入在實(shí)際應(yīng)用中可能發(fā)生的故...
PCB電路板在今天的生活中發(fā)揮著重要作用。它是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路。就這一點(diǎn)而言,PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵。 要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測(cè)試...
反復(fù)短路測(cè)試測(cè)試說(shuō)明:在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮,反復(fù)多次短路,故障排除后,模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。
華為手機(jī)項(xiàng)目測(cè)試及可靠性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)分享
華為手機(jī)項(xiàng)目測(cè)試及可靠性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)分享
本文首先介紹了可靠性測(cè)試的概念與分類,其次介紹了壽命測(cè)試屬于可靠性測(cè)試及其作用,最后介紹了有效的壽命測(cè)試項(xiàng)目及壽命試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
2018-05-14 標(biāo)簽:可靠性測(cè)試 1.8萬(wàn) 0
從硬件角度出發(fā),可靠性測(cè)試分為兩類,以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測(cè)試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械類環(huán)境試驗(yàn)和安規(guī)試驗(yàn)等。
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