失效分析

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失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動。本章就機(jī)械失效分析，失效分析實驗室
失效分析流程，涂層失效分析，軸承失效分析。

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失效分析技術(shù)

淺析pcb常用的失效分析技術(shù)

PCB作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。

2018-09-23 標(biāo)簽：pcb 失效分析 3.3k 0

預(yù)鍍框架銅線鍵合的腐蝕失效分析與可靠性

集成電路預(yù)鍍框架銅線鍵合封裝在實際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)第二鍵合點失效，通過激光開封和橫截面分析，鍵合失效與電化學(xué)腐蝕機(jī)理密切相關(guān)。通過 2 000 h 高溫存儲試...

2024-11-01 標(biāo)簽：封裝可靠性分析失效分析 3k 0

IC故障診斷及失效分析:發(fā)現(xiàn)事實避免臆測

對一個復(fù)雜的設(shè)備進(jìn)行故障診斷的時候，知識儲備是最重要的。我們想要的并且需要去了解相關(guān)的一些問題。它包括正確的IC版本號，在哪里可以找到有關(guān)的參考資料，誰...

2013-08-23 標(biāo)簽：失效分析 IC故障 2.8k 0

詳解陶瓷電容的失效分析

多層片狀陶介電容器由陶瓷介質(zhì)、端電極、金屬電極三種材料構(gòu)成，失效形式為金屬電極和陶介之間層錯，電氣表現(xiàn)為受外力（如輕輕彎曲板子或用烙鐵頭碰一下）和溫度沖...

2024-01-10 標(biāo)簽：電容器陶瓷電容失效分析 2.7k 0

失效分析的一般流程失效分析的意義

熱載流子注入(熱載流子誘生的MOS器件退化是由于高能量的電子和空穴注入柵氧化層引起的，注入的過程中會產(chǎn)生界面態(tài)和氧化層陷落電荷，造成氧化層的損傷。）

2022-09-13 標(biāo)簽：IC封裝失效分析 2.7k 0

線路板的失效分析

你是否長時間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費(fèi)大量精力在樣板調(diào)試過程中?你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計?

2012-03-26 標(biāo)簽：線路板失效分析 2.6k 0

從外觀到參數(shù),芯片失效的檢測方法

眾所周知，芯片作為智能設(shè)備的“心臟”，承載核心功能；其設(shè)計復(fù)雜度與集成度提升，加之應(yīng)用環(huán)境多樣化，致失效問題凸顯，或?qū)⒊蔀閼?yīng)用工程師設(shè)計周期內(nèi)的重大挑戰(zhàn)...

2024-12-09 標(biāo)簽：芯片 SEM 失效分析 2.6k 0

二極管燒損分析案例

某門鈴在使用一段時間出現(xiàn)門鈴失效，將失效樣品剝離，發(fā)現(xiàn)二極管燒損，通過表面觀察、通電間斷性檢測、靜電擊穿、切片分析、SEM分析等手段對樣品進(jìn)行分析，發(fā)現(xiàn)...

2022-11-28 標(biāo)簽：二極管失效分析 2.4k 0

芯片封裝基本流程及失效分析處理方法

芯片封裝的目的在于對芯片進(jìn)行保護(hù)與支撐作用、形成良好的散熱與隔絕層、保證芯片的可靠性，使其在應(yīng)用過程中高效穩(wěn)定地發(fā)揮功效。

2023-04-24 標(biāo)簽：芯片集成電路封裝 2.3k 0

廣電計量|功率場效應(yīng)管過壓失效機(jī)理及典型特征分析

失效分析最常觀察到的現(xiàn)象是EOS過電失效，分為過壓失效及過流失效的兩種失效模式。對于以功率器件為代表的EOS過電失效樣品，其失效表征往往表現(xiàn)為芯片的大面...

2024-09-18 標(biāo)簽：場效應(yīng)管 MOS 失效機(jī)理 2.2k 0

三極管吸潮失效分析案例

三極管也稱為晶體三極管，它被視為電子電路中最重要的器件之一。三極管顧名思義具有三個電極，它最主要的功能是電流放大和開關(guān)作用。

2022-09-06 標(biāo)簽：三極管失效分析 PCBA 2.2k 0

FPC焊點剝離失效分析

FPC在后續(xù)組裝過程中，連接器發(fā)生脫落。在對同批次的樣品進(jìn)行推力測試后，發(fā)現(xiàn)連接器推力有偏小的現(xiàn)象。據(jù)此進(jìn)行失效分析，明確FPC連接器脫落原因。

2023-11-20 標(biāo)簽：FPC 焊點失效分析 2.1k 0

IV測試助力解芯片失效原因

在芯片這個微觀而又復(fù)雜的世界里，失效分析如同一場解謎之旅，旨在揭開芯片出現(xiàn)故障的神秘面紗。而 IV（電流-電壓）測試作為一種重要的分析手段，在芯片失效分...

2024-11-21 標(biāo)簽：芯片測試失效分析 2.1k 0

集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正...

2023-06-21 標(biāo)簽：集成電路封裝失效分析 2.1k 0

微電子器件可靠性失效分析程序

2024-11-01 標(biāo)簽：封裝可靠性分析失效分析 2k 0

季豐對存儲器芯片的失效分析方法步驟

由于存儲器中包括結(jié)構(gòu)重復(fù)的存儲單元，當(dāng)其中發(fā)生失效點時, 如何定位失效點成為存儲器失效分析中的最為重要的一步。存儲器芯片的集成度高，字線(WL)和位線(...

2024-08-19 標(biāo)簽：存儲器失效分析季豐電子 1.9k 0

怎樣進(jìn)行芯片失效分析？

失效分析為設(shè)計工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計，使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。

2023-05-13 標(biāo)簽：芯片集成電路失效分析 1.9k 0

端子引腳焊接異常分析

PCBA端子引腳焊接發(fā)生異常，通過對PCBA基板和端子進(jìn)行一系列分析，定位到問題發(fā)生的原因在于共面性不良，且端子焊接引腳與錫膏接觸程度不足導(dǎo)致。詳細(xì)分析...

2023-05-17 標(biāo)簽：連接器焊接端子 1.9k 0

電連接器使用指南

電連接器選用可靠性、驗收要求及失效分析技術(shù) ? ? ? 審核編輯：彭靜

2022-08-10 標(biāo)簽：電連接器失效分析 1.9k 0

淺談半導(dǎo)體芯片失效分析Analysis of Semiconductor Chip Failure

共讀好書失效專業(yè)能力分類元器件5A試驗介紹（中英文) ◆PFA （Physical Feature Analysis）物理特征分析 ◆DPA （D...

2024-07-17 標(biāo)簽：失效分析半導(dǎo)體芯片 1.9k 0

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