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標(biāo)簽 > 開關(guān)損耗
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STGWA30IH160DF2 IGBT器件技術(shù)解析與應(yīng)用指南
STMicroelectronics STGWA30IH160DF2 1600V IH2系列IGBT采用先進、專有的溝槽式柵極場終止型結(jié)構(gòu)打造。在軟換向...
2025-10-15 標(biāo)簽:IGBT續(xù)流二極管開關(guān)損耗 661 0
如何平衡IGBT模塊的開關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗
IGBT模塊的開關(guān)損耗(動態(tài)損耗)與導(dǎo)通損耗(靜態(tài)損耗)的平衡優(yōu)化是電力電子系統(tǒng)設(shè)計的核心挑戰(zhàn)。這兩種損耗存在固有的折衷關(guān)系:降低導(dǎo)通損耗通常需要提高載...
2025-08-19 標(biāo)簽:IGBT開關(guān)損耗導(dǎo)通損耗 1.8k 0
絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)在電機驅(qū)動和電器控制等多種工業(yè)領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。IGBT在具有更低的開關(guān)損耗的同時,還要同時具備一定的抗短路能力。短路時,如...
2025-08-07 標(biāo)簽:IGBT晶體管開關(guān)損耗 3k 0
IGBT的開關(guān)損耗特性研究對IGBT變流器設(shè)計具有重要的意義,在有結(jié)構(gòu)緊湊性要求或可靠性要求較高或散熱條件特殊的場合,都需要嚴(yán)格按器件損耗特性進行大余量...
安森美 (onsemi)的1200V 分立器件和模塊中的 M3S 技術(shù)已經(jīng)發(fā)布。M3S MOSFET 的導(dǎo)通電阻和開關(guān)損耗均較低,提供 650 V 和 ...
MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)的開關(guān)...
2024-09-14 標(biāo)簽:MOSFET半導(dǎo)體開關(guān)損耗 2.1k 0
MOSFET的操作可以分為兩種基本模式:線性模式和開關(guān)模式。在線性模式下,晶體管的柵源電壓足以使電流通過通道,但通道電阻相對較高。通道上的電壓和通過通道...
2024-06-13 標(biāo)簽:MOSFET晶體管開關(guān)損耗 2.6k 0
電源開關(guān)損耗是電子電路中一個重要的性能指標(biāo),它反映了開關(guān)器件在開關(guān)過程中產(chǎn)生的能量損失。準(zhǔn)確測量電源開關(guān)損耗對于優(yōu)化電路設(shè)計、提高系統(tǒng)效率具有重要意義。...
2024-05-27 標(biāo)簽:示波器電源開關(guān)開關(guān)損耗 2.3k 0
使用Cauer網(wǎng)絡(luò)仿真熱行為與對開關(guān)損耗影響的評估
過去,仿真的基礎(chǔ)是行為和具有基本結(jié)構(gòu)的模型,它們主要適用于簡單集成電路技術(shù)中使用的器件。但是,當(dāng)涉及到功率器件時,這些簡單的模型通常無法預(yù)測與為優(yōu)化器件...
Ton和Toff已經(jīng)接近圖二要求的時間,MOS管24V時帶載27歐,輸出功率21.3W,輸出電壓正常,MOS管基本不發(fā)熱。 總結(jié)一:MOS管發(fā)熱原因小結(jié)...
2023-12-11 標(biāo)簽:電路設(shè)計限流電阻開關(guān)損耗 1.4k 0
并網(wǎng)逆變器學(xué)習(xí)筆記5---三電平DPWM立即下載
類別:電子資料 2023-03-03 標(biāo)簽:逆變器DPWM開關(guān)損耗 809 0
FGH60N60SMD 60A600V IGBT單管在工業(yè)逆變應(yīng)用中的解決方案立即下載
類別:電子資料 2023-02-24 標(biāo)簽:IGBT單管開關(guān)損耗 528 0
IGBT數(shù)據(jù)手冊中開關(guān)損耗圖表的理解立即下載
類別:電子資料 2023-02-23 標(biāo)簽:IGBT開關(guān)損耗 544 0
類別:電子資料 2023-02-23 標(biāo)簽:IGBT開關(guān)損耗導(dǎo)通損耗 1k 0
類別:電子資料 2023-02-22 標(biāo)簽:IGBT開關(guān)損耗 606 0
類別:實用工具 2021-10-22 標(biāo)簽:開關(guān)電源電源開關(guān)開關(guān)管 1.4k 0
類別:電子資料 2021-04-16 標(biāo)簽:MOSFET開關(guān)損耗 1.4k 1
雙晶體管正激有源鉗位軟開關(guān)電源設(shè)計解析立即下載
類別:開關(guān)電源 2017-11-16 標(biāo)簽:鉗位雙晶體管開關(guān)損耗 1.1k 0
無源無損軟開關(guān)雙降壓式全橋逆變器_尹培培立即下載
類別:電源技術(shù) 2016-11-05 標(biāo)簽:軟開關(guān)無源無損開關(guān)損耗 848 0
類別:電源技術(shù) 2016-05-11 標(biāo)簽:開關(guān)損耗同步整流管驅(qū)動損耗 1.4k 0
芯干線GaN/SiC功率器件如何優(yōu)化開關(guān)損耗
在功率器件的世界里,開關(guān)損耗是一個繞不開的關(guān)鍵話題。
開關(guān)損耗是電力電子設(shè)備中的一個重要性能指標(biāo),它直接影響到設(shè)備的效率和熱管理。差分探頭作為一種高精度的測量工具,在開關(guān)損耗的測量中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。本文將介...
2024-08-09 標(biāo)簽:差分探頭開關(guān)損耗 764 0
SiC MOSFET的設(shè)計挑戰(zhàn)——如何平衡性能與可靠性
碳化硅(SiC)的性能潛力是毋庸置疑的,但設(shè)計者必須掌握一個關(guān)鍵的挑戰(zhàn):確定哪種設(shè)計方法能夠在其應(yīng)用中取得最大的成功。
2023-05-04 標(biāo)簽:MOSFETSiC開關(guān)損耗 894 0
如今的開關(guān)電源技術(shù)很大程度上依托于電源半導(dǎo)體開關(guān)器件,如MOSFET和IGBT。這些器件提供了快速開關(guān)速度,能夠耐受沒有規(guī)律的電壓峰值。同時在On或Of...
半導(dǎo)體器件并不完美——所有二極管和晶體管都因開關(guān)和導(dǎo)通而產(chǎn)生功率損耗。開關(guān)損耗發(fā)生在結(jié)的通斷狀態(tài)之間的間隔期間,此時器件端子上既有電壓又有電流流過。傳導(dǎo)...
2022-04-21 標(biāo)簽:電子設(shè)備半導(dǎo)體器件開關(guān)損耗 4.4k 0
功率損耗是開關(guān)器件性能評估的重要環(huán)節(jié),也是工程師在選配時重點關(guān)注的一項高級功能。雖然很多實驗室配備了功率損耗測量環(huán)境,對設(shè)備和探頭也投入不菲,但如果工程...
2021-12-15 標(biāo)簽:示波器探頭開關(guān)損耗 1.1k 0
一個高質(zhì)量的開關(guān)電源效率高達95%,而開關(guān)電源的損耗大部分來自開關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關(guān)器件的損耗,對于效率分析是非常關(guān)鍵的。...
2019-06-26 標(biāo)簽:開關(guān)損耗 1.1k 0
理解MOSFET開關(guān)損耗和主導(dǎo)參數(shù)
為了使MOSFET整個開關(guān)周期都工作于ZVS,必須利用外部的條件和電路特性,實現(xiàn)其在開通過程的ZVS。如同步BUCK電路下側(cè)續(xù)流管,由于其寄生的二極管或...
2012-04-12 標(biāo)簽:MOSFET開關(guān)損耗 6.3萬 1
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