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標(biāo)簽 > 開(kāi)關(guān)損耗
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MOSFET選型注意事項(xiàng)及應(yīng)用實(shí)例
MOSFET廣泛使用在模擬電路與數(shù)字電路中,和我們的生活密不可分。MOSFET的優(yōu)勢(shì)在于:首先驅(qū)動(dòng)電路比較簡(jiǎn)單。MOSFET需要的驅(qū)動(dòng)電流比 BJT則小...
在調(diào)寬狀態(tài)當(dāng)占空比較小的時(shí)候,由圖 2可知調(diào)寬橋臂MOS管Sa和Sb的驅(qū)動(dòng)信號(hào)有很長(zhǎng)一段時(shí)間處于低電平,諧振電流只能流過(guò)MOS管的體二極管。一旦諧振電流...
MOSFET開(kāi)關(guān)損耗的計(jì)算方法
MOS管在電源應(yīng)用中作為開(kāi)關(guān)用時(shí)將會(huì)導(dǎo)致一些不可避免的損耗,這些損耗可以分為兩類。
為獲得絕緣柵雙極型晶體管( IGBT)在工作過(guò)程中準(zhǔn)確的功率損耗,基于數(shù)學(xué)模型及測(cè)試,建立了 一種準(zhǔn)確計(jì)算功率逆變器損耗模型的方法。通過(guò)雙脈沖測(cè)試對(duì)影響...
近幾年主流芯片制造廠商,包括Infineon, Fuji, Mitsubishi等都相繼問(wèn)世了第七代芯片,在芯片大小,芯片厚度,飽和壓降,開(kāi)關(guān)損耗等權(quán)衡...
探討高輸出電流應(yīng)用時(shí)的注意事項(xiàng) 其1
上一篇文章介紹了輸入電壓升高時(shí)損耗增加的部分、注意事項(xiàng)及相應(yīng)的對(duì)策。本文將介紹在探討輸出電流較大的應(yīng)用時(shí)應(yīng)該注意的兩個(gè)事項(xiàng)之一。探討高輸出電流應(yīng)用時(shí)的注...
2023-02-23 標(biāo)簽:MOSFET輸出電流開(kāi)關(guān)損耗 1.3k 0
DC/DC評(píng)估篇損耗探討-同步整流降壓轉(zhuǎn)換器的開(kāi)關(guān)損耗
上一篇文章中探討了同步整流降壓轉(zhuǎn)換器的功率開(kāi)關(guān)--輸出端MOSFET的傳導(dǎo)損耗。本文將探討開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)損耗。開(kāi)關(guān)損耗:見(jiàn)文識(shí)意,開(kāi)關(guān)損耗就是開(kāi)關(guān)工...
2023-02-23 標(biāo)簽:MOSFET降壓轉(zhuǎn)換器開(kāi)關(guān)損耗 1.7k 0
通過(guò)驅(qū)動(dòng)器源極引腳將開(kāi)關(guān)損耗降低約35%
-接下來(lái),請(qǐng)您介紹一下驅(qū)動(dòng)器源極引腳是如何降低開(kāi)關(guān)損耗的。首先,能否請(qǐng)您對(duì)使用了驅(qū)動(dòng)器源極引腳的電路及其工作進(jìn)行說(shuō)明?Figure 4是具有驅(qū)動(dòng)器源極引...
2023-02-16 標(biāo)簽:驅(qū)動(dòng)器引腳開(kāi)關(guān)損耗 1.1k 0
通過(guò)驅(qū)動(dòng)器源極引腳改善開(kāi)關(guān)損耗-電路板布線布局相關(guān)的注意事項(xiàng)
本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?由于具有驅(qū)動(dòng)器源極引腳的TO-247-4L封裝和不具有驅(qū)動(dòng)器源極引腳的TO-247N封裝的引腳分配不同,因此在圖案布局時(shí)需要注意。
2023-02-09 標(biāo)簽:驅(qū)動(dòng)器電路板布線 1.1k 0
通過(guò)驅(qū)動(dòng)器源極引腳改善開(kāi)關(guān)損耗-有無(wú)驅(qū)動(dòng)器源極引腳的差異及其效果
本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?具備驅(qū)動(dòng)器源極引腳,可以消除VLSOURCE對(duì)VGS_INT的影響。?具備驅(qū)動(dòng)器源極引腳,可以提高導(dǎo)通速度。
2023-02-09 標(biāo)簽:MOSFET驅(qū)動(dòng)器引腳 1k 0
通過(guò)驅(qū)動(dòng)器源極引腳改善開(kāi)關(guān)損耗-傳統(tǒng)的MOSFET驅(qū)動(dòng)方法
MOSFET和IGBT等電源開(kāi)關(guān)器件被廣泛應(yīng)用于各種電源應(yīng)用和電源線路中。需要盡可能地降低這種開(kāi)關(guān)器件產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗,但不同的應(yīng)用其降低損耗的...
2023-02-09 標(biāo)簽:MOSFET驅(qū)動(dòng)器IGBT 1.5k 0
深度剖析開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部的各種損耗
開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部主要損耗要提高開(kāi)關(guān)電源的效率,就必須分辨和粗略估算各種損耗。開(kāi)關(guān)電源內(nèi)部的損耗大致可分為四個(gè)方面:開(kāi)關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、附加損耗和電阻損耗。這...
2023-01-29 標(biāo)簽:開(kāi)關(guān)電源開(kāi)關(guān)損耗導(dǎo)通損耗 1.3k 0
MOS管怎么用?從認(rèn)識(shí)米勒效應(yīng)、開(kāi)關(guān)損耗、參數(shù)匹配及選型入手
要比喻的話,三極管像綠皮車,MOS管像高鐵。
PFC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試方案
MOSFET/IGBT的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對(duì)開(kāi)關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上,PFC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗...
通態(tài)損耗Ps。大體來(lái)講,通態(tài)損耗等于集電極電流和IGBT管飽和壓降的乘積即:Ps=Ic*Uces。
2022-10-13 標(biāo)簽:IGBT續(xù)流二極管開(kāi)關(guān)損耗 3.2k 0
有源鉗位反激轉(zhuǎn)換器如何比傳統(tǒng)QRF運(yùn)行得更快
QRF 功率轉(zhuǎn)換器是 150W 或更低輸出功率范圍內(nèi)的低功率離線應(yīng)用的熱門選擇,原因有很多
2022-08-10 標(biāo)簽:轉(zhuǎn)換器電源轉(zhuǎn)換器開(kāi)關(guān)損耗 6.4k 0
終端區(qū)域?qū)﹂_(kāi)關(guān)損耗的物理分析
盡管硅是電子產(chǎn)品中使用最廣泛的半導(dǎo)體,但最近的研究表明它有一些局限性,特別是在高功率應(yīng)用中。帶隙是基于半導(dǎo)體的電路的一個(gè)相關(guān)因素,因?yàn)楦邘对诟邷?、電?..
2022-07-29 標(biāo)簽:MOSFET開(kāi)關(guān)損耗 1.8k 0
IGBT開(kāi)關(guān)損耗產(chǎn)生的原因與PiN二極管的正向恢復(fù)特性
大家好,這期我們?cè)倭囊幌翴GBT的開(kāi)關(guān)損耗,我們都知道IGBT開(kāi)關(guān)損耗產(chǎn)生的原因是開(kāi)關(guān)暫態(tài)過(guò)程中的電壓、電流存在交疊部分,由于兩者都為正,這樣就會(huì)釋放功...
2022-04-19 標(biāo)簽:二極管IGBT開(kāi)關(guān)損耗 5.9k 0
通過(guò)AI嵌入實(shí)現(xiàn)EV范圍提高多達(dá)12%
Pre-Switch通過(guò)將AI嵌入到FPGA中來(lái)解決這一挑戰(zhàn),該FPGA用于精確控制輔助諧振晶體管的時(shí)序,如圖1所示為S1和S2。
2021-03-16 標(biāo)簽:fpgaAI開(kāi)關(guān)損耗 9.9k 0
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