吉時(shí)利數(shù)字源表2400在二極管特性測(cè)試中的應(yīng)用

二極管作為電子電路中的基本元件之一，其特性測(cè)試對(duì)于保障電路性能和可靠性至關(guān)重要。吉時(shí)利數(shù)字源表2400是一款功能強(qiáng)大的儀器，憑借其高精度、多功能和靈活性...

2025-08-04 標(biāo)簽：二極管吉時(shí)利數(shù)字源表 507 0

基于兆易創(chuàng)新GD32G553系列MCU的單通道可編程高精度直流源表設(shè)計(jì)

本文介紹基于兆易創(chuàng)新GigaDevice的GD32G553系列MCU設(shè)計(jì)的單通道可編程高精度直流源表（Single-Channel Precision ...

2024-12-31 標(biāo)簽：mcu元器件數(shù)字源表 2.8k 0

普賽斯儀表 | 納米材料霍爾效應(yīng)/電阻率等電性能參數(shù)測(cè)試解決方案

納米材料/納米電子器件電學(xué)測(cè)試面臨的挑戰(zhàn)1、納米級(jí)尺寸性能不同于宏尺寸材料與器件狀態(tài)變化快，對(duì)測(cè)試儀器響應(yīng)速度有要求2、測(cè)試信號(hào)微弱多在樣品研發(fā)階段單位...

2024-09-12 標(biāo)簽：納米材料霍爾效應(yīng)數(shù)字源表 797 0

普賽斯儀表 | 光電探測(cè)器電性能參數(shù)測(cè)試解決方案

光電探測(cè)器光電測(cè)試光電探測(cè)器一般需要先對(duì)晶圓進(jìn)行測(cè)試，封裝后再對(duì)器件進(jìn)行二次測(cè)試，完成最終的特性分析和分揀操作，光電探測(cè)器在工作時(shí)，需要施加反向偏置電壓...

2024-09-12 標(biāo)簽：探測(cè)器數(shù)字源表光電探測(cè)器 1.9k 0

普賽斯儀表 | 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池I-V特性測(cè)試解決方案

為什么選擇數(shù)字源表來(lái)進(jìn)行鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的I-V測(cè)試?許多半導(dǎo)體和電子裝置測(cè)試都要盡可能快的輸出電壓和測(cè)量電流。整體測(cè)試時(shí)間是由充電時(shí)間、測(cè)量時(shí)間、放電...

2024-09-12 標(biāo)簽：測(cè)試數(shù)字源表測(cè)量電流 1.5k 0

普賽斯儀表 | 二極管/三極管/MOS管電性能測(cè)試解決方案

實(shí)施半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)分析的最佳工具之—是數(shù)字源表(SMU)。數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載，其高...

2024-06-06 標(biāo)簽：三極管二極管MOS管 2.9k 0

普賽斯儀表 | 氣敏電阻/壓敏電阻特性分析解決方案

利用源表SMU可以靈活的進(jìn)行電阻測(cè)量I-V測(cè)試是對(duì)待測(cè)器件(DUT)施加電壓或電流，然后測(cè)試其對(duì)激勵(lì)做出的響應(yīng)。根據(jù)待測(cè)器件(DUT)的不同，信號(hào)電平可...

2024-06-06 標(biāo)簽：壓敏電阻氣體傳感器氣敏電阻 2k 0

如何精確表征柔性電子的電學(xué)性能？

近年來(lái)，由于導(dǎo)電高分子材料研究的突破，有機(jī)材料從傳統(tǒng)的絕緣體變成可導(dǎo)電的半導(dǎo)體，柔性電子應(yīng)運(yùn)而生。柔性電子是將有機(jī)或無(wú)機(jī)材料制作在柔性可拉伸基板上的新電...

2024-06-06 標(biāo)簽：半導(dǎo)體材料數(shù)字源表柔性材料 2.5k 0

吉時(shí)利VS安捷倫數(shù)字源表選型指南：精準(zhǔn)測(cè)試的關(guān)鍵抉擇

在電子測(cè)試與測(cè)量領(lǐng)域，吉時(shí)利(Keithley)與安捷倫(Agilent)的數(shù)字源表以高精度與多功能性著稱。面對(duì)不同應(yīng)用場(chǎng)景與性能需求，如何選型成為關(guān)鍵...

2025-10-18 標(biāo)簽：安捷倫吉時(shí)利數(shù)字源表 587 0

吉時(shí)利數(shù)字源表2460：如何高效測(cè)量速度與性能優(yōu)化

吉時(shí)利2460數(shù)字源表作為高精度電子測(cè)量?jī)x器，在半導(dǎo)體測(cè)試、電源穩(wěn)定性分析等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。其核心優(yōu)勢(shì)之一在于高速響應(yīng)與精準(zhǔn)測(cè)量，以下將從技術(shù)原理、操作配...

2025-10-09 標(biāo)簽：吉時(shí)利測(cè)量?jī)x器數(shù)字源表 324 0

吉時(shí)利源表在半導(dǎo)體測(cè)試中的核心應(yīng)用解析

半導(dǎo)體技術(shù)作為現(xiàn)代電子產(chǎn)業(yè)的核心，其測(cè)試環(huán)節(jié)對(duì)器件性能與可靠性至關(guān)重要。吉時(shí)利源表（Keithley SourceMeter）憑借高精度、多功能性及自動(dòng)...

2025-09-23 標(biāo)簽：數(shù)字源表 449 0

吉時(shí)利2600B系列數(shù)字源表精準(zhǔn)賦能充放電測(cè)試

在新能源與電子測(cè)試領(lǐng)域，充放電測(cè)試是評(píng)估電池、電容器等儲(chǔ)能元件性能的核心環(huán)節(jié)。吉時(shí)利2600B系列數(shù)字源表（SMU）憑借其高精度測(cè)量、多功能集成與智能控...

2025-09-09 標(biāo)簽：充放電數(shù)字源表 99 0

吉時(shí)利2400源表操作指南

吉時(shí)利2400數(shù)字源表是一款集高精度電源與測(cè)量功能于一體的綜合測(cè)試儀器，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件測(cè)試、材料特性分析等領(lǐng)域。以下為簡(jiǎn)明操作指南，幫助用戶快速掌...

2025-09-03 標(biāo)簽：數(shù)字源表 585 0

用吉時(shí)利2450數(shù)字源表提升測(cè)試效率的實(shí)測(cè)應(yīng)用

在電子器件特性分析和功能測(cè)試領(lǐng)域，吉時(shí)利2450數(shù)字源表憑借其高精度、多功能集成和智能化操作，成為提升測(cè)試效率的利器。本文結(jié)合實(shí)測(cè)案例，探討其在實(shí)際應(yīng)用...

2025-09-03 標(biāo)簽：數(shù)字源表 358 0

吉時(shí)利2400數(shù)字源表傳感器校準(zhǔn)要點(diǎn)

一、引言 1.1介紹2400數(shù)字源表的基本功能 2400數(shù)字源表作為精密測(cè)量?jī)x器，具備直流電壓、電流源和測(cè)量功能，可輸出和測(cè)量0至±1100V的電壓與0...

2025-08-08 標(biāo)簽：傳感器數(shù)字源表 358 0

Keithley 2450數(shù)字源表納米級(jí)材料測(cè)試的精密利器

納米科技的快速發(fā)展推動(dòng)了電子器件微型化、高性能化進(jìn)程，納米材料如石墨烯、碳納米管、有機(jī)半導(dǎo)體等成為前沿研究的核心。然而，納米尺度下電學(xué)特性的精確測(cè)量面臨...

2025-07-09 標(biāo)簽：測(cè)試數(shù)字源表 335 0

吉時(shí)利數(shù)字源表2400如何用三軸隔離技術(shù)破解納米器件漏電流測(cè)試難題

隨著半導(dǎo)體工藝的不斷演進(jìn)，納米級(jí)器件（如鰭式場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FinFET）、憶阻器、量子點(diǎn)器件等）在現(xiàn)代電子技術(shù)中的應(yīng)用日益廣泛。這些器件的尺寸已縮小至幾...

2025-07-01 標(biāo)簽：數(shù)字源表納米器件 330 0