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標(biāo)簽 > 晶圓測(cè)試
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現(xiàn)代晶圓測(cè)試:飛針技術(shù)如何降低測(cè)試成本與時(shí)間
半導(dǎo)體器件向更小、更強(qiáng)大且多功能的方向快速演進(jìn),對(duì)晶圓測(cè)試流程提出了前所未有的要求。隨著先進(jìn)架構(gòu)和新材料重新定義芯片布局與功能,傳統(tǒng)晶圓測(cè)試方法已難以跟...
電子工業(yè)檢測(cè):14X變倍鏡頭微觀質(zhì)檢
面對(duì)iPhone主板上間距僅0.3mmBGA封裝芯片,傳統(tǒng)鏡頭87mm的工作距離難以貼近檢測(cè),導(dǎo)致邊緣焊點(diǎn)無法清晰成像。14X鏡頭憑借更短的工作距離,可...
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,晶圓接受測(cè)試(Wafer Acceptance Test,WAT)在半導(dǎo)體制造過程中的地位日益凸顯。WAT測(cè)試的核心目標(biāo)是確保...
在開始量產(chǎn)之前,芯片設(shè)計(jì)師會(huì)進(jìn)行設(shè)計(jì)驗(yàn)證,以確保芯片的設(shè)計(jì)滿足規(guī)格要求。這包括功能驗(yàn)證、時(shí)序驗(yàn)證和電氣驗(yàn)證等,確保芯片在理論設(shè)計(jì)上沒有問題。
LTCC/HTCC基板在晶圓測(cè)試探針卡中的應(yīng)用
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上,主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測(cè)試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測(cè)試,就是對(duì)晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測(cè),以檢測(cè)...
半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的探針卡制作及應(yīng)用
精密陶瓷基板具有優(yōu)良的電絕緣性、高導(dǎo)熱性、高附著強(qiáng)度和大的載流能力。使用溫度范圍寬,可以達(dá)到-55℃~850℃,熱膨脹系數(shù)接近于硅芯片。在多溫區(qū)測(cè)試環(huán)境...
2023-05-19 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體測(cè)試探針卡 6.6k 0
制作半導(dǎo)體產(chǎn)品的第一步,就是根據(jù)所需功能設(shè)計(jì)芯片(Chip)。然后,再將芯片制作成晶圓(Wafer)。由于晶圓由芯片反復(fù)排列而成,當(dāng)我們細(xì)看已完成的晶圓...
2023-05-11 標(biāo)簽:半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)晶圓測(cè)試 3.5k 0
半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的探針卡與LTCC/HTCC的聯(lián)系
晶圓測(cè)試的方式主要是通過測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測(cè)試過程中,測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè),而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Pro...
高頻探針卡的定義、原理、種類、適用范圍以及使用注意事項(xiàng)
高頻探針卡是芯片、晶圓測(cè)試中的重要工具,它可以將高頻信號(hào)從芯片中提取出來并進(jìn)行分析,是芯片、晶圓測(cè)試世界中的神器。
瑞樂半導(dǎo)體——TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)的技術(shù)創(chuàng)新與未來趨勢(shì)熱電偶測(cè)溫
隨著半導(dǎo)體制造精度不斷提升,溫度作為核心工藝參數(shù),其監(jiān)測(cè)需求將更加嚴(yán)苛。TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)將持續(xù)演進(jìn),從被動(dòng)測(cè)量工具轉(zhuǎn)變?yōu)橹鲃?dòng)工藝控制的關(guān)鍵環(huán)...
2025-07-18 標(biāo)簽:熱電偶測(cè)溫系統(tǒng)晶圓測(cè)試 682 0
紫光同芯獲評(píng)北京市兩業(yè)融合領(lǐng)跑型試點(diǎn)企業(yè)
近日,北京市兩業(yè)融合企業(yè)交流會(huì)暨沙龍活動(dòng)在朝陽區(qū)兩業(yè)融合示范園成功舉辦,共同探討兩業(yè)融合發(fā)展新路徑?;顒?dòng)期間,國家發(fā)展改革委、市發(fā)展改革委、市委統(tǒng)戰(zhàn)部等...
意法半導(dǎo)體與新加坡能源集團(tuán)共同開發(fā)新型雙溫冷卻系統(tǒng)
意法半導(dǎo)體(簡稱ST)委托新加坡能源公司(SP集團(tuán))升級(jí)意法半導(dǎo)體大巴窯工廠的冷卻基礎(chǔ)設(shè)施。大巴窯工廠是意法半導(dǎo)體重要的封裝研發(fā)和晶圓測(cè)試基地。新的冷卻...
2025-06-14 標(biāo)簽:意法半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng)晶圓測(cè)試 1.4k 0
近日,上海季豐電子股份有限公司(以下簡稱“季豐電子”)與杰平方半導(dǎo)體(上海)有限公司(以下簡稱“杰平方”)正式簽署戰(zhàn)略合作協(xié)議,宣布共建半導(dǎo)體領(lǐng)域聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室。
季豐電子半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)設(shè)備介紹
其中,前者負(fù)責(zé)測(cè)試晶圓器件參數(shù)(如IV,CV,Vt,Ion/Ioff等),或者可靠性(如HCI,NBTI,TDDB等)測(cè)試,通常稱作半導(dǎo)體測(cè)試儀,簡稱“...
華工科技旗下華工激光榮獲“金耀激光新產(chǎn)品獎(jiǎng)”
3月10日晚,"2025激光金耀獎(jiǎng)?lì)C獎(jiǎng)典禮在上海隆重舉行,華工科技子公司華工激光自主研發(fā)的晶圓測(cè)試探針卡智能裝備從數(shù)百項(xiàng)尖端技術(shù)中脫穎而出,獲...
隨著半導(dǎo)體器件的復(fù)雜性不斷提高,對(duì)精確可靠的晶圓測(cè)試解決方案的需求也從未像現(xiàn)在這樣高。從5G、物聯(lián)網(wǎng)和人工智能應(yīng)用,到先進(jìn)封裝和高帶寬存儲(chǔ)器(HBM),...
晶圓測(cè)試大廠京元電近日宣布重大決策,董事會(huì)決定將今年資本支出大幅提升至138.28億元新臺(tái)幣,較原計(jì)劃53.14億元新臺(tái)幣激增1.6倍,這一數(shù)字也創(chuàng)下了...
Melexis在馬來西亞開設(shè)最大晶圓測(cè)試廠,押注半導(dǎo)體需求翻倍
微電子解決方案領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè)Melexis宣布了一項(xiàng)重大投資計(jì)劃,斥資約7000萬歐元(約合7600萬美元)在馬來西亞砂拉越州古晉市建立了一座全新的晶圓...
Melexis馬來西亞晶圓測(cè)試基地盛大落成,實(shí)現(xiàn)戰(zhàn)略擴(kuò)張
2024年07月10日,馬來西亞古晉——全球微電子工程公司邁來芯宣布,其位于馬來西亞砂拉越州古晉的全球最大晶圓測(cè)試基地已圓滿落成。此次擴(kuò)張不僅標(biāo)志著邁來...
2024-07-12 標(biāo)簽:晶圓測(cè)試 891 0
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