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標(biāo)簽 > 測(cè)試系統(tǒng)
《測(cè)試系統(tǒng)》對(duì)機(jī)電液測(cè)試及應(yīng)用技術(shù)進(jìn)行了介紹。首先介紹了機(jī)電測(cè)試系統(tǒng)中常用傳感器應(yīng)用接口電路設(shè)計(jì)。介紹了測(cè)試數(shù)據(jù)在與微機(jī)系統(tǒng)傳輸過(guò)程中的模擬量輸入輸出通道結(jié)構(gòu)與常用芯片接口,并舉例說(shuō)明了多路巡回檢測(cè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
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2200系列可編程直流電源的功能特點(diǎn)及應(yīng)用范圍
無(wú)論在研究實(shí)驗(yàn)室,在設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā),還是在生產(chǎn)測(cè)試中,2200系列可編程直流電源的寬范圍電壓輸出都適于測(cè)試和分析元器件、電路、模塊和整個(gè)設(shè)備的特性。2200...
2021-01-03 標(biāo)簽:元器件測(cè)試系統(tǒng)直流電源 3.4k 0
發(fā)電機(jī)組綜合測(cè)試系統(tǒng)的功能特點(diǎn)及應(yīng)用范圍
發(fā)電機(jī)組綜合測(cè)試系統(tǒng)可以精確測(cè)試各類發(fā)電機(jī)組的輸出功率與帶載能力,對(duì)發(fā)電機(jī)組所有電參數(shù)(包括動(dòng)態(tài)參數(shù))進(jìn)行測(cè)試。
2021-01-09 標(biāo)簽:功率因數(shù)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)電機(jī) 3.4k 0
什么是LabCar測(cè)試LabCar測(cè)試目標(biāo)是進(jìn)行整車黃板臺(tái)架功能測(cè)試,用于整車開(kāi)發(fā)和測(cè)試階段,滿足設(shè)計(jì)人員和測(cè)試人員的試驗(yàn)需求,以驗(yàn)證整車性能,減少開(kāi)發(fā)...
2024-09-13 標(biāo)簽:新能源汽車測(cè)試系統(tǒng)整車 3.3k 0
LPCE-2是一個(gè)積分球光譜儀LED測(cè)試系統(tǒng),用于識(shí)別單個(gè)LED和LED燈的性能。 LED的質(zhì)量應(yīng)通過(guò)檢查其光度,比色和電氣參數(shù)來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
2023-07-25 標(biāo)簽:光源測(cè)試系統(tǒng)光通量 3.2k 0
SFE100測(cè)試發(fā)射機(jī)的性能特點(diǎn)及應(yīng)用
SFE100是用于廣播電視領(lǐng)域的單制式實(shí)時(shí)編碼測(cè)試發(fā)射機(jī)。支持所有的通用數(shù)字和模擬電視標(biāo)準(zhǔn),以及大部分音頻廣播標(biāo)準(zhǔn)。SFE100的設(shè)計(jì)緊湊可靠,是同檔次...
2020-12-31 標(biāo)簽:電視測(cè)試系統(tǒng)發(fā)射機(jī) 3.2k 0
2220-30-1在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何配置并聯(lián)操作(2)
2220-30-1可編程三通道直流電源將三通道電源輸出用于經(jīng)濟(jì)有效地分析和測(cè)試需要一種以上電源的寬范圍器件、電路板、模塊和產(chǎn)品。2230-30-1包含兩...
2019-03-21 標(biāo)簽:電源測(cè)試系統(tǒng)數(shù)字電路 3.2k 0
聯(lián)訊儀器WAT半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介
聯(lián)訊儀器WAT 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)基于自主研發(fā)pA/亞pA高精度源表,半導(dǎo)體矩陣開(kāi)關(guān),高電壓半導(dǎo)體脈沖源,3500V高壓源表等基礎(chǔ)儀表,掌握核心技術(shù),通...
2023-11-06 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體測(cè)試 3.2k 0
泰瑞達(dá)實(shí)現(xiàn)向國(guó)民技術(shù)交付第7000臺(tái) J750半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的里程碑
2022年4月21日,中國(guó) 北京訊?-- 全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)?(NASDAQ:TER)今天宣布,向中國(guó)領(lǐng)先的微控制器(MCU)和安全類芯...
2022-04-21 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)國(guó)民技術(shù)泰瑞達(dá) 3.2k 0
基于測(cè)試系統(tǒng)的FPGA測(cè)試方法研究與實(shí)現(xiàn)
1 引言 目前FPGA大多采用基于查找表技術(shù),主要由可編程輸入/輸出單元(IOB)、可編程邏輯單元(CLB)、可編程布線資源(PI)、配置用的SRAM、...
2017-11-18 標(biāo)簽:fpga測(cè)試系統(tǒng) 3.2k 0
2220-30-1在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何配置并聯(lián)操作(1)
2220-30-1可編程三通道直流電源將三通道電源輸出用于經(jīng)濟(jì)有效地分析和測(cè)試需要一種以上電源的寬范圍器件、電路板、模塊和產(chǎn)品。2230-30-1包含兩...
2019-03-22 標(biāo)簽:電源電路測(cè)試系統(tǒng) 3.2k 0
GB/T 19789包裝材料 塑料薄膜、薄片氧氣透過(guò)率測(cè)試方法
OTR-D3氧氣透過(guò)率測(cè)試儀適用于塑料薄膜、鋁箔塑膜、防水材料、金屬箔片等高阻隔材料的氧氣、水蒸氣滲透性能。可擴(kuò)展測(cè)試瓶、袋等容器。
2024-07-10 標(biāo)簽:測(cè)試測(cè)試儀測(cè)試系統(tǒng) 3.2k 0
基于LabVIEW的四通道多參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
介紹了基于MSP430單片機(jī)的四通道多參數(shù)和測(cè)試軟件的功能模塊,討論了該軟件的設(shè)計(jì)問(wèn)題。軟件是在LabVIEW開(kāi)發(fā)平臺(tái)上開(kāi)發(fā)的,具有友好的可視化界面和結(jié)...
2012-03-23 標(biāo)簽:LabVIEW虛擬儀器測(cè)試系統(tǒng) 3.2k 1
LitePoint宣布IQgig-5G測(cè)試系統(tǒng)可用于測(cè)試小型蜂窩基站
5G 測(cè)試系統(tǒng)會(huì)針對(duì)毫米波 (5G FR2) 無(wú)線電技術(shù)生成小型蜂窩波形并執(zhí)行分析! 加利福尼亞州圣何塞 - 2020 年 10 月 21 日 - 無(wú)線...
2020-10-26 標(biāo)簽:射頻無(wú)線測(cè)試系統(tǒng) 3.1k 0
一汽大眾為驗(yàn)證C-V2X算法性能和功能,選擇羅德與施瓦茨方案
網(wǎng)聯(lián)化是汽車未來(lái)發(fā)展趨勢(shì),是車路協(xié)同的支撐技術(shù),已上升成國(guó)家發(fā)展戰(zhàn)略。主要車廠在2022年上市的車型在硬件上都支持車聯(lián)網(wǎng)技術(shù)(C-V2X)。大眾集團(tuán)是國(guó)...
2020-10-23 標(biāo)簽:汽車電子無(wú)線測(cè)試系統(tǒng) 3.1k 0
測(cè)功機(jī)也叫測(cè)功器,其主要功能用于測(cè)試發(fā)動(dòng)機(jī)的功率,也可作為齒輪箱、減速機(jī)、變速箱的加載設(shè)備,用于測(cè)試它們的傳遞功率。主要分為水力測(cè)功機(jī)、電渦流測(cè)功機(jī)、電...
2023-06-10 標(biāo)簽:電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)功機(jī) 3k 0
測(cè)試設(shè)備如何為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的推進(jìn)保駕護(hù)航?
相對(duì)于半導(dǎo)體技術(shù)迅猛發(fā)展,制程工藝不斷縮小的迭代周期,與半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)一路相伴的測(cè)試設(shè)備產(chǎn)業(yè)似乎“緩慢”得多。
直線電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)原則、測(cè)量方式
電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)是對(duì)電機(jī)裝配質(zhì)量及技術(shù)性能綜合評(píng)價(jià)的重要環(huán)節(jié),是電機(jī)制造和生產(chǎn)的重要工序。 直線電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)主要由試驗(yàn)平臺(tái)、被試電機(jī)、電機(jī)控制器、陪試電機(jī)負(fù)...
2021-07-20 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng) 3k 0
直流無(wú)刷電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)的檢測(cè)項(xiàng)目及功能特點(diǎn)
直流無(wú)刷電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)主要是針對(duì)汽車、風(fēng)扇、洗衣機(jī)等產(chǎn)品上的無(wú)刷電機(jī)整機(jī)的綜合性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備。
2023-06-17 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)直流無(wú)刷電機(jī) 3k 0
T/R組件黑燈測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)建和應(yīng)用
? 隨著衛(wèi)星通信技術(shù)等射頻方向相關(guān)行業(yè)的蓬勃發(fā)展,T/R組件測(cè)試在保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能方面的重要性日益凸顯。 T/R組件作為衛(wèi)星通信的核心部件,T/R的性...
2023-08-02 標(biāo)簽:射頻測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化 3k 0
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