如何進(jìn)行疲勞耐久測(cè)試？

在產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量把控的關(guān)鍵環(huán)節(jié)中，疲勞耐久測(cè)試占據(jù)著舉足輕重的地位。它是評(píng)估產(chǎn)品在生命周期內(nèi)性能表現(xiàn)的核心手段，通過(guò)模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中承受的各種復(fù)雜工...

2025-05-19 標(biāo)簽：測(cè)試試驗(yàn)機(jī)耐久性 419 0

使用UTS3000B系列頻譜分析儀進(jìn)行EMI預(yù)認(rèn)證測(cè)試

電磁兼容性（EMC）是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。EMC包括電磁干擾(EMI)和電磁抗干...

2025-05-16 標(biāo)簽：測(cè)試emi頻譜分析儀 485 0

選對(duì)探頭事半功倍：1G有源探頭vs1G無(wú)源探頭實(shí)測(cè)分析

在高速信號(hào)測(cè)試和測(cè)量領(lǐng)域，選擇合適探頭對(duì)獲取準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果至關(guān)重要。本文深入解析1GHz有源探頭和無(wú)源探頭的核心差異、應(yīng)用場(chǎng)景及實(shí)測(cè)性能對(duì)比，詳解面對(duì)高...

2025-05-16 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量無(wú)源探頭 661 0

干貨｜抗干擾天線的性能怎么測(cè)試？

前幾個(gè)章節(jié)我們介紹了衛(wèi)星導(dǎo)航抗干擾天線的選型、抗干擾天線能不能同時(shí)做RTK差分的內(nèi)容?？垢蓴_天線選型指南，如何選擇滿足自己需求的抗干擾天線為什么自適應(yīng)調(diào)...

2025-05-14 標(biāo)簽：測(cè)試天線抗干擾 1.5k 0

康謀分享 | 自動(dòng)駕駛仿真進(jìn)入“標(biāo)準(zhǔn)時(shí)代”：aiSim全面對(duì)接ASAM OpenX

自動(dòng)駕駛領(lǐng)域，仿真與標(biāo)準(zhǔn)接口至關(guān)重要?？抵\aiSim集成ASAM OpenX系列標(biāo)準(zhǔn)，通過(guò)OpenDRIVE、OpenSCENARIO等五大標(biāo)準(zhǔn)，全面優(yōu)...

2025-05-14 標(biāo)簽：測(cè)試科技算法 3.2k 0

半導(dǎo)體芯片需要做哪些測(cè)試

首先我們需要了解芯片制造環(huán)節(jié)做?款芯片最基本的環(huán)節(jié)是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試，芯片成本構(gòu)成?般為人力成本20%，流片40%，封裝3...

2025-05-09 標(biāo)簽：測(cè)試晶圓半導(dǎo)體芯片 1.8k 0

QDAT非信令測(cè)試介紹

高通WIFI6的IPQ系列芯片非信令測(cè)試常用的測(cè)試方法有兩種：QRCT（射頻調(diào)試工具）、QPSR（射頻校準(zhǔn)工具）。Chrent一、QPSR（射頻校準(zhǔn)工具...

2025-05-07 標(biāo)簽：芯片測(cè)試射頻 987 0

半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試圖形技術(shù)解析

在半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試中，測(cè)試圖形（Test Pattern）是檢測(cè)故障、驗(yàn)證可靠性的核心工具。根據(jù)測(cè)試序列長(zhǎng)度與存儲(chǔ)單元數(shù)N的關(guān)系，測(cè)試圖形可分為N型、N...

2025-05-07 標(biāo)簽：測(cè)試存儲(chǔ)器晶圓 763 0

【解決方案】降低導(dǎo)入成本，在現(xiàn)有電機(jī)檢測(cè)線上增設(shè)局部放電測(cè)試

電機(jī)生產(chǎn)工序與檢測(cè)在電機(jī)的生產(chǎn)工序中，會(huì)進(jìn)行諸如以下的測(cè)試：繞組安裝于定子鐵芯后的“定子繞組檢查”；連接繞組中性點(diǎn)，完成定子組裝后的“定子組件(ASSY...

2025-05-06 標(biāo)簽：測(cè)試電機(jī)局部放電 302 0

CAN芯片邏輯響應(yīng)驗(yàn)證測(cè)試

在CAN芯片研發(fā)階段，需要做諸多涉及通訊錯(cuò)誤管理驗(yàn)證的問(wèn)題。在ISO-16845國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)定完善的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，如錯(cuò)誤幀檢測(cè)，傳輸幀相關(guān)檢測(cè)，錯(cuò)誤管理邏...

2025-04-30 標(biāo)簽：芯片測(cè)試CAN 482 0

《聊一聊ZXDoc》之汽車(chē)標(biāo)定、臺(tái)架標(biāo)定、三高標(biāo)定

ZXDoc支持XCP/CCP標(biāo)定功能，標(biāo)定工作貫穿主機(jī)廠與Tier1廠商汽車(chē)ECU研發(fā)、生產(chǎn)、測(cè)試的整個(gè)流程，是保障ECU性能達(dá)標(biāo)、功能穩(wěn)定的關(guān)鍵。什么...

2025-04-27 標(biāo)簽：測(cè)試汽車(chē)電子ecu 1k 0

3800Ah大容量磷酸鐵鋰電池模組絕熱溫升特性測(cè)試揭秘

摘要本文利用BAC-1000A大型電池絕熱量熱儀對(duì)3800Ah小型磷酸鐵鋰電池模組的絕熱溫升行為進(jìn)行了系統(tǒng)性研究，填補(bǔ)了儲(chǔ)能電池模組絕熱溫升數(shù)據(jù)的行業(yè)空...

2025-04-27 標(biāo)簽：鋰電池測(cè)試電池 596 0

同模阻抗NG,怎樣處理

在測(cè)同一被測(cè)線材時(shí)，其阻抗會(huì)因在該被測(cè)線材上傳輸?shù)男盘?hào)型式不同，而分為單端阻抗，同模（共模）阻抗及差分阻抗，其差異主要表現(xiàn)在測(cè)試的信號(hào)條件上。故每種線均...

2025-04-24 標(biāo)簽：測(cè)試阻抗特性阻抗 584 0

薄膜穿刺測(cè)試：不同類(lèi)型薄膜材料在模擬汽車(chē)使用環(huán)境下的穿刺性能

在汽車(chē)行業(yè)蓬勃發(fā)展的當(dāng)下，薄膜材料在汽車(chē)制造中的應(yīng)用愈發(fā)廣泛，從精致的內(nèi)飾裝飾薄膜，到關(guān)乎生命安全的安全氣囊薄膜，其性能優(yōu)劣直接左右著汽車(chē)的品質(zhì)與安全。...

2025-04-23 標(biāo)簽：測(cè)試汽車(chē)電子儀器 679 0

車(chē)載電子電器設(shè)備測(cè)試的全面解析

在當(dāng)今汽車(chē)行業(yè)，電子電器設(shè)備已經(jīng)成為汽車(chē)不可或缺的重要組成部分。從基本的照明、空調(diào)系統(tǒng)，到先進(jìn)的自動(dòng)駕駛輔助系統(tǒng)、智能互聯(lián)系統(tǒng)等，車(chē)載電子電器設(shè)備極大地...

2025-04-22 標(biāo)簽：測(cè)試車(chē)載電子電器設(shè)備 608 0

PCB互連應(yīng)力測(cè)試與溫度沖擊測(cè)試的區(qū)別

在當(dāng)今復(fù)雜且精密的PCB實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景中，確保其可靠性至關(guān)重要。互連應(yīng)力測(cè)試（IST）與溫度沖擊測(cè)試（TC）作為可靠性評(píng)估的常用手段，二者在測(cè)試對(duì)象、原理...

2025-04-18 標(biāo)簽：pcb測(cè)試可靠性測(cè)試 608 0

2025-04-17 標(biāo)簽：測(cè)試儀器高低溫試驗(yàn)箱 5.6k 0

連接器故障原因及注意事項(xiàng)？

學(xué)習(xí)是一種技能，更是一門(mén)藝術(shù)；學(xué)習(xí)是一條捷徑，更是一種智慧；學(xué)習(xí)也許不如工作重要，但卻能使人生變得更精彩。連接器是電子設(shè)備中不可或缺的組件之一，其作用是...

2025-04-16 標(biāo)簽：測(cè)試連接器電子連接器 732 0

局部放電與耐壓測(cè)試（下）

局部放電測(cè)試可在故障之前檢測(cè)到條件，因此它們可以檢測(cè)到傳統(tǒng)耐壓測(cè)試無(wú)法檢測(cè)到的潛在缺陷和制造變化。此外，與傳統(tǒng)方法相比，可以預(yù)期以下優(yōu)勢(shì)。?隔離設(shè)計(jì)優(yōu)化...

2025-04-15 標(biāo)簽：測(cè)試局部放電耐壓 369 0

技術(shù)資訊 | 信號(hào)完整性測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)

本文重點(diǎn)信號(hào)完整性測(cè)試需要從測(cè)試電路板和原型獲取實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)并加以分析。在理想的工作流程中，還會(huì)仿真信號(hào)完整性指標(biāo)，并將其與實(shí)際測(cè)量值進(jìn)行比較。信號(hào)完整性測(cè)...

2025-04-11 標(biāo)簽：測(cè)試分析儀信號(hào)完整性 1.7k 0