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標(biāo)簽 > 測試
測試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測”與中文“試”兩個字組成的詞語。是動詞、名詞。測試行為，一般發(fā)生于為檢測特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
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濕敏電阻是一種能夠感知環(huán)境濕度變化并將其轉(zhuǎn)化為電信號的傳感器。它的應(yīng)用范圍非常廣泛，包括但不限于以下幾個方面：
在之前的課程中簡單地介紹過TestStand自帶的一些步驟類型，如測試、消息彈窗、賦值、標(biāo)簽等等，這些簡單的步驟從TestStand的插入選版中就可以添...
康謀方案 | 基于AI自適應(yīng)迭代的邊緣場景探索方案
測試 ADAS/AD 系統(tǒng)時，傳統(tǒng) DoE 方法難以覆蓋駕駛邊緣場景，影響自動駕駛性能提升?？抵\ aiSim集成的aiFab方案，以貝葉斯優(yōu)化為核心，依...
OTA技術(shù)是汽車實(shí)現(xiàn)完整網(wǎng)聯(lián)化、智能化體驗(yàn)的基礎(chǔ)，自引入汽車以來，廣受研發(fā)人員、市場用戶的高度關(guān)注。近來，國家有關(guān)部門也陸續(xù)出臺了相應(yīng)政策，對汽車企業(yè)O...
測試能力可謂是鑒別專業(yè)開發(fā)人員與業(yè)余新手的利器。它不僅體現(xiàn)在是否能遵循TDD（Test-Driven Development，測試驅(qū)動開發(fā)）、BDD（B...
為了最大限度地減小尺寸并實(shí)現(xiàn)最佳性能，許多系統(tǒng)采用了緊湊的封裝天線（AiP）架構(gòu)，其中相控陣天線和波束賦形器、功率放大器和升降頻器等部件都是集成的（見圖1）。
嵌入式系統(tǒng)測試和測試案例開發(fā)的基礎(chǔ)知識分析
測試是傳統(tǒng)軟件開發(fā)的最后一步。整個軟件開發(fā)過程，需要收集要求、進(jìn)行高層次的設(shè)計(jì)、詳細(xì)設(shè)計(jì)、創(chuàng)建代碼、進(jìn)行部分單元測試，然后集成，最后才開始最終測試。
2020-10-13 標(biāo)簽：測試嵌入式應(yīng)用程序 3.1k 0
窗口是Windows本身以及Windows 環(huán)境下的應(yīng)用程序的基本界面單位，就是顯示在屏幕上的一個矩形區(qū)域。一般來說窗口是具有標(biāo)題欄、菜單/菜單欄、工具...
前幾年在大連出差的時候，幫一個項(xiàng)目做測試，順便寫下這個檢查表，這個檢查表對測試的初學(xué)者積累經(jīng)驗(yàn)比較有用，實(shí)際對于有經(jīng)驗(yàn)的測試人員尤其對于測試業(yè)務(wù)管理信息...
本文介紹了在集成電路制造與測試過程中，CP（Chip Probing，晶圓探針測試）和FT（Final Test，最終測試）的概念、流程、難點(diǎn)與挑戰(zhàn)。 ...
發(fā)電機(jī)電氣試驗(yàn)方法及標(biāo)準(zhǔn)
一．高壓發(fā)電機(jī)部分：定子部件直流電阻目的：檢查繞組的焊頭是否出問題等原因測試環(huán)境：冷狀態(tài)下進(jìn)行測試工具：直流電阻電橋數(shù)據(jù)處理：各項(xiàng)的測試應(yīng)做以下處理數(shù)據(jù)...
2024-06-17 標(biāo)簽：測試發(fā)電機(jī)電氣試驗(yàn) 3.1k 0
EN50332—媒體播放器（含耳機(jī)）輸出音量安全規(guī)范測試方案
本方案是北京度緯科技有限公司針對EN50332標(biāo)準(zhǔn)，推出的完全符合該標(biāo)準(zhǔn)的測試方案，可以滿足各個場景標(biāo)準(zhǔn)測試的需求。
ic自動化測試之電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測試原理和測試方法
測試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)通過軟件控制電源給芯片供電輸入，讓芯片處于工作狀態(tài)，之后給芯片的輸出端加載輸出電...
了解Xilinx的VC730 OTN測試開發(fā)平臺，適用于從1到400G的所有OTN應(yīng)用的快速開發(fā)。
連接器測試項(xiàng)目有哪些 測試項(xiàng)目介紹
連接器是一種廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中的元器件，主要用于連接電路和傳輸信號。連接器的性能直接影響到電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。因此，對連接器進(jìn)行嚴(yán)格的測試是非常...
DAB Announcement高效測試方案及應(yīng)用分析
本文檔主要講解了基于ETI測試流、基于IQ采集的數(shù)據(jù)流、基于專業(yè)射頻測試儀表三種DAB Announcement測試方案，以及這三種測試方案的總結(jié)比較和...
小功率電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)快速負(fù)載瞬態(tài)測試
負(fù)載瞬態(tài)通常使用電子負(fù)載（E-Load）進(jìn)行測試，前面提到，負(fù)載的跳變斜率（Slew Rate）將對測試結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵影響，然而受設(shè)備內(nèi)部電路限制，常規(guī)電...
2023-02-03 標(biāo)簽：測試轉(zhuǎn)換器MOSFET 3k 0
此版本增加了在生成 ODB++ v8.1 輸出時生成網(wǎng)絡(luò)和銅基元列表（故意允許短路（“網(wǎng)絡(luò)連接”））的支持。您無需再向制造商發(fā)送兩份文檔，一份是包含合并...
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