利爾達(dá)NB-IoT &Cat.1 產(chǎn)測(cè)應(yīng)用指導(dǎo)

用戶使用利爾達(dá)NB&Cat.1模組在出廠前都會(huì)進(jìn)行相應(yīng)的產(chǎn)線測(cè)試，如何保證NB&Cat.1在用戶產(chǎn)線測(cè)試后整機(jī)功能正常，是否用戶產(chǎn)測(cè)進(jìn)行...

2024-06-01 標(biāo)簽：測(cè)試IOT利爾達(dá) 1.5k 0

普賽斯儀表 | 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池I-V特性測(cè)試解決方案

為什么選擇數(shù)字源表來(lái)進(jìn)行鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的I-V測(cè)試?許多半導(dǎo)體和電子裝置測(cè)試都要盡可能快的輸出電壓和測(cè)量電流。整體測(cè)試時(shí)間是由充電時(shí)間、測(cè)量時(shí)間、放電...

2024-09-12 標(biāo)簽：測(cè)試數(shù)字源表測(cè)量電流 1.5k 0

虹科微波點(diǎn)對(duì)點(diǎn)視通驗(yàn)證方案

視距傳播是指在發(fā)射天線和接收天線間電波直接從發(fā)射點(diǎn)傳播到接收點(diǎn)的一種傳播方式，主要用于超短波及微波通信。虹科視距驗(yàn)證套件是一種小尺寸、手持電池供電的解決...

2022-05-26 標(biāo)簽：測(cè)試射頻通信 1.5k 0

硅材料雜質(zhì)濃度測(cè)試方案

關(guān)于硅材料雜質(zhì)濃度測(cè)試，經(jīng)研究，參考肖特基二極管雜質(zhì)濃度測(cè)試方案，兩者幾乎一致，因此，針對(duì)硅材料雜質(zhì)濃度測(cè)試亦采用CV法測(cè)量。

2023-09-11 標(biāo)簽：二極管測(cè)試肖特基二極管 1.5k 0

基于模型的動(dòng)態(tài)測(cè)試工具TPT

基于模型的動(dòng)態(tài)測(cè)試工具TPT TPT特性 PikeTec公司是全球知名的基于模型的嵌入式系統(tǒng)測(cè)試工具TPT的軟件供應(yīng)商，總部位于德國(guó)柏林，其創(chuàng)始人均在戴...

2023-02-20 標(biāo)簽：測(cè)試嵌入式自動(dòng)化測(cè)試 1.5k 0

美能電池片UV老化試驗(yàn)箱：評(píng)估光衰與衰減性能的測(cè)試專業(yè)工具

在當(dāng)前全球?qū)稍偕茉葱枨笕找嬖鲩L(zhǎng)的背景下，光伏電池片的性能和耐用性顯得尤為重要。美能電池片UV老化試驗(yàn)箱及光衰試驗(yàn)箱，依托先進(jìn)的技術(shù)與設(shè)備，致力于模擬...

2024-06-26 標(biāo)簽：測(cè)試試驗(yàn)箱電池 1.5k 0

如何在Linux中創(chuàng)建節(jié)點(diǎn)

手把手教你在 Linux 中創(chuàng)建節(jié)點(diǎn)，使其可以進(jìn)行 cat 和 echo 。 我們測(cè)試驅(qū)動(dòng)加載是否正常工作，一般都會(huì)寫應(yīng)用程序去測(cè)試，這樣驅(qū)動(dòng)程序中需要...

2023-10-07 標(biāo)簽：測(cè)試驅(qū)動(dòng)Linux 1.4k 0

如何使用valgrind對(duì)代碼進(jìn)行內(nèi)存泄露檢測(cè)

代碼可能存在 內(nèi)存泄露 怎么辦？ 使用 valgrind 可以對(duì)代碼進(jìn)行內(nèi)存泄露檢測(cè)。 valgrind下載安裝 安裝： 1 、tar –jxvf va...

2023-10-04 標(biāo)簽：測(cè)試Linux內(nèi)存 1.4k 0

密封性檢測(cè)全面解析：概念、方法與設(shè)備選型指南

在工業(yè)生產(chǎn)和日常生活中，眾多產(chǎn)品都需要具備良好的密封性能，以防止氣體或液體泄漏，從而保證產(chǎn)品的正常運(yùn)行和使用壽命。例如，汽車輪胎需要良好的密封性以保持氣...

2025-02-12 標(biāo)簽：測(cè)試檢測(cè)儀密封 1.4k 0

一文讀懂芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目

可靠性試驗(yàn)的定義與重要性可靠性試驗(yàn)是一種系統(tǒng)化的測(cè)試流程，通過(guò)模擬芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種環(huán)境條件和工作狀態(tài)，對(duì)芯片的性能、穩(wěn)定性和壽命進(jìn)行全面評(píng)...

2025-02-21 標(biāo)簽：芯片測(cè)試可靠性試驗(yàn) 1.4k 0

如何解決電壓測(cè)試遇到的問(wèn)題

在IC的測(cè)試中，電壓的測(cè)試是所有測(cè)試參數(shù)中最為常見(jiàn)的一種參數(shù)，尤其是模擬芯片的測(cè)試，電壓測(cè)試更顯常見(jiàn)及重要，如：LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)...

2023-10-30 標(biāo)簽：芯片測(cè)試IC 1.4k 0

澎湃微PT32x033系列 | 血糖儀專題技術(shù)文章連載_01

澎湃微PT32x033系列 | 血糖儀專題技術(shù)文章連載_01

2023-10-27 標(biāo)簽：測(cè)試dac血糖儀 1.4k 0

電流探頭用于調(diào)試電機(jī)的測(cè)試方法和操作步驟

導(dǎo)言 電機(jī)是現(xiàn)代社會(huì)中廣泛應(yīng)用的一種設(shè)備，用于驅(qū)動(dòng)各種各樣的機(jī)械系統(tǒng)。為了確保電機(jī)的正常運(yùn)行和性能優(yōu)化，調(diào)試和測(cè)試是非常關(guān)鍵的步驟。而其中，電流探頭是一...

2023-08-03 標(biāo)簽：測(cè)試電機(jī)電流探頭 1.4k 0

智慧實(shí)驗(yàn)室管理平臺(tái)

傳統(tǒng)的測(cè)試管理方式通常依賴于手工記錄和分散的系統(tǒng)，測(cè)試過(guò)程中龐大且復(fù)雜的數(shù)據(jù)容易導(dǎo)致數(shù)據(jù)不統(tǒng)一、信息不透明、效率低下等問(wèn)題，從而影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可...

2024-12-16 標(biāo)簽：測(cè)試管理平臺(tái)經(jīng)緯恒潤(rùn) 1.4k 0

RISC-V公測(cè)平臺(tái)發(fā)布 · 7-zip 測(cè)試

7-Zip 是一個(gè)開源的壓縮和解壓縮工具，具有高壓縮比和快速解壓縮的特點(diǎn)。除了普通的文件壓縮和解壓縮功能之外，7-Zip 還提供了基準(zhǔn)測(cè)試功能，通過(guò)壓縮...

2023-08-14 標(biāo)簽：測(cè)試cpuRISC-V 1.4k 0

某車載電機(jī)控制器EMC整改案例

一前言 本次整改樣機(jī)為某客戶的車載電機(jī)控制項(xiàng)目，主要通過(guò)PWM信號(hào)進(jìn)行電機(jī)轉(zhuǎn)速調(diào)整，實(shí)際測(cè)試過(guò)程中，存在低頻段部分輻射嚴(yán)重超標(biāo)問(wèn)題，以下是本次測(cè)試與整改...

2023-02-09 標(biāo)簽：測(cè)試控制器PWM 1.4k 0

二極管測(cè)試方案

　　DO-15中貼上銀色一圈的是負(fù)極，另一頭即為正極。

2023-02-14 標(biāo)簽：二極管測(cè)試整流二極管 1.4k 0

氣密性測(cè)試儀一次測(cè)試要多久？

對(duì)于初次接觸氣密性檢測(cè)設(shè)備的用戶來(lái)說(shuō)，"測(cè)試需要多長(zhǎng)時(shí)間"往往是核心關(guān)注點(diǎn)。實(shí)際上，氣密性測(cè)試儀的檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)并沒(méi)有統(tǒng)一答案，它像&qu...

2025-02-17 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)試儀檢測(cè)設(shè)備 1.4k 0