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測(cè)試

測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。

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測(cè)試技術(shù)

使用頻譜分析儀的四種分析方法觀察信號(hào)質(zhì)量

數(shù)字調(diào)制是將低頻信息通過(guò)高頻載波發(fā)射所做的必要步驟,當(dāng)我們接收到信號(hào)時(shí),首先要對(duì)信號(hào)解調(diào)。IQ星座圖是一種調(diào)制映射關(guān)系,利用正交平面,把調(diào)制的所有可能性...

2020-09-27 標(biāo)簽:測(cè)試頻譜分析儀 1.0萬(wàn) 0

基于CodeTest嵌入式測(cè)試工具實(shí)現(xiàn)DCS分布式系統(tǒng)的測(cè)試方案

基于CodeTest嵌入式測(cè)試工具實(shí)現(xiàn)DCS分布式系統(tǒng)的測(cè)試方案

對(duì)于這個(gè)簡(jiǎn)單的系統(tǒng),其測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)不算簡(jiǎn)單,而對(duì)于總共有60多個(gè)工程,至少有20個(gè)以上的進(jìn)程同時(shí)運(yùn)行的DCS綜合自動(dòng)化控制系統(tǒng),其測(cè)試方案圖就更復(fù)雜了,...

2020-10-04 標(biāo)簽:測(cè)試嵌入式服務(wù)器 2.8k 0

如何測(cè)試信號(hào)完整性,有哪些實(shí)現(xiàn)方法

信號(hào)完整性測(cè)試的手段有很多,主要的一些手段有波形測(cè)試、眼圖測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試等,目前應(yīng)用比較廣泛的信號(hào)完整性測(cè)試手段應(yīng)該是波形測(cè)試,即使用示波器測(cè)試波形幅度...

2020-09-24 標(biāo)簽:測(cè)試示波器存儲(chǔ)器 2.8k 0

示波器的FastFrame分段存儲(chǔ)模式的應(yīng)用場(chǎng)景分析

示波器的FastFrame分段存儲(chǔ)模式的應(yīng)用場(chǎng)景分析

如今工程師們?cè)诿鎸?duì)復(fù)雜系統(tǒng)的調(diào)試和驗(yàn)證時(shí)面臨著許多測(cè)試技術(shù)挑戰(zhàn),包括捕獲和可視化多個(gè)不頻繁或間斷出現(xiàn)的事件,如串行數(shù)據(jù)包、激光脈沖和故障信號(hào)。為了準(zhǔn)確地...

2020-09-22 標(biāo)簽:測(cè)試示波器分辨率 1.6k 0

如何使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試針對(duì)非標(biāo)稱(chēng)50Ω的線纜

如何使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試針對(duì)非標(biāo)稱(chēng)50Ω的線纜

根據(jù)電纜的性能,如頻率范圍、長(zhǎng)度、是否差分,設(shè)置時(shí)域門(mén)控,可以按照線纜連接的位置,門(mén)控選通,獲得實(shí)際物理線纜的各項(xiàng)參數(shù)結(jié)果。門(mén)控選通測(cè)試結(jié)果對(duì)應(yīng)被測(cè)線纜...

2020-09-21 標(biāo)簽:測(cè)試網(wǎng)絡(luò)分析儀線纜 2k 0

干貨:波速測(cè)試儀器的測(cè)試方法和步驟

剪切波波速是描述土體工程性質(zhì)的一項(xiàng)重要指標(biāo),能很好地反映巖土的動(dòng)力學(xué)特性,在工程建設(shè)中應(yīng)用廣泛。波速測(cè)試儀器,是儀器利用錘擊、電火花或爆炸等作為激發(fā)震源...

2020-09-19 標(biāo)簽:測(cè)試測(cè)試測(cè)量信號(hào) 6.1k 0

泰克示波器新頻譜分析功能Spectrum View的特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景

前兩篇文章主要介紹了Spectrum View的功能特點(diǎn)及相關(guān)理論知識(shí),與示波器傳統(tǒng)的FFT測(cè)試頻譜方法相比,Spectrum View具有獨(dú)到的優(yōu)勢(shì),...

2020-09-19 標(biāo)簽:測(cè)試示波器asic 2.9k 0

影響示波器測(cè)試精度的因素有哪些,有什么解決方案

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隨著電力電子技術(shù)的發(fā)展,新低功耗器件的大量應(yīng)用以及更加嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)約束,工程師對(duì)測(cè)試的精度越來(lái)越敏感,開(kāi)始不滿足現(xiàn)有示波器幅度測(cè)試的分辨率和精度了。影響示...

2020-09-19 標(biāo)簽:測(cè)試示波器adc 3.6k 0

使用非隨機(jī)故障分析法為L(zhǎng)BIST設(shè)計(jì)提高故障檢測(cè)能力

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首先,設(shè)計(jì)應(yīng)符合LBIST規(guī)則,這意味著它應(yīng)該是掃描密合(scan stitched)的,并對(duì)設(shè)計(jì)中的所有X源進(jìn)行標(biāo)記。X源是狀態(tài)不定且故障仿真系統(tǒng)未知...

2020-09-14 標(biāo)簽:測(cè)試控制器可編程 1.9k 0

采用ZDS2024 Plus示波器進(jìn)行電源紋波的測(cè)試

電源紋波測(cè)試在電源質(zhì)量檢測(cè)中是很重要的一項(xiàng)參數(shù),但是怎么準(zhǔn)確的測(cè)量電源紋波卻成了工程師心中的一道難題,到底怎么樣才能攻破這個(gè)難題呢?其實(shí),眾里尋它千百度...

2020-09-10 標(biāo)簽:電源測(cè)試示波器 1.4k 0

基于RSA306實(shí)時(shí)頻譜分析儀進(jìn)行EMI一致性測(cè)試

基于RSA306實(shí)時(shí)頻譜分析儀進(jìn)行EMI一致性測(cè)試

在我們的預(yù)一致性測(cè)試中,我們使用了一米和幾厘米兩種距離。降低DUT(被測(cè)設(shè)備)與測(cè)試天線之間的距離會(huì)提高DUG信號(hào)強(qiáng)度與RF背景噪聲之比。遺憾的是,近場(chǎng)...

2020-09-10 標(biāo)簽:電源測(cè)試頻譜分析儀 1.8k 0

采用源程序級(jí)和算法級(jí)對(duì)μC/OS-II進(jìn)行源碼級(jí)的功耗優(yōu)化

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軟件設(shè)計(jì)中,代碼優(yōu)化是一件非常有意義的事情。優(yōu)化的本質(zhì)是對(duì)代碼進(jìn)行等價(jià)變換,使變換前后的代碼運(yùn)行結(jié)果相同,但變換后的代碼比變換前的代碼具有更多優(yōu)越性能。...

2020-09-09 標(biāo)簽:測(cè)試嵌入式納米 2.3k 0

整數(shù)邊界雜散的仿真測(cè)試與消除方法分析

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鎖相環(huán) (PLL) 和壓控振蕩器 (VCO) 輸出特定頻率的RF信號(hào),理想情況下此信號(hào)應(yīng)當(dāng)是輸出中的唯一信號(hào)。但事實(shí)上,輸出中存在干擾雜散信號(hào)和相位噪聲...

2020-09-09 標(biāo)簽:測(cè)試振蕩器仿真 4.9k 0

使邊界掃描與功能測(cè)試相結(jié)合實(shí)現(xiàn)最大功率的功能測(cè)試裝置設(shè)計(jì)

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盡管這類(lèi)測(cè)試驗(yàn)證了每個(gè)單一部件的正確性,它卻不能夠驗(yàn)證一個(gè)板卡,當(dāng)通電時(shí),是否能作為一個(gè)整體正常運(yùn)行。想要做到這點(diǎn)就必須進(jìn)行功能測(cè)試。

2020-09-07 標(biāo)簽:測(cè)試轉(zhuǎn)換器示波器 943 0

模塊化數(shù)字萬(wàn)用表的安裝、部署的技巧和竅門(mén)

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傳統(tǒng)數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)的用戶正在從臺(tái)式儀器切換到模塊化儀器,以滿足不斷變化的測(cè)試要求。 許多用戶正在考慮切換至模塊化DMM是因?yàn)槠洳捎玫男录夹g(shù)使其能夠...

2020-09-04 標(biāo)簽:測(cè)試數(shù)字萬(wàn)用表連接器 2.2k 0

如何確保802.11ac設(shè)備的良好的產(chǎn)品質(zhì)量,有哪些測(cè)試方法

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正如這種測(cè)試覆蓋率的初步觀察所告訴我們,待測(cè)物特性和缺陷機(jī)制的綜合結(jié)果正在影響我們對(duì)測(cè)試項(xiàng)目的選擇過(guò)程。通過(guò)調(diào)整測(cè)試覆蓋率以適應(yīng)這些影響因素,制造工程師...

2020-09-02 標(biāo)簽:測(cè)試接收器發(fā)射機(jī) 1k 0

采用頻率步進(jìn)雷達(dá)在真實(shí)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)精確設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和測(cè)試

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任何雷達(dá)接收機(jī)接收到的回波信號(hào)都包含目標(biāo)回波和背景雜波。要在包含背景雜波的環(huán)境中探測(cè)目標(biāo),雷達(dá)系統(tǒng)必須具有遠(yuǎn)距離和寬范圍的分辨能力。過(guò)去一般使用短脈沖波...

2020-09-01 標(biāo)簽:測(cè)試頻率雷達(dá) 1.8k 0

混合壓縮/內(nèi)置自我測(cè)試解決方案的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)分析

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有了混合測(cè)試方法,你就能選擇從測(cè)試儀中提供嵌入式壓縮 ATPG 向量或在設(shè)備邏輯內(nèi)置自我測(cè)試中自動(dòng)應(yīng)用和分析向量。你可以憑借在一個(gè)或多個(gè)區(qū)段中(圖1)的...

2020-09-01 標(biāo)簽:集成電路測(cè)試嵌入式 874 0

虹潤(rùn)NHR-3300系列三相綜合電量表的技術(shù)原理及應(yīng)用分析

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虹潤(rùn)NHR-3300系列三相綜合電量表是依據(jù)DB37/ T557-2005行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品,它是一款用于低壓配電系統(tǒng)的交流電量測(cè)量、顯示、控制、分析的...

2020-08-25 標(biāo)簽:發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試能源 1.9k 0

有源可變電阻器的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用分析

有源可變電阻器的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用分析

功率電阻、可變電阻和其他電子負(fù)載常常用于測(cè)試電源和電壓調(diào)節(jié)器.如圖1所示。

2020-08-22 標(biāo)簽:電源測(cè)試電阻器 2.8k 0

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adi Cypress Littelfuse Avago FTDI Cirrus LogIC Intersil Qualcomm
st Murata Panasonic Altera Bourns 矽力杰 Samtec 揚(yáng)興科技
microchip TDK Rohm Silicon Labs 圣邦微電子 安費(fèi)諾工業(yè) ixys Isocom Compo
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Nexperia Lattice KEMET 順絡(luò)電子 霍尼韋爾 pulse ISSI NXP
Xilinx 廣瀨電機(jī) 金升陽(yáng) 君耀電子 聚洵 Liteon 新潔能 Maxim
MPS 億光 Exar 菲尼克斯 CUI WIZnet Molex Yageo
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放大器 運(yùn)算放大器 差動(dòng)放大器 電流感應(yīng)放大器 比較器 儀表放大器 可變?cè)鲆娣糯笃? 隔離放大器
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模數(shù)轉(zhuǎn)換器 數(shù)模轉(zhuǎn)換器 數(shù)字電位器 觸摸屏控制器 AFE ADC DAC 電源管理
線性穩(wěn)壓器 LDO 開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓器 DC/DC 降壓轉(zhuǎn)換器 電源模塊 MOSFET IGBT
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開(kāi)關(guān)電源 步進(jìn)電機(jī) 無(wú)線充電 LabVIEW EMC PLC OLED 單片機(jī)
5G m2m DSP MCU ASIC CPU ROM DRAM
NB-IoT LoRa Zigbee NFC 藍(lán)牙 RFID Wi-Fi SIGFOX
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