測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為，一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。

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全部技術(shù) 資訊資料帖子視頻產(chǎn)品方案企業(yè) 測(cè)試選型

測(cè)試資訊

NI發(fā)布全新PXI機(jī)箱，全面提高系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)間

　　在NI PXIe-1066DC機(jī)全新機(jī)箱中，NI為PXI平臺(tái)系列增加了冗余、熱插拔和前端接入功能，顯著增加了系統(tǒng)的正常運(yùn)行時(shí)間

2012-05-28 標(biāo)簽：測(cè)試 PXI NI 2.4k 0

基于802.11的高速藍(lán)牙技術(shù)測(cè)試

　　IMT-2000和802.11無(wú)線電會(huì)相互干擾，除非彼此在2.6GHz時(shí)的距離能達(dá)到8公尺左右，而在2.3GHz時(shí)的距離可達(dá)到16公尺左右。

2012-05-18 標(biāo)簽：測(cè)試 802.11 高速藍(lán)牙技術(shù) 4.5k 0

實(shí)現(xiàn)高速串行I/O效率的嵌入式測(cè)試

　　隨著技術(shù)的進(jìn)步，電子產(chǎn)業(yè)自身在不斷地發(fā)明創(chuàng)新。嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)師相當(dāng)清楚這一點(diǎn)，許多人開發(fā)的應(yīng)用數(shù)量甚至可以橫跨幾代電子技術(shù)和微處理器技術(shù)。

2012-05-18 標(biāo)簽：測(cè)試嵌入式測(cè)試 2k 0

惠普在上海公開測(cè)試設(shè)備

　　美國(guó)惠普于2012年5月9日、10日在上海舉行了“惠普2012全球科技影響力峰會(huì)（2012 HP Global Influencer Summit）...

2012-05-15 標(biāo)簽：測(cè)試惠普測(cè)試設(shè)備 1k 0

最新測(cè)試技術(shù)在芯片良率提高中發(fā)揮新作用

在納米設(shè)計(jì)時(shí)代，可制造性設(shè)計(jì)（DFM）方法在提高良率方面中已經(jīng)占據(jù)了中心地位。為了實(shí)現(xiàn)更高的良率，人們?cè)诔跏荚O(shè)計(jì)和制造過(guò)程本身采用了各種技術(shù)。由于采用了...

2012-05-10 標(biāo)簽：測(cè)試芯片測(cè)試 2.2k 0

LED驅(qū)動(dòng)器的可靠性和電磁兼容性測(cè)試方案

提高系統(tǒng)的可靠性的根源在于系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。要使系統(tǒng)的元器件工作在正常狀態(tài)下，沒有過(guò)載超負(fù)荷等現(xiàn)象的發(fā)生，并且要有一定的余量。也可以通過(guò)設(shè)計(jì)備用方案，使系統(tǒng)...

2012-05-09 標(biāo)簽：LED 測(cè)試 LED驅(qū)動(dòng)器 3.8k 0

為高電壓測(cè)試選擇最佳電纜

確保測(cè)試期間使用的電纜符合測(cè)試系統(tǒng)最大電壓額定值。在功率器件關(guān)閉狀態(tài)特性分析期間經(jīng)常遇到高壓、低電流測(cè)試，要使用能夠?qū)崿F(xiàn)這類測(cè)試所需性能的電纜。在高壓測(cè)...

2012-05-08 標(biāo)簽：測(cè)試 IT 吉時(shí)利 1.2k 0

復(fù)雜RF環(huán)境下的RFID測(cè)試

隨著設(shè)備價(jià)格的下降及全球市場(chǎng)擴(kuò)大，RFID應(yīng)用正面臨飛速發(fā)展。嵌入式RFID的使用量不斷提高，隨著泛在ID中心（Ubiquitous ID Center...

2012-05-07 標(biāo)簽：測(cè)試 RFID RF 1.9k 0

RFID測(cè)試技術(shù)分析

隨著閱讀器與標(biāo)簽價(jià)格的降低和全球市場(chǎng)的擴(kuò)大，射頻標(biāo)識(shí) RFID（以下簡(jiǎn)稱RFID）的應(yīng)用與日俱增。標(biāo)簽既可由閱讀器供電（無(wú)源標(biāo)簽），也可以由標(biāo)簽的板上電...

2012-05-03 標(biāo)簽：測(cè)試 RFID 1.3k 0

設(shè)計(jì)早期對(duì)EMC的考慮

隨著產(chǎn)品復(fù)雜性和密集度的提高以及設(shè)計(jì)周期的不斷縮短，在設(shè)計(jì)周期的后期解決電磁兼容性（EMC）問題變得越來(lái)越不切合實(shí)際。在較高的頻率下，你通常用來(lái)計(jì)算EM...

2012-05-02 標(biāo)簽：測(cè)試 EMC 1.7k 0

CSP封裝量產(chǎn)測(cè)試中存在的問題

CSP封裝芯片的量產(chǎn)測(cè)試采用類似晶圓測(cè)試的方法進(jìn)行，但是兩者的區(qū)別在于：晶圓的測(cè)試，探針是扎在管芯的PAD（通常情況下為鋁金屬）上，而CSP封裝的測(cè)試座...

2012-05-02 標(biāo)簽：測(cè)試 CSP封裝 2k 0

天線測(cè)試方案選擇評(píng)估

對(duì)天線與某個(gè)應(yīng)用進(jìn)行匹配需要進(jìn)行精確的天線測(cè)量。天線工程師需要判斷天線將如何工作，以便確定天線是否適合特定的應(yīng)用。這意味著要采用天線方向圖測(cè)量（APM）...

2012-05-02 標(biāo)簽：測(cè)試天線 6.1k 0

在智能天線測(cè)試方面的探究

1、引言智能天線技術(shù)的研究起始于20世紀(jì)60年代，最初的研究對(duì)象是雷達(dá)天線陣，主要目的是提高雷達(dá)的性能和電子對(duì)抗的能力。隨著移動(dòng)通信的發(fā)展及對(duì)移動(dòng)通信...

2012-04-26 標(biāo)簽：測(cè)試智能天線 1.7k 0

用于通信系統(tǒng)的軟件自定義測(cè)試平臺(tái)

由于產(chǎn)品發(fā)布的激烈競(jìng)爭(zhēng)，研發(fā)設(shè)計(jì)的速度已經(jīng)超過(guò)了測(cè)試所能負(fù)荷的速度。在ZigBee與802.11n標(biāo)準(zhǔn)完善之前，制造商就向市場(chǎng)發(fā)布了基于此協(xié)議的設(shè)備。傳...

2012-04-26 標(biāo)簽：測(cè)試通信無(wú)線 1.2k 0

TMS320F2812在井下微弱瓦斯信號(hào)檢測(cè)的應(yīng)用

所以本文采用鎖相放大原理中的相敏檢波技術(shù)中互相關(guān)運(yùn)算來(lái)削弱噪聲的影響，然后在經(jīng)過(guò)一個(gè)低通濾波器，此濾波器的頻帶寬度做的很窄，那么經(jīng)過(guò)相敏檢波輸出后，只有...

2012-04-25 標(biāo)簽：測(cè)試 TMS320F2812 1.5k 0

面向非射頻測(cè)試工程師的射頻測(cè)量基礎(chǔ)

初涉無(wú)線設(shè)計(jì)和無(wú)線產(chǎn)品研發(fā)工作的工程師需要掌握基本的射頻測(cè)量基礎(chǔ)知識(shí)。很多情況下，這一過(guò)程是使那些長(zhǎng)期從事低頻應(yīng)用的工程師們重新拾回他們?cè)?jīng)在學(xué)校學(xué)習(xí)過(guò)...

2012-04-25 標(biāo)簽：測(cè)試射頻 WIFI 1.6k 2

高效實(shí)現(xiàn)手機(jī)RF測(cè)試的技巧

現(xiàn)今的手機(jī)生產(chǎn)，成本壓力越來(lái)越大，生產(chǎn)周期卻日益縮短，這就要求產(chǎn)品測(cè)試必須更加快速高效。為尋找簡(jiǎn)單有效的測(cè)試方法，本文討論了手機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中的兩個(gè)基本測(cè)試...

2012-04-23 標(biāo)簽：測(cè)試手機(jī)RF 2.3k 0

面向3G手機(jī)的測(cè)試解決方案

　　手機(jī)技術(shù)正在從2G/2.5G向3G轉(zhuǎn)移，下一代手機(jī)將融合語(yǔ)音、數(shù)據(jù)和圖像等多種功能，被測(cè)內(nèi)容與協(xié)議、網(wǎng)絡(luò)、信道、互通性等密切相關(guān)，還需要借助于手機(jī)測(cè)...

2012-04-23 標(biāo)簽：測(cè)試 3G手機(jī) 1.3k 0

吉時(shí)利集成C-V模塊及軟件實(shí)現(xiàn)更快速測(cè)試

吉時(shí)利儀器公司(NYSE:KEI)，宣布為其功能強(qiáng)大的4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)新增一套C-V測(cè)量功能 4200-CVU。 4200-CVU能以...

2012-04-23 標(biāo)簽：測(cè)試軟件吉時(shí)利 1.4k 0

測(cè)試挑戰(zhàn):測(cè)試技術(shù)的分析

隨著閱讀器與標(biāo)簽價(jià)格的降低和全球市場(chǎng)的擴(kuò)大，射頻標(biāo)識(shí)RFID(以下簡(jiǎn)稱RFID)的應(yīng)用與日俱增。標(biāo)簽既可由閱讀器供電(無(wú)源標(biāo)簽)，也可以由標(biāo)簽的板上電源...

2012-04-20 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)試技術(shù) 780 0

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Proteus軟件是英國(guó)Lab Center Electronics公司出版的EDA工具軟件（該軟件中國(guó)總代理為廣州風(fēng)標(biāo)電子技術(shù)有限公司）。它不僅具有其它EDA工具軟件的仿真功能，還能仿真單片機(jī)及外圍器件。
靜電防護(hù)

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為防止靜電積累所引起的人身電擊、火災(zāi)和爆炸、電子器件失效和損壞，以及對(duì)生產(chǎn)的不良影響而采取的防范措施。其防范原則主要是抑制靜電的產(chǎn)生，加速靜電泄漏，進(jìn)行靜電中和等。
Altium Designer

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ArduBlock軟件是Arduino官方編程環(huán)境的第三方軟件，目前必須依附于Arduino軟件下運(yùn)行，區(qū)別于Arduino文本式編程環(huán)境，ArduBlock是以圖形化積木搭建的方式編程的，這樣的方式會(huì)使編程的可視化和交互性加強(qiáng)，編程門檻降低，即使沒有編程經(jīng)驗(yàn)的人也可以嘗試給Arduino控制器編寫程序。
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pcb封裝就是把實(shí)際的電子元器件，芯片等的各種參數(shù)（比如元器件的大小，長(zhǎng)寬，直插，貼片，焊盤的大小，管腳的長(zhǎng)寬，管腳的間距等）用圖形方式表現(xiàn)出來(lái)，以便可以在畫pcb圖時(shí)進(jìn)行調(diào)用。
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面包板是由于板子上有很多小插孔，專為電子電路的無(wú)焊接實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)制造的。由于各種電子元器件可根據(jù)需要隨意插入或拔出，免去了焊接，節(jié)省了電路的組裝時(shí)間，而且元件可以重復(fù)使用，所以非常適合電子電路的組裝、調(diào)試和訓(xùn)練。
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特性阻抗又稱特征阻抗，它不是直流電阻，屬于長(zhǎng)線傳輸中的概念。特性阻抗是射頻傳輸線影響無(wú)線電波電壓、電流的幅值和相位變化的固有特性，等于各處的電壓與電流的比值，用V/I表示。在射頻電路中，電阻、電容、電感都會(huì)阻礙交變電流的流動(dòng)，合稱阻抗。電阻是吸收電磁能量的，理想電容和電感不消耗電磁能量。
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庫(kù)文件是計(jì)算機(jī)上的一類文件，提供給使用者一些開箱即用的變量、函數(shù)或類。庫(kù)文件分為靜態(tài)庫(kù)和動(dòng)態(tài)庫(kù)，靜態(tài)庫(kù)和動(dòng)態(tài)庫(kù)的區(qū)別體現(xiàn)在程序的鏈接階段：靜態(tài)庫(kù)在程序的鏈接階段被復(fù)制到了程序中；動(dòng)態(tài)庫(kù)在鏈接階段沒有被復(fù)制到程序中，而是程序在運(yùn)行時(shí)由系統(tǒng)動(dòng)態(tài)加載到內(nèi)存中供程序調(diào)用。使用動(dòng)態(tài)庫(kù)系統(tǒng)只需載入一次，不同的程序可以得到內(nèi)存中相同的動(dòng)態(tài)庫(kù)的副本，因此節(jié)省了很多內(nèi)存，而且使用動(dòng)態(tài)庫(kù)也便于模塊化更新程序。
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Altium Designer 是原Protel軟件開發(fā)商Altium公司推出的一體化的電子產(chǎn)品開發(fā)系統(tǒng)，主要運(yùn)行在Windows操作系統(tǒng)。這套軟件通過(guò)把原理圖設(shè)計(jì)、電路仿真、PCB繪制編輯、拓?fù)溥壿嬜詣?dòng)布線、信號(hào)完整性分析和設(shè)計(jì)輸出等技術(shù)的完美融合
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