LTE網(wǎng)絡(luò)容量空中接口測(cè)試

LTE的發(fā)展對(duì)容量測(cè)試提出許多新的挑戰(zhàn)，需要采用不同于3G網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試方法和技術(shù)。LTE的系統(tǒng)架構(gòu)比UMTS更加扁平，這意味著容量測(cè)試傳統(tǒng)上使用的基帶網(wǎng)絡(luò)...

2011-09-01 標(biāo)簽：測(cè)試LTE空中接口 1.9k 0

基于GPIB和計(jì)算機(jī)并行口的SoC自動(dòng)化測(cè)試方案

GPIB(通用接口總線)是國際通用的標(biāo)準(zhǔn)儀器接口。測(cè)試儀器供應(yīng)商一般都提供豐富的GPIB指令集，用戶可以直接調(diào)用通訊命令，從而大大縮減底層搭建的工作量。

2011-08-26 標(biāo)簽：測(cè)試SoC計(jì)算機(jī) 2.1k 0

工業(yè)企業(yè)電能平衡測(cè)試實(shí)施方法

0 引言 根據(jù)《節(jié)約能源法》、《節(jié)約用電管理辦法》等法律、法規(guī)的規(guī)定，以及加快建設(shè)資源節(jié)約型、環(huán)境友好型社會(huì)的要求，進(jìn)一步加強(qiáng)企業(yè)用電需求側(cè)管理，提高電...

2011-08-19 標(biāo)簽：測(cè)試電能平衡 1.5k 0

夏光PTN網(wǎng)絡(luò)IEEE1588同步工程測(cè)試方案

隨著中國移動(dòng)通信集團(tuán)公司PTN分組傳送網(wǎng)的大規(guī)模部署應(yīng)用，以及IEEE1588同步技術(shù)在PTN網(wǎng)絡(luò)中的應(yīng)用深圳市夏光通信技術(shù)有限公司自主研發(fā)，推出中國第...

2011-08-04 標(biāo)簽：測(cè)試IEEE1588PTN網(wǎng)絡(luò) 2.6k 0

汽車電子的測(cè)試挑戰(zhàn)探討

現(xiàn)在的汽車比從前復(fù)雜得多了，特別是從電子設(shè)備的角度來看。當(dāng)您今天坐在駕駛室里的時(shí)候，會(huì)發(fā)現(xiàn)您的周圍充滿了各式各樣的顯示器，那情景簡直比的上10年前的噴氣...

2011-07-18 標(biāo)簽：測(cè)試汽車電子 973 0

華碩RT-N56U無線路由器測(cè)試

華碩新上市的RT-N56U無線路由器。最初想購買它，純粹是因?yàn)樗耐獗怼Ｔ谔暨x時(shí)注意到被稱之為“黑鉆”的它，我得對(duì)它進(jìn)行一個(gè)全面的測(cè)試

2011-06-13 標(biāo)簽：測(cè)試華碩無線路由器 2.3k 1

開關(guān)電源測(cè)試步驟(圖文解說)

開關(guān)電源是一種高頻開關(guān)式的能量變換電子電路，常作為設(shè)備的電源供應(yīng)器，常見變換分類有：AC-DC、DC-DC、DC-AC 等

2011-06-03 標(biāo)簽：測(cè)試開關(guān)電源 5.6萬 2

高壓斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀測(cè)試解決方案

隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和傳感器技術(shù)的發(fā)展，為基于過程測(cè)量的非接觸高壓斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn)提供了可能

2011-06-02 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)試儀機(jī)械特性 3.1k 0

OTDR PON測(cè)試方案

根據(jù)應(yīng)用選擇正確的 OTDR 能夠帶來完全不同的效果。例如，具有在線故障診斷功能的 FTB-7300E PON 優(yōu)化型 OTDR 能將 PON OTDR...

2011-05-30 標(biāo)簽：測(cè)試PONOTDR 5.2k 0

基于架構(gòu)與基于流程的DFT測(cè)試方法之比較

ASIC設(shè)計(jì)的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將20%到50%的開發(fā)工作花費(fèi)在與測(cè)試相關(guān)的問題上，以達(dá)到良好的測(cè)試覆蓋率。盡管遵循可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)規(guī)...

2011-05-28 標(biāo)簽：測(cè)試DFT架構(gòu) 1.7k 0

高速信號(hào)擴(kuò)頻時(shí)鐘測(cè)試

本文簡要介紹了SSC擴(kuò)頻時(shí)鐘的基本概念以及如何使用力科示波器進(jìn)行信號(hào)的擴(kuò)頻時(shí)鐘的測(cè)試。

2011-05-17 標(biāo)簽：測(cè)試擴(kuò)頻時(shí)鐘高速信號(hào) 5.9k 0

泰克BERTScope接收機(jī)測(cè)試方案

隨著不久之后Intel和AMD將其集成到主板(芯片組)中，USB3.0市場(chǎng)的爆發(fā)期在2012年也隨之到來，因?yàn)橹靼寮蒛SB3.0后必將極大推動(dòng)Host...

2011-05-12 標(biāo)簽：測(cè)試泰克接收機(jī) 2k 0

納米器件電流-電壓(I-V)特性測(cè)試

脈沖測(cè)試為人們和研究納米材料、納米電子和目前的半導(dǎo)體器件提供了一種重要手段。在加電壓脈沖的同時(shí)測(cè)量直流電流是電荷泵的基本原理

2011-05-11 標(biāo)簽：測(cè)試I-V納米器件 2.2k 0

LED光電特性的測(cè)試方案

LED光電測(cè)試是檢驗(yàn)LED光電性能的重要而且唯一的手段,本文結(jié)合最新的LED測(cè)試方法的國家標(biāo)準(zhǔn)，介紹了LED的光電性能測(cè)試的幾個(gè)主要方面

2011-04-25 標(biāo)簽：LED測(cè)試光電特性 9.3k 0