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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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LED光電測(cè)試是檢驗(yàn)LED光電性能的重要而且唯一的手段,本文結(jié)合最新的LED測(cè)試方法的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),介紹了LED的光電性能測(cè)試的幾個(gè)主要方面
信號(hào)完整性的測(cè)試手段很多,涉及的儀器也很多,因此熟悉各種測(cè)試手段的特點(diǎn),以及根據(jù)測(cè)試對(duì)象的特性和要求,選用適當(dāng)?shù)臏y(cè)試手段,對(duì)于選擇方案、驗(yàn)證效果、解決問...
2011-04-21 標(biāo)簽:測(cè)試信號(hào)完整性 1.0萬 0
摩爾定律,它以預(yù)測(cè)元件數(shù)每18個(gè)月翻一番而聞名。在長(zhǎng)達(dá)半個(gè)世紀(jì)的時(shí)間里這個(gè)定律在每個(gè)工業(yè)領(lǐng)域給電子器件帶來了巨大的性能提升和成本降低
阿爾卡特朗訊完成TD-LTE規(guī)模外場(chǎng)準(zhǔn)入測(cè)試
阿爾卡特朗訊今天早間宣布,該公司的中國(guó)旗艦公司——上海貝爾已完成了TD-LTE規(guī)模外場(chǎng)準(zhǔn)入測(cè)試
力科示波器高速串行數(shù)據(jù)全方位測(cè)試方案
對(duì)于現(xiàn)代的高速串行系統(tǒng),系統(tǒng)之間的協(xié)調(diào)工作顯得更為突出,協(xié)議間的任何沖突也會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)出現(xiàn)問題,本文將為大家重點(diǎn)介紹力科示波器針對(duì)高速串行信號(hào)物理層、...
本文將介紹一種創(chuàng)新的全數(shù)字衰落模擬方法,這種方法可極大減少增加貴重設(shè)備所產(chǎn)生的成本,同時(shí)提高測(cè)量精度并縮短測(cè)試時(shí)間。
地海雜波測(cè)試控制平臺(tái)的設(shè)計(jì)
采用地海雜波測(cè)試控制平臺(tái)來實(shí)現(xiàn)對(duì)地海雜波的檢測(cè)。這樣可以有效檢測(cè)地海雜波信號(hào),從而掌握各種條件下地海雜波的分部,以便消除或者減小雜波的影響。
電子負(fù)載在檢測(cè)設(shè)備測(cè)試中的應(yīng)用
隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步,并伴隨著電子制造與應(yīng)用領(lǐng)域的發(fā)展,人們對(duì)電子負(fù)載的各種性能要求也在不斷的增加,同時(shí)也希望電子負(fù)載在電子領(lǐng)域?qū)τ谔岣咂洚a(chǎn)品品質(zhì)能夠...
2011-03-11 標(biāo)簽:測(cè)試電子負(fù)載檢測(cè)設(shè)備 1.9k 0
由于Alpha和Beta測(cè)試的組織難度大,測(cè)試費(fèi)用高,測(cè)試的隨機(jī)性強(qiáng)、測(cè)試周期跨度較長(zhǎng),測(cè)試質(zhì)量和測(cè)試效率難于保證,所以,很多專業(yè)軟件可能不再進(jìn)行Bet...
TOP三端離線式脈寬調(diào)制開關(guān)器件已在50W以下開關(guān)電源中廣泛使用,它只有三個(gè)引腳,外圍元件少,其內(nèi)部把低電平永寬調(diào)制電路和大電流高耐壓開關(guān)功率管以單片...
在本文中,我們將討論局域網(wǎng)交換機(jī)的功耗測(cè)試、測(cè)量的方法。 在談到局域網(wǎng)能耗效率和能耗時(shí),我們可以考慮下面的一些測(cè)量方法:
一、高溫高壓及其沖擊測(cè)試;二、低溫低壓及其沖擊測(cè)試:三、常溫常壓沖擊測(cè)試:四、溫度循環(huán)測(cè)試
影響電阻或電阻率測(cè)試的主要因素有:a.環(huán)境溫濕度b.測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)c.測(cè)試時(shí)間d.測(cè)試設(shè)備的泄漏e.外界干擾
匝數(shù)對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)試的影響
研究在磁導(dǎo)率u的測(cè)量過程中,測(cè)試線圈匝數(shù)N對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,關(guān)于測(cè)試樣環(huán)上測(cè)試磁場(chǎng)H徑向不均勻的影響,用積分法解決。指出環(huán)磁導(dǎo)率與材料真實(shí)磁導(dǎo)率之間的差異。
聚星RFID測(cè)試系統(tǒng)獲得Dash7聯(lián)盟認(rèn)可
基于NI軟硬件平臺(tái),由NI系統(tǒng)聯(lián)盟商上海聚星儀器有限公司研發(fā)的RFID測(cè)試系統(tǒng)近日通過Dash7聯(lián)盟及第三方實(shí)驗(yàn)室MET Lab的獨(dú)立認(rèn)證,成為世界首套...
與2010年相比,2011年經(jīng)濟(jì)負(fù)面因素不會(huì)加劇,中國(guó)經(jīng)濟(jì)將相對(duì)比較穩(wěn)定,電子測(cè)試測(cè)量行業(yè)的市場(chǎng)需求也會(huì)如是,例如,電子元件制造行業(yè)出現(xiàn)了一些供不應(yīng)...
2010-12-23 標(biāo)簽:測(cè)試 375 0
引言 軟件質(zhì)量即業(yè)務(wù)生命。軟件測(cè)試項(xiàng)目已經(jīng)變得比以往任何時(shí)候都復(fù)雜和困難。1979年,Glenford Myers在《The Art of S...
中國(guó)移動(dòng)推出全系列TD-LTE測(cè)試終端
11月18日消息,包括上網(wǎng)卡、上網(wǎng)本、PAD等在內(nèi)的全系列TD-LTE測(cè)試終端昨天在香港同時(shí)亮相。 作為TD的演
進(jìn)行電路設(shè)計(jì)與測(cè)試的十條建議
1對(duì)所要設(shè)計(jì)的電路有清晰的思路。 2與同伴一起設(shè)計(jì)和測(cè)試電路時(shí),分工要明確,最好每個(gè)人都有機(jī)會(huì)輪換到不同的職責(zé)。
2010-09-07 標(biāo)簽:測(cè)試電路設(shè)計(jì) 1.3k 1
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