光子精密3D工業(yè)相機(jī)對一體機(jī)殼體測量的形變規(guī)避與效率突破

在 3C 消費(fèi)電子行業(yè)，一體機(jī)殼體作為高價(jià)值、易變形的核心結(jié)構(gòu)件，其平面度、輪廓度、段差等幾何量的測量精度直接決定產(chǎn)品組裝良率，而傳統(tǒng)接觸式測量（如卡尺...

2025-09-11 標(biāo)簽：傳感器3D測量 441 0

激光位移傳感器怎么挑？避開這幾大雷區(qū)，3 招選對不花冤枉錢！

激光位移傳感器作為工業(yè)測量、自動(dòng)化控制領(lǐng)域的核心感知設(shè)備，其選型合理性直接決定測量系統(tǒng)的精度穩(wěn)定性、應(yīng)用適配性及全生命周期成本。當(dāng)前市場中，因選型不當(dāng)導(dǎo)...

2025-09-11 標(biāo)簽：傳感器位移傳感器測量 852 0

紅外測溫傳感器：以非接觸科技重塑母嬰用品溫控新生態(tài)

在母嬰用品中，溫度控制精度與響應(yīng)速度及快速加熱性能已成為衡量產(chǎn)品性能的核心指標(biāo)。領(lǐng)麥微作為MEMS傳感器領(lǐng)域的創(chuàng)新企業(yè)，其紅外測溫傳感器憑借非接觸式測量...

2025-09-11 標(biāo)簽：測量紅外測溫智能母嬰 293 0

應(yīng)變計(jì)測量值負(fù)向偏差的成因分析與修正方法

振弦式應(yīng)變計(jì)監(jiān)測數(shù)據(jù)出現(xiàn)負(fù)值(即顯示壓縮應(yīng)變)時(shí)，需系統(tǒng)鑒別成因。該現(xiàn)象可能源于真實(shí)力學(xué)響應(yīng)、溫度干擾或設(shè)備異常，需結(jié)合工況與儀器特性綜合判斷。溫度干擾...

2025-09-11 標(biāo)簽：測量監(jiān)測數(shù)據(jù)應(yīng)變計(jì) 224 0

臺階儀在大面積硬質(zhì)涂層的應(yīng)用：精準(zhǔn)表征形貌與蝕刻 / 沉積結(jié)構(gòu)參數(shù)

PVD硬質(zhì)涂層的表面形貌直接影響其摩擦學(xué)、潤濕性等功能性能，而精準(zhǔn)表征形貌特征是優(yōu)化涂層工藝的關(guān)鍵。臺階儀因可實(shí)現(xiàn)大掃描面積的三維形貌成像與粗糙度量化，...

2025-09-10 標(biāo)簽：測量儀器薄膜厚度 902 0

滲壓計(jì)的安裝對測量結(jié)果影響嗎?如何避免安裝誤差?

在巖土工程安全監(jiān)測領(lǐng)域，振弦式滲壓計(jì)的測量數(shù)據(jù)直接關(guān)系到工程風(fēng)險(xiǎn)評估的可靠性。大量現(xiàn)場案例證實(shí)，安裝質(zhì)量是影響數(shù)據(jù)精度的首要因素，其產(chǎn)生的誤差可達(dá)滿量程...

2025-09-10 標(biāo)簽：傳感器測量滲壓計(jì) 325 0

【產(chǎn)品升級】告別波形捕捉難題！HIOKI日置MR6000存儲記錄儀，重新定義高精度測量

在設(shè)備研發(fā)與測試場景中，存儲記錄儀與示波器常被一同提及，但二者在核心功能與適用場景上有著顯著差異。示波器雖能實(shí)時(shí)顯示波形，卻存在無法完整記錄的短板，難以...

2025-09-10 標(biāo)簽：示波器測量存儲記錄儀 283 0

共聚焦顯微鏡應(yīng)用：沖蝕角度對玻璃噴砂磨損粗糙度的表面形貌分析

目前，固體顆粒沖蝕研究多集中于航空航天與設(shè)備工程領(lǐng)域，針對玻璃研究較少，現(xiàn)有玻璃沖蝕研究多停留在宏觀層面，微觀損傷機(jī)理分析不足。光子灣科技深耕高端光學(xué)精...

2025-09-09 標(biāo)簽：測量顯微鏡 242 0

環(huán)境因素對土壓力計(jì)性能的影響及應(yīng)對策略

在巖土工程長期監(jiān)測實(shí)踐中，土壓力計(jì)的測量精度常受環(huán)境變量干擾。溫度波動(dòng)、濕度滲透、化學(xué)腐蝕及機(jī)械應(yīng)力等因素，均可能引發(fā)數(shù)據(jù)漂移或設(shè)備失效。本文將系統(tǒng)解析...

2025-09-08 標(biāo)簽：傳感器測量壓力計(jì) 550 0

EA-BIM 20005：20通道并行EIS測量，讓電池阻抗分析更精準(zhǔn)高效

在鋰電池制造與研發(fā)領(lǐng)域，電化學(xué)阻抗譜（EIS）測量是透視電芯質(zhì)量的“火眼金睛”，卻常因傳統(tǒng)設(shè)備速度慢、精度低、集成難而成為瓶頸。泰克科技推出的EA-BI...

2025-09-08 標(biāo)簽：測量阻抗分析儀EIS 353 0

應(yīng)用案例 | 精準(zhǔn)“穿透”覆膜測量壁壘：深視智能光譜共焦傳感器賦能水冷板高精度質(zhì)檢

水冷板覆膜厚度測量難點(diǎn)環(huán)境振動(dòng)干擾測量穩(wěn)定性：產(chǎn)線高頻振動(dòng)易致測量數(shù)據(jù)漂移，重復(fù)性差，難以保證覆膜厚度測量的一致性。膜厚差異與結(jié)構(gòu)復(fù)雜性：水冷板存在多種...

2025-09-08 標(biāo)簽：傳感器測量光譜 702 0

臺階儀精準(zhǔn)測量薄膜工藝中的膜厚：制備薄膜理想臺階提高膜厚測量的準(zhǔn)確性

固態(tài)薄膜因獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)與功能在諸多領(lǐng)域受重視，其厚度作為關(guān)鍵工藝參數(shù)，準(zhǔn)確測量對真空鍍膜工藝控制意義重大，臺階儀法因其能同時(shí)測量膜厚與表面粗糙度而...

2025-09-05 標(biāo)簽：測量儀器 388 0

精準(zhǔn)感知橋梁姿態(tài)，守護(hù)城市交通“生命線”

在現(xiàn)代交通體系中，橋梁不僅是連接城市與區(qū)域的物理通道，更是經(jīng)濟(jì)運(yùn)行與公共安全的重要支撐。隨著橋梁服役年限的增長，以及極端氣候、超載運(yùn)輸?shù)纫蛩氐挠绊?，結(jié)構(gòu)...

2025-09-04 標(biāo)簽：監(jiān)測系統(tǒng)測量傾角傳感器 720 0

浮思特 | LEM IN 1500-S 電流傳感器，精度與穩(wěn)定性的極致追求

在工業(yè)自動(dòng)化、能源管理與高端醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域，高精度電流測量始終是系統(tǒng)性能的核心保障。作為LEM(萊姆)的長期合作伙伴，浮思特科技一直致力于將全球領(lǐng)先的電...

2025-09-02 標(biāo)簽：測量電流傳感器lem 380 0

快問快答：您的產(chǎn)品，到底適合哪種氣密性測量方法？

當(dāng)您的產(chǎn)品需要防水防塵，氣密性測量就成了質(zhì)量控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。但面對市面上的多種測量方法，如何選擇最適合的技術(shù)方案？答案不在于哪種方法最先進(jìn)，而在于哪種方...

2025-09-02 標(biāo)簽：測試儀測量 364 0

振弦式滲壓計(jì)的響應(yīng)時(shí)間與測量頻率詳解

在水利工程、大壩安全監(jiān)測或地質(zhì)災(zāi)害預(yù)警領(lǐng)域，振弦式滲壓計(jì)憑借長期穩(wěn)定性和抗干擾能力成為關(guān)鍵監(jiān)測工具。南京峟思了解到，很多用戶比較關(guān)心其響應(yīng)速度能否及時(shí)捕...

2025-09-01 標(biāo)簽：測量振弦式傳感器 172 0

應(yīng)用案例 | 深視智能一體式3D相機(jī)破解折疊屏鉸鏈精密測量難題，賦能消費(fèi)電子智造升級

折疊屏鉸鏈測量的“三重挑戰(zhàn)”微米級高精度要求：平面度與高度差是鉸鏈核心質(zhì)控指標(biāo)，測量系統(tǒng)需具備微米級重復(fù)精度。復(fù)雜結(jié)構(gòu)測量：鉸鏈結(jié)構(gòu)復(fù)雜，需同步高精度獲...

2025-09-01 標(biāo)簽：消費(fèi)電子測量3D相機(jī) 2.3k 0

一臺儀器即可完成光伏逆變器的效率測試

摘要在PV逆變器的產(chǎn)線測試中，除了功率轉(zhuǎn)換效率測試及諧波測量，有時(shí)還需要對每路MPPT進(jìn)行電流測量。然而，該測試需用到很多功率計(jì)，測試系統(tǒng)的繁瑣始終是一...

2025-08-29 標(biāo)簽：測量儀器電阻線 109 0

同步熱分析儀的聯(lián)用技術(shù)的應(yīng)用

同步熱分析儀是一款可同時(shí)測量樣品的tg和dsc信號的熱分析儀器，被廣泛應(yīng)用在材料科學(xué)、高分子工程師、醫(yī)藥生物、能源等領(lǐng)域。隨著同步熱分析儀性能技術(shù)的不斷...

2025-08-28 標(biāo)簽：測量熱分析儀 265 0

【新啟航】碳化硅襯底 TTV 厚度不均勻性測量的特殊采樣策略

摘要 本文聚焦碳化硅襯底 TTV 厚度不均勻性測量需求，分析常規(guī)采樣策略的局限性，從不均勻性特征分析、采樣點(diǎn)布局優(yōu)化、采樣頻率確定等方面提出特殊采樣策略...

2025-08-28 標(biāo)簽：測量碳化硅 402 0