聚焦離子束（FIB）技術(shù)在電池材料研究中的應(yīng)用

橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術(shù)對電池材料進(jìn)行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部...

2025-10-20 標(biāo)簽：fibTEM離子束 120 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)：原理、應(yīng)用與制樣全解析

在微觀世界的探索中，科學(xué)家們需要極其精密的工具來觀察和分析材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)與成分。聚焦離子束（FIB）技術(shù)就是這樣一把打開微觀世界大門的鑰匙，它通過將離子...

2025-10-16 標(biāo)簽：fib離子束聚焦離子束 181 0

FIB(聚焦離子束顯微鏡)：是反射還是透射？

在微觀世界的探索中，顯微鏡一直是科學(xué)家們最重要的工具之一。隨著科技的發(fā)展，顯微鏡的種類和功能也日益豐富。聚焦離子束顯微鏡（FocusedIonBeam,...

2025-10-13 標(biāo)簽：顯微鏡fib離子束 210 0

納米技術(shù)之聚焦離子束（FIB）技術(shù)

離子束具備的基本功能早期的FIB技術(shù)依賴氣體場電離源（GFIS），但隨著技術(shù)的演進(jìn)，液態(tài)金屬離子源（LMIS）逐漸嶄露頭角，尤其是以鎵為基礎(chǔ)的離子源，憑...

2025-09-22 標(biāo)簽：納米fib離子束 417 0

芯片樣品備制前處理技術(shù)分析（CP研磨、FIB分析）

在芯片設(shè)計完成后，樣品功能性測試、可靠性測試以及失效分析除錯等環(huán)節(jié)開展之前，樣品備制前處理是不可或缺的關(guān)鍵步驟。其中，芯片切片方式用于斷面/橫截面觀察，...

2025-09-08 標(biāo)簽：芯片測試離子束 273 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)分析

聚焦離子束技術(shù)（FIB）聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonbeam，F(xiàn)IB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面，實(shí)現(xiàn)材料的剝離、...

2025-08-28 標(biāo)簽：fib離子束 571 0

聚焦離子束（FIB）在材料分析的應(yīng)用

FIB是聚焦離子束的簡稱，由兩部分組成。一是成像，把液態(tài)金屬離子源輸出的離子束加速、聚焦，從而得到試樣表面電子像（與SEM相似）；二是加工，通過強(qiáng)電流離...

2025-08-26 標(biāo)簽：材料fib離子束 509 0

FIB原理及常見應(yīng)用

聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術(shù)是一種強(qiáng)大的微納加工和分析工具，它利用高度聚焦的離子束對材料表面進(jìn)行納米尺度的刻蝕、沉積、成像和成...

2025-08-21 標(biāo)簽：材料fib離子束 652 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)介紹

聚焦離子束（FIB）技術(shù)因液態(tài)金屬離子源突破而飛速發(fā)展。1970年初期，多國科學(xué)家研發(fā)多種液態(tài)金屬離子源。1978年，美國加州休斯研究所搭建首臺Ga+基...

2025-08-19 標(biāo)簽：fibTEM離子束 644 0

FIB 技術(shù)（Focused Ion Beam）的核心應(yīng)用

在芯片微觀加工與分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB（FocusedIonBeam，聚焦離子束）作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù)，近年來在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。要深入了解...

2025-08-07 標(biāo)簽：芯片fib離子束 487 0

什么是聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）？

工作原理聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）是一種集多種先進(jìn)技術(shù)于一體的微觀分析儀器，其工作原理基于離子束與電子束的協(xié)同作用。1.離子束原理離子束部分的...

2025-07-15 標(biāo)簽：SEM離子束掃描電鏡 522 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)在半導(dǎo)體中的應(yīng)用與操作指導(dǎo)

聚焦離子束（FIB）技術(shù)作為一種高精度的微觀加工和分析工具，在半導(dǎo)體行業(yè)具有不可替代的重要地位。它通過聚焦離子束直接在材料上進(jìn)行操作，無需掩模，能夠?qū)崿F(xiàn)...

2025-07-11 標(biāo)簽：半導(dǎo)體fib離子束 295 0

聚焦離子束技術(shù)：微納米制造與分析的利器

聚焦離子束技術(shù)概述聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）技術(shù)是微納米尺度制造與分析領(lǐng)域的一項(xiàng)關(guān)鍵核心技術(shù)。其原理是利用靜電透鏡將離子源匯聚成...

2025-07-08 標(biāo)簽：聚焦fib離子束 320 0

半導(dǎo)體的常見表征手段

在半導(dǎo)體工藝研發(fā)與制造過程中，精確的表征技術(shù)是保障器件性能與良率的核心環(huán)節(jié)。

2025-07-07 標(biāo)簽：半導(dǎo)體工藝離子束 861 0

聚焦離子束技術(shù)：微納加工與分析的利器

FIB系統(tǒng)工作原理1.工作原理聚焦離子束（FIB）系統(tǒng)是一種高精度的納米加工與分析設(shè)備，其結(jié)構(gòu)與電子束曝光系統(tǒng)類似，主要由發(fā)射源、離子光柱、工作臺、真空...

2025-07-02 標(biāo)簽：fib離子束 438 0

遠(yuǎn)程等離子體刻蝕技術(shù)介紹

遠(yuǎn)程等離子體刻蝕技術(shù)通過非接觸式能量傳遞實(shí)現(xiàn)材料加工，其中熱輔助離子束刻蝕（TAIBE）作為前沿技術(shù)，尤其適用于碳氟化合物（FC）材料（如聚四氟乙烯PT...

2025-06-30 標(biāo)簽：等離子體離子束刻蝕 785 0

FIB 與成分分析的關(guān)聯(lián)原理

離子束與樣品的相互作用在FIB系統(tǒng)中，離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)聚焦后轟擊樣品表面，引發(fā)一系列物理現(xiàn)象。入射離子與樣品原子的原子核碰撞，產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，這是FI...

2025-06-27 標(biāo)簽：fib離子束主成分分析 268 0

聚焦離子束技術(shù)的崛起與應(yīng)用拓展

聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的納米加工和分析工具。其基本原理是在電場和磁場作用下，將離子束聚焦到亞微米甚至納米量級，通過偏轉(zhuǎn)和加速系統(tǒng)控制離子束掃...

2025-06-24 標(biāo)簽：透鏡fib離子束 407 0

離子束的傳輸與信號探測

聚焦離子束（FIB）在材料科學(xué)和微納加工領(lǐng)域內(nèi)的重要性日益顯現(xiàn)，離子束的傳輸過程由多個關(guān)鍵組件構(gòu)成，包含離子源、透鏡和光闌等，而其性能的提升則依賴于光學(xué)...

2025-06-17 標(biāo)簽：材料科學(xué)離子束信號探測 555 0

聚焦離子束顯微鏡（FIB）的應(yīng)用

技術(shù)原理聚焦離子束顯微鏡（FocusedIonBeam,FIB）的核心在于其獨(dú)特的鎵（Ga）離子源。鎵金屬因其較低的熔點(diǎn)（29.76°C）和在該溫度下極...

2025-06-12 標(biāo)簽：顯微鏡fib離子束 523 0