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離子束

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離子束技術(shù)

聚焦離子束技術(shù)：原理、特性與應(yīng)用

聚焦離子束（Focused-Ion-Beam,FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加工與分析手段。其基本原理是通過電場和磁場的作用，將離子束聚焦到亞微米甚至納米...

2025-03-27 標(biāo)簽：fib 離子束 1.1k 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)：芯片調(diào)試的利器

FIB技術(shù)在芯片調(diào)試中的關(guān)鍵應(yīng)用1.電路修改與修復(fù)在芯片設(shè)計(jì)和制造過程中，由于種種原因可能會出現(xiàn)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤或制造缺陷。FIB技術(shù)能夠?qū)π酒娐愤M(jìn)行精細(xì)的修...

2025-02-17 標(biāo)簽：芯片 fib 離子束 962 0

什么是聚焦離子束（FIB）？

什么是聚焦離子束？聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)作為一種前沿的納米級加工與分析手段，近年來在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了...

2025-02-13 標(biāo)簽：fib 電子顯微鏡離子束 959 0

離子束技術(shù)在多領(lǐng)域的應(yīng)用探索

聚焦離子束技術(shù)（FIB）聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）是一種高精度的微納加工手段，它通過加速并聚焦液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束，照...

2024-12-04 標(biāo)簽：芯片 fib 離子束 940 0

雙束聚焦離子束-掃描電鏡（FIB）：TEM樣品制備

雙束聚焦離子束-掃描電鏡（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作為一種先進(jìn)的微觀加工與分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研...

2025-02-28 標(biāo)簽：fib 離子束掃描電鏡 928 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)在芯片逆向工程中的應(yīng)用

聚焦離子束（FIB）技術(shù)概覽聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）技術(shù)在微觀尺度的研究和應(yīng)用中扮演著重要角色。這種技術(shù)以其超高精度和操作靈活...

2025-01-17 標(biāo)簽：芯片 pcb 離子束 928 0

美國進(jìn)口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例

上海伯東美國 KRi 大尺寸考夫曼離子源 KDC 160 適用于 2-4英寸的硅片刻蝕和清潔應(yīng)用, KRi KDC 160 是直流柵網(wǎng)離子源, 高輸出離...

2024-09-13 標(biāo)簽：電流硅片離子束 883 0

聚焦離子束技術(shù)的歷史發(fā)展

聚焦離子束（FIB）技術(shù)的演變與應(yīng)用聚焦離子束（FIB）技術(shù)已經(jīng)成為現(xiàn)代科技領(lǐng)域中不可或缺的一部分，尤其是在半導(dǎo)體制造和微納加工領(lǐng)域。盡管FIB技術(shù)已經(jīng)...

2024-12-05 標(biāo)簽：fib 離子束 881 0

聚焦離子束技術(shù)中液態(tài)鎵作為離子源的優(yōu)勢

聚焦離子束（FIB）在芯片制造中的應(yīng)用聚焦離子束（FIB）技術(shù)在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。它不僅能夠進(jìn)行精細(xì)的結(jié)構(gòu)切割和線路修改，還能用于...

2025-01-10 標(biāo)簽：芯片制造 fib 離子源 876 0

聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）的用途

離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）是將聚焦離子束（FIB）技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM？FIB-SEM...

2025-03-12 標(biāo)簽：fib 電子顯微鏡離子束 872 0

聚焦離子束雙束系統(tǒng)在微機(jī)電系統(tǒng)失效分析中的應(yīng)用

聚焦離子束（FIB）技術(shù)概述聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種通過離子源產(chǎn)生的離子束，經(jīng)過過濾和靜電磁場聚焦，形成直徑為納米級的高能離子束。這種技術(shù)用于對樣...

2025-01-24 標(biāo)簽：SEM 微機(jī)電 fib 871 0

半導(dǎo)體的常見表征手段

在半導(dǎo)體工藝研發(fā)與制造過程中，精確的表征技術(shù)是保障器件性能與良率的核心環(huán)節(jié)。

2025-07-07 標(biāo)簽：半導(dǎo)體工藝離子束 867 0

FIB測試技術(shù)：從原理到應(yīng)用

FIB技術(shù)的核心價(jià)值聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種在微納尺度上實(shí)現(xiàn)材料精確加工的先進(jìn)技術(shù)。它通過將離子束聚焦到極高的精度，能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行納米級的蝕刻和加...

2025-03-18 標(biāo)簽：測試 fib 離子束 817 0

聚焦離子束（FIB）技術(shù)的應(yīng)用原理

聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種極為精細(xì)的樣品制備與加工手段，它能夠?qū)饘?、合金、陶瓷等多種材料進(jìn)行加工，制備出尺寸極小的薄片。這些薄片的寬度通常在10~...

2025-04-23 標(biāo)簽：fib TEM 離子束 814 0

氬離子拋光技術(shù)之高精度材料表面處理

氬離子拋光技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表面處理方法，該技術(shù)的核心原理是利用氬離子束對樣品表面進(jìn)行精細(xì)拋光，通過精確控制離子束的能量、角度和作用時(shí)間，實(shí)現(xiàn)對樣品...

2025-03-10 標(biāo)簽：表面處理離子束拋光 803 0

聚焦離子束與掃描電鏡結(jié)合：雙束FIB-SEM切片應(yīng)用

聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)作為一種前沿的納米級加工與分析手段，近年來在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了離子...

2025-02-24 標(biāo)簽：SEM 離子束掃描電鏡 797 0

聚焦離子束雙束系統(tǒng) FIB - SEM 的技術(shù)剖析與應(yīng)用拓展

技術(shù)原理與核心優(yōu)勢聚焦離子束雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種集成多種先進(jìn)技術(shù)的高端設(shè)備，其核心構(gòu)成包括聚焦離子束（FIB）模塊、掃描電子顯微鏡（SEM）...

2025-04-10 標(biāo)簽：SEM fib 離子束 791 0

遠(yuǎn)程等離子體刻蝕技術(shù)介紹

遠(yuǎn)程等離子體刻蝕技術(shù)通過非接觸式能量傳遞實(shí)現(xiàn)材料加工，其中熱輔助離子束刻蝕（TAIBE）作為前沿技術(shù)，尤其適用于碳氟化合物（FC）材料（如聚四氟乙烯PT...

2025-06-30 標(biāo)簽：等離子體離子束刻蝕 790 0

氬離子束拋光：EBSD樣品制備的高效策略

EBSD技術(shù)的重要性電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是材料科學(xué)中用于揭示材料微觀結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵工具。它詳細(xì)描述了材料在凝固、塑性變形、相變以及斷裂等物理過程中...

2024-11-08 標(biāo)簽：fib 測試設(shè)備離子束 787 0

聚焦離子束與掃描電鏡聯(lián)用技術(shù)

技術(shù)概述聚焦離子束與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)（FIB-SEM）是一種融合高分辨率成像與微納加工能力的前沿設(shè)備，主要由掃描電鏡（SEM）、聚焦離子束（FIB）和氣...

2025-02-25 標(biāo)簽：fib 離子束掃描電鏡 778 0

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