太陽(yáng)光模擬器 | 涂料表面老化測(cè)試原理與應(yīng)用

涂料老化直接決定產(chǎn)品使用壽命與外觀穩(wěn)定性，長(zhǎng)期戶外暴曬易因紫外線、溫濕度變化出現(xiàn)褪色、開(kāi)裂、粉化問(wèn)題，喪失防護(hù)功能。傳統(tǒng)自然暴曬測(cè)試需數(shù)年，難以滿足工業(yè)...

2025-09-08 標(biāo)簽：模擬器太陽(yáng)光老化測(cè)試 279 0

太陽(yáng)光模擬器 | 在無(wú)人機(jī)老化測(cè)試中的應(yīng)用

在無(wú)人機(jī)技術(shù)飛速發(fā)展的當(dāng)下，其戶外作業(yè)環(huán)境復(fù)雜多變，長(zhǎng)期暴露在陽(yáng)光照射下，部件老化問(wèn)題日益凸顯，嚴(yán)重影響無(wú)人機(jī)的性能與壽命。紫創(chuàng)測(cè)控Luminbox專注...

2025-08-20 標(biāo)簽：模擬器無(wú)人機(jī)太陽(yáng)光 554 0

老化測(cè)試效率提升，高壓干簧繼電器究竟做對(duì)了什么？

在老化機(jī)測(cè)試中，“精密、耐用、高密度”這三項(xiàng)指標(biāo)缺一不可，傳統(tǒng)機(jī)械繼電器體積大、壽命短；半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)又難扛高壓。高壓干簧繼電器體積緊湊、隔離高，非常適合密...

2025-07-18 標(biāo)簽：ATE老化測(cè)試自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 3.5k 0

新型功率器件的老化測(cè)試方法

隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）因其優(yōu)異的性能被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而，這些器件在長(zhǎng)期連續(xù)使用后會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)...

2025-06-03 標(biāo)簽：功率器件氮化鎵碳化硅 1.1k 0

一文了解材料耐候老化測(cè)試

高分子材料老化現(xiàn)象高分子材料在其整個(gè)生命周期，包括合成、貯存、加工以及最終應(yīng)用階段，都面臨著變質(zhì)的風(fēng)險(xiǎn)，這種變質(zhì)表現(xiàn)為材料性能的惡化。具體而言，可能出現(xiàn)...

2025-03-27 標(biāo)簽：材料老化測(cè)試 692 0

工廠老化測(cè)試解決方案：GCOM80-2NET-E如何賦能智能制造

老化測(cè)試是產(chǎn)品質(zhì)量把控的關(guān)鍵，但傳統(tǒng)方式效率低、成本高。GCOM80-2NET-E通過(guò)智能協(xié)議解析、多設(shè)備兼容和數(shù)據(jù)輕量化，大幅提升測(cè)試效率，縮短周期，...

2025-03-18 標(biāo)簽：老化測(cè)試智能制造 711 0

臭氧老化試驗(yàn)箱：材料老化測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備

在材料科學(xué)領(lǐng)域，臭氧老化試驗(yàn)箱是一種至關(guān)重要的設(shè)備，用于評(píng)估材料在臭氧環(huán)境下的老化性能。臭氧作為一種強(qiáng)氧化劑，能與許多材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，加速其老化過(guò)程，...

2025-03-10 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱老化測(cè)試 550 0

艾德克斯IT2700在電源管理芯片老化測(cè)試中的應(yīng)用

在半導(dǎo)體領(lǐng)域，電源管理芯片老化測(cè)試是評(píng)估器件可靠性和篩選潛在缺陷的重要環(huán)節(jié)，通過(guò)模擬極端工況加速芯片老化以暴露材料、工藝或設(shè)計(jì)中的薄弱點(diǎn)。隨著電子設(shè)備的...

2025-03-04 標(biāo)簽：半導(dǎo)體電源管理艾德克斯 813 0

紫外(UV)老化測(cè)試：7個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題解析

紫外線對(duì)產(chǎn)品的影響在自然界中，陽(yáng)光中的紫外線是導(dǎo)致產(chǎn)品光降解和光老化的主要原因。這種無(wú)形的輻射不僅對(duì)人體健康構(gòu)成威脅，對(duì)產(chǎn)品的損害同樣不容忽視。產(chǎn)品或材...

2024-12-24 標(biāo)簽：紫外線太陽(yáng)光老化測(cè)試 1.4k 0

IC芯片老化測(cè)試以及方案詳解

芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法，以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用和負(fù)載情況下...

2024-11-23 標(biāo)簽：IC芯片模擬芯片老化測(cè)試 3k 0

為什么充電樁出廠前必須進(jìn)行老化測(cè)試？

充電樁作為電動(dòng)汽車能源補(bǔ)給的關(guān)鍵設(shè)備，其可靠性不僅影響用戶體驗(yàn)，更關(guān)系到公共安全。長(zhǎng)期暴露在復(fù)雜多變的戶外環(huán)境中，充電樁需要承受溫度變化、濕度侵蝕、電壓...

2025-10-13 標(biāo)簽：充電樁老化測(cè)試 317 0

半導(dǎo)體芯片老化測(cè)試：艾德克斯IT2700多通道源載"多通道+回饋式"創(chuàng)新解決方案

在半導(dǎo)體領(lǐng)域，電源管理芯片老化測(cè)試是評(píng)估器件可靠性和篩選潛在缺陷的重要環(huán)節(jié)，通過(guò)模擬極端工況加速芯片老化以暴露材料、工藝或設(shè)計(jì)中的薄弱點(diǎn)。隨著電子設(shè)備的...

2025-03-03 標(biāo)簽：艾德克斯老化測(cè)試 31 0

PCBA老化測(cè)試：產(chǎn)品質(zhì)量的試金石

近幾年在政策的扶持推動(dòng)下，新能源汽車得到大力發(fā)展，競(jìng)爭(zhēng)也日趨激烈，在這場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中產(chǎn)品的安全性和可靠性成為決定勝負(fù)的關(guān)鍵。PCBA(印刷電路板組裝)作為汽車...

2024-12-23 標(biāo)簽：PCBA老化測(cè)試 750 0

臭氧老化試驗(yàn)箱：加速材料老化測(cè)試的得力助手

在科研與工業(yè)生產(chǎn)中，了解材料在長(zhǎng)時(shí)間自然環(huán)境下的老化性能至關(guān)重要。為了快速準(zhǔn)確地模擬這一過(guò)程，臭氧老化試驗(yàn)箱應(yīng)運(yùn)而生。這款設(shè)備以其獨(dú)特的功能和高效的測(cè)試...

2024-11-21 標(biāo)簽：設(shè)備試驗(yàn)箱老化測(cè)試 645 0

A2B車載功放老化測(cè)試

A2B技術(shù)作為一種高帶寬、低延遲的音頻總線解決方案，被廣泛應(yīng)用于汽車音頻系統(tǒng)中，車載功放是其中一個(gè)關(guān)鍵組件，其性能穩(wěn)定性和可靠性直接影響到整個(gè)音頻系統(tǒng)的...

2024-06-05 標(biāo)簽：車載功放老化測(cè)試 1k 0

Burn-In測(cè)試你又明白多少呢？

Burn-In測(cè)試你又明白多少呢？ burn-in測(cè)試，中文名老化測(cè)試，指的就是在產(chǎn)品出廠之前先進(jìn)行高負(fù)荷的使用讓其渡過(guò)故障高發(fā)頻率，讓其到達(dá)客戶手中能...

2024-01-12 標(biāo)簽：測(cè)試故障老化測(cè)試 1.2萬(wàn) 0

電子產(chǎn)品高溫老化測(cè)試——高溫老化試驗(yàn)箱

高溫老化測(cè)試，就如同電子產(chǎn)品的“煉獄”之旅。在這個(gè)過(guò)程中，產(chǎn)品被放置在一個(gè)模擬高溫惡劣環(huán)境的特殊設(shè)備——高溫老化試驗(yàn)箱中。試驗(yàn)箱能夠精確地控制溫度和濕度...

2023-12-22 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品測(cè)試 2k 0