ATECLOUD

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ATECLOUD 智能云測(cè)試平臺(tái)可用于儀器程控、電子元器件自動(dòng)測(cè)試、多通道數(shù)據(jù)采集測(cè)試、電源模塊自動(dòng)測(cè)試、LCR自動(dòng)測(cè)試等，也可根據(jù)客戶需要進(jìn)行產(chǎn)品的定制開(kāi)發(fā)。

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ATECLOUD簡(jiǎn)介

　　ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)電源模塊測(cè)試流程如下：連接設(shè)備——?jiǎng)?chuàng)建測(cè)試項(xiàng)目——編輯測(cè)試方案——啟動(dòng)測(cè)試——查看歷史數(shù)據(jù)并分析。

　　* 產(chǎn)品特點(diǎn)：零代碼編程；快速搭建測(cè)試方案；多臺(tái)設(shè)備多線程測(cè)試；遠(yuǎn)程監(jiān)控；數(shù)據(jù)分析。

　　* 軟件架構(gòu)：自主研發(fā)，多層級(jí)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)；大數(shù)據(jù)系統(tǒng)；試驗(yàn)運(yùn)行全面控制；獨(dú)立賬號(hào)安全可靠。

　　* 硬件結(jié)構(gòu)：支持互聯(lián)網(wǎng)或局域網(wǎng)部署，GPIB/USB/LAN/RS232/485多種接口庫(kù)。

　　* 工作原理：ATEBOX與各類設(shè)備快速對(duì)接；ATE-GATEWAY提高數(shù)據(jù)采集的吞吐量，滿足時(shí)效性要求。

　　通過(guò)此次演示，客戶表示測(cè)試功能已能完全滿足所需測(cè)試需求，并建立了良好的合作關(guān)，目前ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)已經(jīng)成功應(yīng)用于眾多電源自動(dòng)化測(cè)試中。

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