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FIB-SEM雙束系統(tǒng):多領(lǐng)域應(yīng)用的前沿技術(shù)
系統(tǒng)構(gòu)成與工作原理FIB-SEM雙束系統(tǒng)是一種集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體的綜合型分析與表征設(shè)備。其基本構(gòu)成是將單束聚焦離子束系統(tǒng)與掃描電子顯微鏡...
聚焦離子束技術(shù)在納米加工中的應(yīng)用與特性
聚焦離子束技術(shù)的崛起近年來,F(xiàn)IB技術(shù)憑借其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),結(jié)合掃描電鏡(SEM)等高倍數(shù)電子顯微鏡的實(shí)時(shí)觀察功能,迅速成為納米級(jí)分析與制造的主流方法。它在...
案例展示||FIB-SEM在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用
聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)憑借其高分辨率成像與精準(zhǔn)微加工能力,已成為科學(xué)研究和工程領(lǐng)域不可或缺的工具。它將聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡...
聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)作為一種前沿的微納加工與成像技術(shù),憑借其強(qiáng)大的功能和多面性,在材料科學(xué)研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它能夠深入...
FIB技術(shù)的核心價(jià)值聚焦離子束(FIB)技術(shù)是一種在微納尺度上實(shí)現(xiàn)材料精確加工的先進(jìn)技術(shù)。它通過將離子束聚焦到極高的精度,能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行納米級(jí)的蝕刻和加...
離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)是將聚焦離子束(FIB)技術(shù)與掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM?FIB-SEM...
聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)技術(shù)是微納加工領(lǐng)域中不可或缺的關(guān)鍵技術(shù)。它憑借高精度、高靈活性和多功能性,成為眾多微納加工技術(shù)中的佼佼...
聚焦離子束技術(shù)在現(xiàn)代科技的應(yīng)用
聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡稱FIB)技術(shù)是一種在微觀尺度上對(duì)材料進(jìn)行加工、分析和成像的先進(jìn)技術(shù)。它在材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、納米技術(shù)等領(lǐng)...
EBSD樣品制備EBSD樣品的制備過程對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性有著極為重要的影響。目前,常用的EBSD樣品制備方法包括機(jī)械拋光、電解拋光和聚焦離子束(...
雙束聚焦離子束-掃描電鏡(DualBeamFocusedIonBeam,FIB)作為一種先進(jìn)的微觀加工與分析技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研...
技術(shù)概述聚焦離子束與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種融合高分辨率成像與微納加工能力的前沿設(shè)備,主要由掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)和氣...
FIB(聚焦離子束)切片分析作為一種前沿的材料表征技術(shù),憑借其高精度和多維度的分析能力,在材料科學(xué)、電子器件研究以及納米技術(shù)領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。它...
聚焦離子束FIB在失效分析技術(shù)中的應(yīng)用-剖面制樣
FIB技術(shù):納米級(jí)加工與分析的利器在現(xiàn)代科技的微觀世界中,材料的精確加工和分析是推動(dòng)創(chuàng)新的關(guān)鍵。聚焦離子束(FIB)技術(shù)正是在這樣的需求下應(yīng)運(yùn)而生,它提...
聚焦離子束(FIB)技術(shù):芯片調(diào)試的利器
FIB技術(shù)在芯片調(diào)試中的關(guān)鍵應(yīng)用1.電路修改與修復(fù)在芯片設(shè)計(jì)和制造過程中,由于種種原因可能會(huì)出現(xiàn)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤或制造缺陷。FIB技術(shù)能夠?qū)π酒娐愤M(jìn)行精細(xì)的修...
聚焦離子束顯微鏡(FIB):原理揭秘與應(yīng)用實(shí)例
工作原理聚焦離子束顯微鏡的原理是通過將離子束聚焦到納米尺度,并探測離子與樣品之間的相互作用來實(shí)現(xiàn)成像。離子束可以是氬離子、鎵離子等,在加速電壓的作用下,...
FIB-SEM 雙束技術(shù)簡介及其部分應(yīng)用介紹
摘要結(jié)合聚焦離子束(FIB)技術(shù)和掃描電子顯微鏡(SEM)的FIB-SEM雙束系統(tǒng),通過整合氣體注入系統(tǒng)、納米操控器、多種探測器以及可控樣品臺(tái)等附件,已...
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