eVue顯微鏡 概述

體驗數(shù)字成像的未來

eVue IV 數(shù)字成像系統(tǒng)集非凡的光學(xué)性能與更高的生產(chǎn)率于一身。

它的革命性多透鏡設(shè)計在光學(xué)分辨率、數(shù)字變焦和實時運(yùn)動視頻之間提供了理想的平衡。該系統(tǒng)能以前所未有的速度和智能水平對器件進(jìn)行導(dǎo)航、觀察和測量，并支持 FormFactor 獨特的 Contact Intelligence?。

新型高速聚焦系統(tǒng)可提高工作速度，從而在極短的時間里提供高度準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。先進(jìn)的智能型透鏡支架能檢測無意識的機(jī)械接觸并改善自動化安全性。

eVue IV 數(shù)字顯微鏡為您的 Cascade 探針臺提供了完美的補(bǔ)充。

eVue顯微鏡 主要特征

多路CCD設(shè)計

簡便快捷的探針針尖導(dǎo)航

最大限度擴(kuò)大了視野

高放大倍數(shù)

長工作距離

Z 軸驅(qū)動器能夠在與載物臺相同的范圍內(nèi)工作

在 DUT 處于聚焦?fàn)顟B(tài)的情況下可實現(xiàn)較高的分離間隙

使獨特的 ScopeFollowMode 更加強(qiáng)大

實現(xiàn)了更快和更準(zhǔn)確的探針針尖放置

相應(yīng)特征的無陰影視圖

智能物鏡支架

• 自動地配置和優(yōu)化性能
• 簡易的透鏡更換
• eVue 自動識別目標(biāo)參數(shù)并將它們傳遞至 Velox? 探針臺控制軟件

延長使用壽命

• 每天 24 小時、每周 7 天的不間斷運(yùn)行
• 增加了平均故障間隔時間 (MTBF)
• 無需內(nèi)部維護(hù)

智能碰撞檢測系統(tǒng)

• 保護(hù)測量設(shè)置
• 防止透鏡和探針之間的無意識機(jī)械接觸
• 增強(qiáng)了自動化安全性

審核編輯：符乾江