北京清微智能科技有限公司發(fā)布IC驗(yàn)證新方法，實(shí)現(xiàn)雙DUT驗(yàn)證
清微智能在本周宣布新型專利“一種IC驗(yàn)證中實(shí)現(xiàn)雙DUT驗(yàn)證的方法”已于今年3月獲批。該項(xiàng)專利內(nèi)容由該集團(tuán)獨(dú)立研究，申請日期優(yōu)先于2024年3月26日。
據(jù)了解，這項(xiàng)發(fā)明將使IC驗(yàn)證環(huán)境更加精簡及高效，受益方面包括IP驗(yàn)證速度提升以及驗(yàn)證流程簡化等。
值得指出的是，盡管現(xiàn)有方法通過配置MONITOR進(jìn)行驗(yàn)證，但這些過程耗費(fèi)大量時(shí)間。然而，相較之下，清微新發(fā)明僅需運(yùn)用新增DUT中的CPU讀取數(shù)據(jù)，便能實(shí)現(xiàn)更快速和便捷的驗(yàn)證方式。
同時(shí)，如若待驗(yàn)證IP發(fā)生改變，無需重新建立驗(yàn)證環(huán)境乃至更新 CASE，大大減少了項(xiàng)目間驗(yàn)證環(huán)境的傳承難度。
另外，這種驗(yàn)證方式簡化了對MONITOR采集方案或UVM驗(yàn)證環(huán)境的關(guān)注，有助于防止數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，提高設(shè)計(jì)人員協(xié)助調(diào)試時(shí)的便利性。
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