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Mini-LED與Micro-LED:未來顯示技術(shù)的龍爭(zhēng)虎斗!

上海昊量光電設(shè)備有限公司 ? 2025-08-06 11:13 ? 次閱讀
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Mini-LED和Micro-LED顯示技術(shù)成為了近期的熱點(diǎn)技術(shù)。這兩種新技術(shù)和現(xiàn)在的LCD及OLED技術(shù)相比有什么優(yōu)勢(shì)和聯(lián)系呢?

從下圖可以看出每種顯示技術(shù)的差異,目前行業(yè)在從LCD時(shí)代進(jìn)入OLED時(shí)代,未來還將邁入Micro-LED時(shí)代。而Mini-LED作為一種過渡性的產(chǎn)品,當(dāng)背光使用時(shí)將延續(xù)中大尺寸LCD的壽命,當(dāng)顯示屏使用時(shí),將作為目前LED屏向Micro-LED屏進(jìn)化的過渡品。

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到底什么是Mini-LED和Micro-LED?

簡(jiǎn)單說,Mini-LED和Micro-LED就是尺寸更小的LED。Mini-LED通常定義在100-500um,而Micro-LED就要到50-100um以下(以上兩者技術(shù)之間的尺寸的界定是有些模糊的,業(yè)界中有不同定義)。尺寸的不同,會(huì)導(dǎo)致工藝的巨大差異。Mini-LED是在現(xiàn)有的LED的工藝基礎(chǔ)上進(jìn)一步縮小尺寸,所以屬于“量變”級(jí)別;而Micro-LED就要達(dá)到“質(zhì)變”的變化,這將是未來幾年替代OLED的變革性技術(shù),這也是蘋果公司在幾年前就大力投入研發(fā)的原因。但是Micro-LED要真正進(jìn)入量產(chǎn),必須克服巨量轉(zhuǎn)移、全彩顯示、亮色度均勻性的問題,所以應(yīng)該還需要數(shù)年迭代才能完成。

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應(yīng)用一:背光應(yīng)用(Mini-LED)

Mini-LED可以幫助LCD實(shí)現(xiàn)真正的Local Dimming(局部調(diào)光)。比如下面來自BOE的Mini-LED技術(shù)示意圖中,傳統(tǒng)側(cè)入式LED背光是整體常亮的,所以黑色畫面部分還是會(huì)有光線漏出來。

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而Mini-LED的Local Dimming技術(shù)讓LCD在顯示暗的局部畫面時(shí),不僅降低液晶透過率,同時(shí)降低該區(qū)域的Mini-LED的亮度,用戶較終看到的這個(gè)區(qū)域的亮度就可以非常低,低亮度的大幅降低就可以提高整個(gè)顯示畫面的對(duì)比度,而這正是LCD一直被OLED技術(shù)詬病的缺點(diǎn);

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上圖是TCL展示的Local Dimming技術(shù),當(dāng)使用Local Dimming并且Mini-LED的分區(qū)數(shù)量越多時(shí),月球上的亮區(qū)和周圍的暗區(qū)越能更精確地實(shí)現(xiàn)高對(duì)比度;

應(yīng)用二:RGB全彩屏(Mini-LED和Micro-LED)

使用Mini-LED或Micro-LED來顯示RGB像素,就能實(shí)現(xiàn)自發(fā)光的顯示屏,比如我們?nèi)粘K姷腖ED大屏;當(dāng)然,尺寸越小,工藝難度越高;比如AR/VR需要更高的ppi和高亮度,所以Micro-LED就是較理想的顯示屏;在較新的2020年的CES展上,已經(jīng)出現(xiàn)了5000PPI高分辨和300萬nit亮度的Micro-LED產(chǎn)品。

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基于多年的研發(fā)和打磨,昊量光電(Aunion Tech)公司向市場(chǎng)推出了一系列完美貼合市場(chǎng)需求成像式亮度色度計(jì)和晶圓測(cè)試臺(tái)系統(tǒng),用于解決行業(yè)痛點(diǎn),大幅度提升測(cè)試效率。昊量光電(Aunion Tech)的成像亮度計(jì)和色度計(jì)可以幫助客戶檢測(cè)和校正這些新型顯示產(chǎn)品。AU與AUT系列成像亮度計(jì)和色度計(jì),可廣泛應(yīng)用在在顯示面板的亮度、色度、均勻性、缺陷檢測(cè)、Mura等應(yīng)用領(lǐng)域測(cè)試。

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AU-2000成像亮度色度計(jì)

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AUT-2000成像亮度色度計(jì)

Mini-LED背光產(chǎn)品的測(cè)試

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MINI-LED背光測(cè)試


Mini-LED背光的缺陷檢測(cè)和亮度校正

? 亮/色度測(cè)量 Color Measurement

? 缺陷點(diǎn)抓取 Pick out defect LEDs

? 測(cè)量整個(gè)燈板上每個(gè)LED的亮度/光強(qiáng)

? 識(shí)別抓取死燈、微亮、過亮LED

? LED亮度均勻性校正/Calibration

? 不同灰階下對(duì)每個(gè)LED的亮度值進(jìn)行校正補(bǔ)償使背光均勻

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LED燈珠定位排序及亮色度計(jì)算

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NG燈珠抓取并進(jìn)行修復(fù)

像素級(jí)定位

? 紅/藍(lán)色子像素(不同顏色子像素可分別定位)

? 精確到0.1個(gè)像素

? 可適用于異形屏定位

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子像素定位紅點(diǎn)表示子像素缺失,綠點(diǎn)表示子像素成功定位。

亮色度及均勻性測(cè)試

? 亮度/色度/色溫/主波長(zhǎng)

? 均勻性

? 亮度均勻性

? 最大值、最小值、平均值

? 中心點(diǎn)亮度、均勻性

? Hotspot螢火蟲效應(yīng)

? 81點(diǎn)、 135點(diǎn)、 165點(diǎn)等不同POI(關(guān)注點(diǎn))規(guī)格模板

? 色度均勻性

? CIE 1931 x ,y; CIE 1976 u’, v’; 色溫CCT

? 最大值、最小值、平均值

? 中心點(diǎn)色度、均勻性

? 色差Δuv等

? 合格/不合格判定PASS/FAIL

? 根據(jù)客戶提供的亮度色度范圍來判定合格/不合格

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缺陷檢測(cè):昊量光電(Aunion Tech)的成像亮度色度計(jì)可以直接檢測(cè)每顆LED的亮度值,篩選出過亮或過暗的LED燈珠,也可以檢測(cè)各種塊狀的mura。這與對(duì)LCD或OLED的進(jìn)行的點(diǎn)缺陷、線缺陷和mura檢測(cè)比較類似;

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Demura:也就是消除mura,以使屏幕達(dá)到均勻一致,可以是亮度demura,也可以是色度demura。昊量光電(Aunion Tech)的成像亮度色度計(jì)不僅可以校正Mini-LED背光,也可以對(duì)LCD/OLED/Micro-LED屏進(jìn)行demura。

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缺陷檢測(cè)和Demura

制造過程中,顯示屏難免會(huì)產(chǎn)生各種缺陷,如常見的有點(diǎn)缺陷、線缺陷、塊狀類缺陷(如漏光/Mura)等。

除了可以用成像式光度計(jì)和軟件算法進(jìn)行缺陷的檢測(cè)外,還可以使用成像式光度計(jì)來進(jìn)行缺陷補(bǔ)償,如業(yè)內(nèi)常稱的“Demura”。Demura工序?qū)LED產(chǎn)品的良率提升是非常關(guān)鍵。針對(duì)您的需求,我們還提供更多種類的光學(xué)顯示測(cè)試設(shè)備與解決方案。

Demura補(bǔ)償技術(shù)

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DEMURA拼接方案

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AR/VR測(cè)試應(yīng)用

在科技日新月異的今天,增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)(AR)與虛擬現(xiàn)實(shí)(VR)技術(shù)正以前所未有的速度重塑我們的視覺體驗(yàn)世界。從沉浸式游戲到遠(yuǎn)程教育,從工業(yè)設(shè)計(jì)到醫(yī)療培訓(xùn),AR/VR的應(yīng)用場(chǎng)景日益豐富,對(duì)顯示質(zhì)量的要求也達(dá)到了前所未有的高度。在這一背景下,如何確保虛擬世界的色彩還原度、亮度均勻性及視覺舒適度成為行業(yè)亟待解決的關(guān)鍵問題。上海昊量光電設(shè)備有限公司,憑借其自主研發(fā)的“昊量光電Aunion Tech(簡(jiǎn)稱AUT)”成像亮度色度計(jì),攜手“機(jī)器視覺+AI”前沿技術(shù),為AR/VR虛擬顯示領(lǐng)域帶來了革命性的光學(xué)測(cè)試解決方案。

NED近眼顯示測(cè)試-Eye Box

?Eye Box指的是近眼顯示光學(xué)模組與眼球之間的一塊錐形區(qū)域, 也是顯示內(nèi)容最清晰的區(qū)域。

?如果接收眼與輸出區(qū)域的中心對(duì)齊,則將獲得完美的圖像。 當(dāng)眼睛向側(cè)面或上下移動(dòng)時(shí),在每個(gè)方向上的某個(gè)點(diǎn)處, 圖像將變差,直到無法接受為止。超出該區(qū)域的范圍可能會(huì)呈現(xiàn)圖像扭曲、顯色錯(cuò)誤, 甚至不顯示內(nèi)容等問題。將所有這些點(diǎn)串在一起會(huì)形成一個(gè)稱為“Eye Box”的形狀。

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VR

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AR

XR光學(xué)測(cè)試

測(cè)試內(nèi)容:

投影顯示

亮度、色度均勻性

FOV、虛像距

畸變、色差

對(duì)比度

清晰度(MTF

漏光/鬼影

雙目融合/視差

材料

缺陷檢測(cè):臟污、刮傷、異物等

光譜透過率、反射率等

微型顯示屏

亮度、色度均勻性

點(diǎn)、線、 mura缺陷

Demura均勻性校正

測(cè)試項(xiàng)目——畸變

測(cè)試畫面:點(diǎn)陣圖或棋盤格畫面(白色畫面也可以)

? 整體畸變(橫向畸變與縱向畸變值)

? 圖像檢測(cè)找到圖像四個(gè)角點(diǎn)及邊;

? 縱向畸變值計(jì)算方法

? A=(A1+A2)/2;

? Distortion=(B-A)/B*100%;

? 橫向畸變值相同方法類推

? 局部畸變

? 根據(jù)客戶需求進(jìn)行局部區(qū)域的畸變計(jì)算

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測(cè)試項(xiàng)目——對(duì)比度

測(cè)試畫面: W255 、W0

? 靜態(tài)對(duì)比度

? 分別測(cè)量W255和W0的亮度

? 計(jì)算對(duì)比度

? 動(dòng)態(tài)對(duì)比度

? 棋盤格畫面分別測(cè)試亮區(qū)和暗區(qū)對(duì)比度

? 需要進(jìn)行特殊校正,以減少雜散光干擾導(dǎo)致的對(duì)比度指標(biāo)失真

? 整體對(duì)比度與局部對(duì)比度

? 整體對(duì)比度測(cè)量中心點(diǎn)亮度對(duì)比度

? 局部對(duì)比度觀察圖像不同區(qū)域的亮度對(duì)比度差異

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測(cè)試項(xiàng)目——MTF銳度

? MTF銳度測(cè)試畫面(可以使用分辨率線對(duì)畫面)

? 銳度測(cè)量

? 采用SRF刀口法分析方法

? 也可以使用MTF線對(duì)分析方法

? 銳度分布

? 分別測(cè)量不同區(qū)域的MTF指標(biāo)

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虛像距VID測(cè)量?jī)x

? 虛像距測(cè)量?jī)x

? 高精度電機(jī)控制

? 預(yù)標(biāo)定距離信息

? XR眼鏡顯示測(cè)試圖

? 電動(dòng)對(duì)焦

? 精確計(jì)算VID虛像距

? 精度0.5% @ 1.5m

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Micro-LED/OLED 晶圓級(jí)測(cè)試

Mini/Micro-LED尺寸從mm進(jìn)入um級(jí)別,客戶痛點(diǎn): 光通量不足、效率低下;昊量光電(Aunion Tech)的高精度成像亮度色度光譜測(cè)量系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對(duì)um級(jí)Micro-LED的亮度、色度、波長(zhǎng)的 高精度檢測(cè),替代傳統(tǒng)的單顆LED光譜儀+積分球測(cè)試方案。

Micro-LED I-V-L-S測(cè)試系統(tǒng)

? 可以完整評(píng)估Micro/Mini-LED起始點(diǎn)亮、正常點(diǎn)亮、電流電壓線性關(guān)系、極限電流等各個(gè)狀態(tài)下I-V-L和光譜數(shù)據(jù);

? 采用光譜成像色度計(jì)方案, 可以解決Micro-LED單顆發(fā)光光通量不足,導(dǎo)致傳統(tǒng)光譜儀+積分球的測(cè)量方式無法 測(cè)到的問題;

? 最低至0.0001 cd/m2 到千萬cd/m2 的亮度范圍,評(píng)估Micro/Mini-LED最低0.0001uA微弱電流到最高10000uA大電流下的不同狀態(tài);

I-V-L曲線&光譜及色度

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多功能易用的軟件界面

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光譜型亮度色度計(jì)

除了成像式亮度色度計(jì)外,我們還推出了精度高、體積精巧(120 x 105 x 45mm (不含鏡頭部分))、性價(jià)比高的光譜式成像亮度計(jì),非常適合高精度的生產(chǎn)線在線測(cè)試。

AUT SP-100經(jīng)過了嚴(yán)格的校正和測(cè)試,滿足NIST/NIM等計(jì)量體系的標(biāo)準(zhǔn)要求。同時(shí),我們可根據(jù)客戶需求,對(duì)AUTSP-100進(jìn)行一定光譜匹配校正,以匹配客戶現(xiàn)有測(cè)試體系中所使用的CS-3000/SR-5AS/PR-788等高精度光譜儀器的數(shù)據(jù)。經(jīng)實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)驗(yàn)證,無論是測(cè)試OLED/LCD還是LED顯示屏,AUTSP-100都可以實(shí)現(xiàn)與CS-3000/SR-5AS/PR-788等儀器高度一致的精度!(實(shí)測(cè)樣品亮度100cd/m2時(shí),亮度誤差l<±2%,色度誤差<±0.0015)。

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AUT SP-100光譜型亮度色度計(jì)

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除了上述指標(biāo),我們還可以實(shí)現(xiàn)其他以下測(cè)試指標(biāo)

均勻性:評(píng)估不同位置亮度、色度均勻性指標(biāo);

對(duì)比度:評(píng)估顯示屏較亮和較暗的亮度比對(duì);

白平衡:評(píng)估顯示屏的紅/綠/藍(lán)三種基本色的顯示比例,讓顏色準(zhǔn)確顯示;

伽馬Gamma測(cè)試:可以理解為不同亮度灰階下的白平衡,讓顏色在不同亮度下都能準(zhǔn)確顯示;

色域:評(píng)估顯示屏能顯示的紅/綠/藍(lán)三種基本色組成的色空間的面積;

可視角:評(píng)估顯示屏在不同角度下亮度和色度變化;

閃爍度:評(píng)估顯示畫面亮度隨時(shí)間的波動(dòng)情況。

如果您對(duì)屏幕測(cè)試相關(guān)內(nèi)容感興趣,或者有相關(guān)方便的測(cè)試需求,請(qǐng)與我們聯(lián)系!

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    的頭像 發(fā)表于 02-11 17:10 ?797次閱讀
    劃片機(jī)在<b class='flag-5'>Micro-LED</b>芯片封裝中的應(yīng)用與<b class='flag-5'>技術(shù)</b>革新

    Micro LED技術(shù)加速落地!最亮紅色 Micro-LED顯示屏發(fā)布,多家廠商項(xiàng)目迎進(jìn)展

    電子發(fā)燒友網(wǎng)報(bào)道(文/莫婷婷)隨著技術(shù)的發(fā)展,微型發(fā)光二極管(Micro LED顯示面板產(chǎn)業(yè)鏈不斷成熟,預(yù)計(jì)未來幾年內(nèi),
    的頭像 發(fā)表于 02-05 07:26 ?3502次閱讀

    我國(guó)Micro-LED領(lǐng)域首批國(guó)標(biāo)獲批立項(xiàng)

    Micro-LED領(lǐng)域的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)程邁出了重要一步。 據(jù)悉,該國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)是我國(guó)Micro-LED領(lǐng)域首批針對(duì)關(guān)鍵技術(shù)性能測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)。它的制定和實(shí)施,將對(duì)于規(guī)范
    的頭像 發(fā)表于 01-21 10:55 ?973次閱讀

    國(guó)產(chǎn)Micro-LED產(chǎn)業(yè)加速崛起,天馬全制程貫通引領(lǐng)商業(yè)化曙光

    近日,天馬公司成功實(shí)現(xiàn)了Micro-LED產(chǎn)線的全制程貫通,標(biāo)志著這一被譽(yù)為下一代顯示技術(shù)“六邊形戰(zhàn)士”的Micro-LED正站在商業(yè)化的門檻前。M
    的頭像 發(fā)表于 01-07 16:47 ?1265次閱讀

    天馬Micro-LED產(chǎn)線順利全制程貫通

    2024年12月30日,天馬Micro-LED產(chǎn)線在廈門成功實(shí)現(xiàn)全制程貫通。
    的頭像 發(fā)表于 12-30 15:45 ?868次閱讀

    Micro-LED技術(shù)解析

    在超高清顯示、萬物智能交互、移動(dòng)智能終端柔性化等需求的推動(dòng)下,各種新型顯示技術(shù)有望在各自的細(xì)分市場(chǎng)實(shí)現(xiàn)良好的發(fā)展?;诖?,Micro-LED顯示
    的頭像 發(fā)表于 12-25 10:58 ?5444次閱讀
    <b class='flag-5'>Micro-LED</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b>解析

    辰顯光電點(diǎn)亮中國(guó)大陸首條TFT基Micro-LED量產(chǎn)線

    近日,辰顯光電在成都高新區(qū)光顯柔谷產(chǎn)業(yè)園內(nèi)成功舉辦了中國(guó)大陸首條TFT基Micro-LED量產(chǎn)線的點(diǎn)亮儀式。這一里程碑式的事件標(biāo)志著我國(guó)在Micro-LED顯示技術(shù)領(lǐng)域取得了重要突破,
    的頭像 發(fā)表于 12-20 11:04 ?1117次閱讀

    激光在Micro LED顯示技術(shù)的應(yīng)用情況

    technology in micro-LED display manufacturing: A review》 應(yīng)用背景 Micro LED 作為下一代顯示
    的頭像 發(fā)表于 12-07 11:16 ?1845次閱讀
    激光在<b class='flag-5'>Micro</b> <b class='flag-5'>LED</b><b class='flag-5'>顯示</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b>的應(yīng)用情況

    天馬Micro-LED顯示技術(shù)論壇成功舉辦

    近日,天馬Micro-LED顯示技術(shù)論壇在廈門盛大開幕,此次大會(huì)以“智啟芯程 鏈接視界”為主題,邀請(qǐng)來自中國(guó)科學(xué)院、工信部、行業(yè)協(xié)會(huì)、知名高校、Micro-LED會(huì)員單位及全球幾十家知
    的頭像 發(fā)表于 11-15 09:42 ?1100次閱讀