Texas Instruments DDC3256 24位256通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）結(jié)合了通過電流積分進(jìn)行的電流電壓轉(zhuǎn)換和模數(shù)轉(zhuǎn)換。光電二極管等多達(dá)256個獨(dú)立的低電平電流輸出器件可直接連接到其輸入，同時并行進(jìn)行數(shù)字化處理。對于全部256路輸入中的每一路，該器件都有一個低功耗、低噪聲積分器，專用于捕捉傳感器中的全部電荷。積分時間可在50μ s至1.6ms范圍內(nèi)調(diào)整，因而能夠以出色的精度連續(xù)測量fA至μA級別的電流。積分器的輸出通過片上低功耗ADC進(jìn)行數(shù)字化處理，轉(zhuǎn)換得到的數(shù)字代碼通過單個LVDS對進(jìn)行傳輸。該LVDS對經(jīng)過設(shè)計，可最大限度地減少高通道數(shù)環(huán)境中的噪聲耦合。

數(shù)據(jù)手冊：*附件：Texas Instruments DDC3256 24位256通道ADC數(shù)據(jù)手冊.pdf

Texas Instruments DDC3256采用1.85V單電源供電。該器件采用13.2mm×17.2mm^2^ 336焊球0.8mm間距BGA封裝，額定工作溫度范圍為0°C至70°C。片上基準(zhǔn)緩沖器和旁路電容器（位于BGA上）有助于最大限度地降低外部元件要求，進(jìn)一步減小了布板空間。

特性

• 單芯片解決方案，可同時直接測量256路低電平電流
• 可調(diào)滿量程電荷范圍，最高達(dá)320pC
• 輸入電流：1μA（最大值）
• 速度可調(diào)，積分時間低至50μs（每通道20KSPS）
• 分辨率：24位
• 積分非線性：讀數(shù)的±0.025%、滿量程范圍的±1ppm（所有通道均處于活躍狀態(tài)）
• 低功耗：1.2mW/通道
• 低噪聲：0.26fCrms（FSR為320pC、傳感器電容為20pF時）
• 無電荷損耗
• 片上溫度傳感器
• 串行LVDS輸出接口
• 1.85 V 單電源供電
• 封裝內(nèi)旁路電容器和基準(zhǔn)緩沖器可減小PCB面積，降低設(shè)計復(fù)雜性

簡化示意圖

DDC3256 256通道24位電流輸入ADC技術(shù)解析與應(yīng)用指南

產(chǎn)品概述

DDC3256是德州儀器(TI)推出的高性能256通道電流輸入模數(shù)轉(zhuǎn)換器，專為多通道低電平電流測量應(yīng)用設(shè)計。作為單芯片解決方案，該器件集成了電流-電壓轉(zhuǎn)換和模數(shù)轉(zhuǎn)換功能，具有以下核心特性：

• ?超高集成度?：單芯片支持256通道同步采樣
• ?寬動態(tài)范圍?：可測量fA至μA級電流信號
• ?24位分辨率?：配合±0.025%積分非線性度
• ?靈活配置?：積分時間50μs至1.6ms可調(diào)
• ?低功耗設(shè)計?：1.2mW/通道(典型值)
• ?緊湊封裝?：13.2×17.2mm2 BGA(336球)

關(guān)鍵參數(shù)與性能指標(biāo)

1. 電氣特性

2. 時序特性

• ?最短積分時間?：50μs(對應(yīng)20kSPS采樣率)
• ?最長積分時間?：1.6ms
• ?數(shù)據(jù)輸出接口?：LVDS串行(單差分對)

行業(yè)解決方案

1. CT掃描系統(tǒng)

• ?應(yīng)用場景?：X射線探測器陣列信號采集
• ?配置要點(diǎn)?：
  • 積分時間設(shè)置為100μs
  • 使用內(nèi)部溫度傳感器補(bǔ)償漂移
  • LVDS線長不超過15cm

2. 光纖監(jiān)測系統(tǒng)

• ?應(yīng)用場景?：多通道光功率檢測
• ?典型配置?：
  • VREF外接REF70基準(zhǔn)源
  • 啟用自動量程切換模式
  • 配合TMS320F2837x DSP處理數(shù)據(jù)

3. 粒子檢測裝置

• ?特殊設(shè)計?：
  • 傳感器偏置電壓通過IN引腳提供
  • 采用電磁屏蔽罩減少干擾
  • 同步信號通過CONVP/CONVM輸入