使用操作

1 開關(guān)機操作

● 長按電源/ESC鍵2秒可進行開機、關(guān)機操作。

● 本儀器具備自動關(guān)機功能，此功能可關(guān)閉，自動關(guān)機時間可設(shè)置；啟動自動關(guān)機功能后，當儀器閑置一定的時間后將會自動關(guān)機。

● 本儀器具備低電量自動關(guān)機功能，當電池電量耗盡時，會自動停止測試過程，并自動進行關(guān)機操作。

注：以上所有情況，顯示屏都會顯示相應的提示信息。

2 測試操作

在待機界面（測試參數(shù)設(shè)置界面）長按“測試”鍵2秒進入測試數(shù)據(jù)顯示界面并啟動測試；在測試數(shù)據(jù)顯示界面短按“測試”鍵或“電源/ESC”鍵停止測試；長按“測試”鍵可再次啟動測試。

6.2.3 狀態(tài)欄

狀態(tài)欄位于顯示屏頂部，用于顯示當前日期、當前時間、外設(shè)工作狀態(tài)、電池信息等，見下圖：

頂部狀態(tài)欄示意圖

圖標 說明

儀器控制權(quán)狀態(tài)圖標。當儀器的控制權(quán)被APP剝奪時，顯示此圖標。（此功能僅限于具有APP功能的儀器）

測試記錄查看圖標。當前儀器界面在測試記錄查詢界面時，顯示此圖標；查看測試記錄集體數(shù)據(jù)時，此圖標閃爍，以提醒用戶當前顯示的是測試記錄數(shù)據(jù)。

藍牙連接成功圖標。當儀器通過藍牙接口與外部設(shè)備連接成功后，顯示此圖標。

電池充電圖標。當儀器接入交流電源，且充電功能正常時，顯示此圖標。

電池電量圖標。顯示內(nèi)置電池當前電量及其充電狀態(tài)。

電池電量低時，圖標閃爍。

電池充電過程中，外框為紅色。

電池充滿時，外框為綠色。

6.2.4 電壓表功能及絕緣電阻測試參數(shù)設(shè)置

儀器開機后進入待機界面，在此界面下儀器工作在電壓表模式，并且可對絕緣電阻測試參數(shù)進行設(shè)置，見下圖：

上下左右鍵可以控制顯示界面光標位置，按下確認鍵可進入數(shù)值修改模式或直接修改參數(shù)設(shè)置。

當沒有進入數(shù)值修改狀態(tài)時，短按“電源/ESC”鍵，可進入主菜單界面。

長按“測試”鍵2秒，可啟動測試過程，并進入測試數(shù)據(jù)顯示界面。

● 電壓表：

電壓表功能可自動測量“L(-)”端子和“E(+)”端子輸入的交流電壓值或直流電壓值；

當被測電壓為直流電壓時，顯示直流電壓符號及其正負極性；

當被測電壓為交流電壓時，顯示交流電壓符號及其頻率值；當交流電壓信號頻率超范圍時，其頻率顯示為“----”。

● 絕緣電阻測試參數(shù)設(shè)置

① 測試模式：將光標移動至此位置，按鍵“確認”鍵，進入數(shù)值修改狀態(tài)，測試模式選擇項閃爍顯示；此時可以使用“上”鍵或“下”鍵修改測試模式。

絕緣電阻IR：常規(guī)絕緣電阻測試模式；根據(jù)設(shè)定的測試時間自動判斷是否進行DAR測試和PI測試。

吸收比DAR：吸收比測試模式；

極化指數(shù)PI：極化指數(shù)測試模式；

步進電壓SV：步進電壓測試模式。

② 測試電壓：將光標移動至此位置，按鍵“確認”鍵，進入數(shù)值修改狀態(tài)，測試電壓值閃爍顯示；此時可以使用“上”鍵或“下”鍵修改測試電壓值。

具備6個固定電壓測試檔位，分別是：100V、250V、500V、1000V、2500V、5000V。

選擇自定義測試電壓模式時，短按“上”鍵或“下”鍵電壓調(diào)整步長為10V；長按短按“上”鍵或“下”鍵并且保持3秒以上時，電壓調(diào)整步長為50V。

③ 短路電流：將光標移動至此位置，按鍵“確認”鍵，進入數(shù)值修改狀態(tài)，短路電流值閃爍顯示；此時可以使用“上”鍵或“下”鍵修改短路電流值。

④ 測試時間：將光標移動至此位置，按鍵“確認”鍵，進入數(shù)值修改狀態(tài)，短路電流值閃爍顯示；此時可以使用“上”鍵或“下”鍵修改短路電流值。

各種測試模式下的測試時間獨立保存互不影響，便于下次使用。

絕緣電阻IR：常規(guī)絕緣電阻測試模式；當設(shè)置的測試時間大于等于DAR測試所需時間時，將自動進行DAR測試，并在測試完成后顯示DAR相關(guān)結(jié)果。

吸收比DAR：測試時間不可設(shè)置，固定為1分鐘。

極化指數(shù)PI：測試時間不可設(shè)置，固定為10分鐘。

⑤ 擊穿保護：將光標移動至此位置，按鍵“確認”鍵修改設(shè)置。

開啟擊穿保護功能后，在測試過程中一旦試品發(fā)生絕緣擊穿，則儀器自動停止測試過程并提示“試品擊穿”；否則，儀器在試品發(fā)生絕緣擊穿后繼續(xù)進行測試，儀器液晶屏顯示符號，以提示用戶試品已發(fā)生絕緣擊穿。

⑥ 電網(wǎng)頻率：將光標移動至此位置，按鍵“確認”鍵修改設(shè)置。

電網(wǎng)頻率參數(shù)用于設(shè)置內(nèi)置硬件濾波器的濾波頻率，從而大大減小電網(wǎng)干擾對絕緣電阻測試結(jié)果的影響。

⑦ 濾波設(shè)置：將光標移動至此位置，按鍵“確認”鍵，進入數(shù)值修改狀態(tài)，濾波設(shè)置值閃爍顯示；此時可以使用“上”鍵或“下”鍵修改濾波設(shè)置值。

此設(shè)置項用于設(shè)置軟件濾波器的濾波參數(shù)，軟件濾波器可被關(guān)閉。軟件濾波器采用滑動濾波算法進行測試結(jié)果數(shù)據(jù)的濾波，其滑動窗口長度單位為秒鐘；滑動窗口長度可設(shè)置為5S、10S、15S，設(shè)置的滑動窗口越長測試結(jié)果數(shù)據(jù)達到真實值所需的時間越長。

6.2.5 主菜單操作

主菜單中可選擇“絕緣測試”、“記錄查詢”、“時鐘設(shè)置”和“系統(tǒng)設(shè)置”四個子菜單。

絕緣測試：進入絕緣電阻測試參數(shù)設(shè)計界面；

在主菜單界面短按“測試”鍵可快速進入；

記錄查詢：用于查看、編輯和導出已保存的測試數(shù)據(jù)；

時鐘設(shè)置：用于設(shè)置儀器內(nèi)置實時時鐘；

系統(tǒng)設(shè)置：可查看儀器基本信息、儀器設(shè)置、固件升級等。

6.2.6 絕緣電阻測試

安全提示：

● 在進行絕緣電阻測試接線前應確認試品是否帶電；即使試品已經(jīng)斷電，試品上也可能帶有感應電。如果感應電壓過高將會威脅操作人員的人身安全，此時必須按照安全規(guī)程規(guī)定進行操作。

● 可以利用儀器自帶電壓表功能測量試品帶電情況，被測電壓值應在電壓表規(guī)定的測量范圍內(nèi)。當被測電壓值過高時，儀器內(nèi)部將會嚴重發(fā)熱甚至導致儀器燒毀。

● 測試停止或測試完成后，將儀器切換至電壓表模式，以便于查看試品帶電情況；當試品放電完成后方可拆除測試線。

在絕緣電阻測試參數(shù)設(shè)置界面長按“測試”2秒，則會進入測試數(shù)據(jù)顯示界面并啟動測試，見下圖：

在此界面短按“測試”鍵或“電源/ESC”鍵將手動停止測試；長按“測試”鍵2秒將再次啟動測試。在啟動測試初期，高壓電源處于軟啟動狀態(tài)；在停止測試初期，儀器將對外部試品放電；此時狀態(tài)指示燈為紅色且快速閃爍，蜂鳴器發(fā)出急促的 “嗶…嗶…嗶…”訊響音。當進入正常測試狀態(tài)時，狀態(tài)指示燈為紅色且每秒閃爍1次，蜂鳴器每秒發(fā)出1次 “嗶…”訊響音。

顯示數(shù)據(jù)說明：

● 絕緣電阻圖示

以模擬量圖示的方式顯示當前以及最終測量的絕緣電阻值。

● 測試參數(shù)設(shè)置

表頭顯示設(shè)置的測試模式；

Un：設(shè)置的測試電壓值；

tn：設(shè)置的測試時間；

測試起始日期及時間。

● 實時數(shù)據(jù)顯示及高壓電源狀態(tài)

U：實時測量的輸出直流電壓值；

I：實時測量的輸出直流電流值；

t：測試時間計時器；

C：試品電容量。

① 當實時絕緣電阻值超量程時，此處將顯示“﹥滿量程電阻值”。

② 高壓電源工作狀態(tài)：

圖標 說明

閃爍顯示此圖標表示高壓電源處于工作狀態(tài)。

閃爍顯示此圖標表示試品發(fā)生絕緣擊穿，測試已停止。

顯示此圖標表示試品發(fā)生絕緣擊穿燃弧，測試持續(xù)進行中。

CV 顯示此圖標表示高壓測試電源當前處于恒壓輸出狀態(tài)。

CC 顯示此圖標表示高壓測試電源當前處于恒流輸出狀態(tài)。

顯示此圖標表示高壓測試電源發(fā)生超溫故障，測試已停止。

③ 在絕緣測試過程中顯示當前測試狀態(tài)提示信息，并顯示測試完成時的測試電壓值。

● 最終測試數(shù)據(jù)

R15s：測試時間計時器達到15秒時的試品絕緣電阻值。

注意：當“系統(tǒng)設(shè)置”→“設(shè)備設(shè)置”→“DAR模式”設(shè)置為“R60S/R30S”時，此處標識將顯示“R30s”并顯示測試時間計時器達到30秒時的試品絕緣電阻值。

R60s：測試時間計時器達到60秒時的試品絕緣電阻值。

R600s：測試時間計時器達到600秒時的試品絕緣電阻值。

DAR：吸收比數(shù)值。

PI ：極化指數(shù)。

注意：

1. R15s、R30s、R60s、R600s、DAR、PI數(shù)值是否顯示，依賴于設(shè)置的測試模式及測試時間是否滿足需求。

2. R15s、R30s、R60s、R600s絕緣電阻值超量程時，與其相關(guān)的DAR、PI數(shù)值將無法計算，并顯示“----”。

3. 在SV測試模式將顯示R1～R5和U1～U5的數(shù)值。

● 操作功能按鈕

“保存數(shù)據(jù)”用于將當前測試數(shù)據(jù)保存至儀器內(nèi)置存儲器。

6.2.7 記錄查詢

測試記錄查詢界面具備的功能：

● 查看已保存的測試記錄；

● 批量刪除已保存的測試記錄。

“上”鍵、“下”、“左”鍵、“右”鍵用于移動光標；當光標處于某條測試記錄時，短按“確認”鍵可查看其詳細測試數(shù)據(jù)；長按“確認”鍵進入編輯模式并勾選當前測試記錄，可選擇多條測試記錄，并對其進行刪除操作；短按“電源/ESC”鍵退出編輯模式。

單擊此圖標可勾選當前屏幕中的所有測試記錄。

6.2.8 時鐘設(shè)置

時鐘設(shè)置界面見下圖所示：

“左”鍵、“右”鍵用于選擇需要設(shè)置的項目，短按“確認”鍵進入數(shù)值修改狀態(tài)，此時“上”鍵、“下”鍵用于修改數(shù)值。

修改完畢后，單擊完成儀器時鐘的設(shè)置。

6.2.9 系統(tǒng)設(shè)置

● 設(shè)備信息

可查看設(shè)備軟硬件版本號、藍牙系統(tǒng)信息。

● 設(shè)備設(shè)置

單語言機型沒有“語言選擇”選項。

● 固件升級用于升級設(shè)備固件；

廠家設(shè)置屬于廠內(nèi)調(diào)試用，不對用戶開放。

7測試模式詳解

7.1 IR測試模式

常規(guī)絕緣電阻測試模式；根據(jù)設(shè)定的測試時間自動判斷是否進行DAR測試和PI測試。

7.2 DAR吸收比測試模式

DAR吸收比測試模式固定測試時間為1分鐘，國內(nèi)標準其計算公式為：

式中： --- 測試開始后第15秒的絕緣電阻值；

--- 測試開始后第60秒的絕緣電阻值。

國際比較流行的還有以下計算公式：

式中： --- 測試開始后第30秒的絕緣電阻值；

--- 測試開始后第60秒的絕緣電阻值。

DAR吸收比的計算模式可通過“系統(tǒng)設(shè)置”→“設(shè)備設(shè)置”→“DAR模式”進行設(shè)置。

7.3 PI極化指數(shù)測試模式

PI極化指數(shù)測試固定測試時間為10分鐘，其計算公式為：

式中： --- 測試開始后第60 秒的絕緣電阻值；

--- 測試開始后第600秒的絕緣電阻值。

7.4 SV步進電壓測試模式

SV步進電壓測試模式，將設(shè)定的測試電壓值以及測試時間平分成5等分，即步進電壓值及步進時間值。整個測試過程分成5步，并按照計算出的電壓步進值和時間步進值逐步提高測試電壓值。

本儀器最低輸出電壓值為50V，因此SV步進電壓測試模式，經(jīng)過計算的步進電壓值應大于等于此值；否則，初始步驟按照最低50V電壓值進行測試。

注意：測試電壓值及測試時間值在做5等分計算時，為整數(shù)運算無小數(shù)部分為了達到預期的測試效果，測試電壓值及測試時間值最好設(shè)置為5的整數(shù)倍。