本文重點(diǎn)介紹RT1180如何進(jìn)入Boundary Scan模式，通過Jtag來進(jìn)行板級硬件測試的過程。遵循IEEE1149.1中的測試訪問端口和BoundaryScan體系結(jié)構(gòu)的標(biāo)準(zhǔn)。

概述

1.1 Boundary Scan

BoundaryScan是一種測試PCB板和芯片內(nèi)部的子模塊之間互連的方法。它在IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)中有明確的定義。

在Boundary Scan測試中，設(shè)備上的每個(gè)主要輸入和輸出信號都被補(bǔ)充為多功能存儲(chǔ)元件，從而被稱為BoundaryScan單元。這些單元連接到移位寄存器，該寄存器稱為BoundaryScan寄存器。該寄存器可用于讀取和寫入端口狀態(tài)。

在正常模式下，這些單元是透明的，核心（Core）已連接到端口。在Boundary Scan模式下，內(nèi)核與端口隔離，并且端口信號由JTAG接口控制。

Figure 1.Boundary Scan應(yīng)用原理示意圖:

1.2測試接入端口JTAG

JTAG端口是通用測試接口，可以提供對組件內(nèi)置的許多測試支持功能的訪問，它主要包含表1中給出的四個(gè)或五個(gè)信號。

硬件連接示意圖

TRACE32調(diào)試器硬件通常包含以下兩個(gè)部分:

通用調(diào)試器硬件

特定的處理器系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的調(diào)試電纜

Figure 2 是硬件連接示意圖:

MIMXRT1180-EVK驗(yàn)證板的硬件連接示意圖：

1) 檢查BSDL文件中的COMPLIANCE_PATTERN部分，它定義了芯片內(nèi)三個(gè)pin角的狀態(tài)，“(TEST_MODE, POR_B) (01)”，0代表低電平，1代表高電平。在EVK板上進(jìn)行檢查并修改使其與BSDL文件中的狀態(tài)相同。

Figure 3是BSDL文件中的截圖，F(xiàn)igure 4是Test Mode和Por_B這兩個(gè)引腳的連接示意圖：

Test mode and POR_B連接示意圖：

2）PMIC_ON_REQ信號在Boundary Scan測試會(huì)對板卡的電源輸出產(chǎn)生影響，需要?jiǎng)h除電阻R15，并且焊接電阻R13（100 K），確保EVK的3.3V電源持續(xù)輸出。Figure5顯示了原理圖中相應(yīng)的連接示意圖。

PMIC_ON_REQ連接示意圖：

3）Boundary Scan測試時(shí)保證JTAG鏈路獨(dú)立，避免復(fù)用電路對其產(chǎn)生影響。

i.MX RT1180驗(yàn)證板

RT1180包含BGA289和BGA144兩種封裝形式，對應(yīng)兩種驗(yàn)證板MIMXRT1180-EVK和MIMXRT1180-144，Boundary Scan的測試方法相同，請參考下面對的測試步驟：

1.安裝并運(yùn)行軟件Trace32，在下面的命令窗口依次輸入以下命令，

System.down
BSDL.reset
BSDL.Parkstateselect-dr-scan
BSDL.state

2.調(diào)用i.MXRT1180 BSDL文件（NXP官網(wǎng)下載），并通過命令行進(jìn)行BSDL.Softreset。然后檢查Bypass和IDcode，Sample命令來確認(rèn)默認(rèn)狀態(tài)。

3.RT1180芯片不同于其他RT系列芯片，EXTEST時(shí)會(huì)復(fù)位IR和DR的寄存器，所以首先調(diào)整IR和DR的寄存器地址。在TRACE32軟件下面的命令行中依次輸入下面的命令，實(shí)現(xiàn)寄存器地址的變更。

JTAG.LOCK
JTAG.SHIFTTMS100
JTAG.SHIFTREG0110
JTAG.SHIFTTMS1100
JTAG.SHIFTREG10000
JTAG.SHIFTTMS11
JTAG.UNLOCK

4.最后EXTEST模式下通過讀寫命令來操作寄存器的狀態(tài)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)板級上面管腳的高低電平切換。