--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 服務(wù)區(qū)域 全國
- 服務(wù)資質(zhì) CMA/CNAS
- 服務(wù)周期 常規(guī)3-5個(gè)工作日
- 服務(wù)形式 寄送樣品或現(xiàn)場操作
- 測試標(biāo)準(zhǔn) 視具體產(chǎn)品或用戶需求而定
- 報(bào)告語言 中英文
- 報(bào)告形式 電子/紙質(zhì)報(bào)告
--- 產(chǎn)品詳情 ---
智慧城市是把新一代信息技術(shù)充分運(yùn)用在城市中各行各業(yè)基于知識社會下一代創(chuàng)新(創(chuàng)新2.0)的城市信息化高級形態(tài),實(shí)現(xiàn)信息化、工業(yè)化與城鎮(zhèn)化深度融合,有助于緩解“大城市病”,提高城鎮(zhèn)化質(zhì)量,實(shí)現(xiàn)精細(xì)化和動態(tài)管理,并提升城市管理成效和改善市民生活質(zhì)量,提供智慧城市裝備的電磁兼容檢測服務(wù)。
服務(wù)內(nèi)容
提供傳感器,智能監(jiān)控?cái)z像頭,數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備,光信號轉(zhuǎn)換設(shè)備,聲音/圖像采集設(shè)備,自動控制設(shè)備,環(huán)境監(jiān)控設(shè)備的EMC檢測,產(chǎn)品EMC設(shè)計(jì)、仿真服務(wù)。
服務(wù)范圍
智慧城市設(shè)備研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造企業(yè)。
檢測標(biāo)準(zhǔn)
CISPR 32/35(EN 55032/35)
ETSI 301 489系列
EN 300 386
IEC 61000-4-2/-3/-4/-5/-6/-8/-11/
IEC 61000-3-2/-3
ITU-T K.20/21(K.44/45)
GB 9254
GB 19286
YD/T 993
GB/T 17626.2/.3/.4/.5/.6/.8/.11
GB 17625.1/.2
檢測項(xiàng)目
傳導(dǎo)騷擾(CE)、輻射騷擾(RE)、靜電放電抗擾度ESD、射頻輻射抗擾度RS、電快速瞬變脈沖群抗擾度EFT、浪涌(沖擊)抗擾度Surge、射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)抗擾度CS、工頻磁場抗擾度PFMF、脈沖磁場抗擾度PMF、電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度DIP。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS、CMA、A2LA、VCCI
測試周期
5~7天
服務(wù)背景
隨著電子產(chǎn)品的大量使用,環(huán)境中的電磁干擾日益嚴(yán)重,為了保證電子設(shè)備能夠安全穩(wěn)定的工作,需要對電子產(chǎn)品進(jìn)行EMC檢測、認(rèn)證,我們以致力于為客戶產(chǎn)品上市提供一站式服務(wù)。
我們的優(yōu)勢
作為全國領(lǐng)先的第三方實(shí)驗(yàn)室,建有廣州、上海、無錫、深圳、北京、武漢、西安、成都等8個(gè)檢測基地并輻射全國,資源全國統(tǒng)一調(diào)度;擁有領(lǐng)先的儀器設(shè)備和分析手段,測試項(xiàng)目內(nèi)容全面,提供定制化服務(wù)方案,及時(shí)高效可為您提供一站式優(yōu)質(zhì)服務(wù)。
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產(chǎn)品型號:EMC檢測 服務(wù)區(qū)域:全國 服務(wù)資質(zhì):CMA/CNAS 服務(wù)周期:常規(guī)3-5個(gè)工作日 服務(wù)形式:寄送樣品或現(xiàn)場操作 測試標(biāo)準(zhǔn):視具體產(chǎn)品或用戶需求而定 -
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產(chǎn)品型號:EMC檢測 服務(wù)區(qū)域:全國 服務(wù)資質(zhì):CMA/CNAS 服務(wù)周期:常規(guī)3-5個(gè)工作日 服務(wù)形式:寄送樣品或現(xiàn)場操作 測試標(biāo)準(zhǔn):視具體產(chǎn)品或用戶需求而定
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應(yīng)對運(yùn)輸振動風(fēng)險(xiǎn):ASTM D3580標(biāo)準(zhǔn)下的測試策略與性能驗(yàn)證2025-10-15 11:29
在物流運(yùn)輸過程中,包裝件可能因振動、沖擊等動態(tài)載荷導(dǎo)致破損,進(jìn)而影響產(chǎn)品安全。ASTMD3580標(biāo)準(zhǔn)作為國際公認(rèn)的包裝件抗振動性能測試方法,為評估包裝系統(tǒng)的可靠性提供了科學(xué)依據(jù)。本文將深入解析該標(biāo)準(zhǔn)的測試項(xiàng)目、適用范圍、測試周期及其重要性。一、ASTMD3580標(biāo)準(zhǔn)的核心測試項(xiàng)目ASTMD3580標(biāo)準(zhǔn)通過模擬運(yùn)輸環(huán)境中的振動場景,驗(yàn)證包裝件在動態(tài)載荷下的防護(hù)246瀏覽量 -
ASTM D4003標(biāo)準(zhǔn)解讀:它為何成為運(yùn)輸包裝安全的核心依據(jù)?2025-10-11 15:36
在全球化貿(mào)易和電子商務(wù)快速發(fā)展的背景下,產(chǎn)品從生產(chǎn)端到消費(fèi)者手中的運(yùn)輸環(huán)節(jié)面臨復(fù)雜的環(huán)境挑戰(zhàn)。ASTMD4003作為行業(yè)內(nèi)認(rèn)可的包裝運(yùn)輸測試標(biāo)準(zhǔn),為評估包裝系統(tǒng)在運(yùn)輸過程中的可靠性提供了科學(xué)依據(jù),成為企業(yè)降低貨損、提升市場競爭力的重要工具。廣電計(jì)量包裝運(yùn)輸測試服務(wù)已通過CNAS/CMA認(rèn)可,測試操作嚴(yán)格遵循GB/T4857.11、ISTA1A、IATA2A、 -
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一次篩選:芯片可靠性的“第一道防線”在集成電路從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的全流程中,一次篩選是保障產(chǎn)品質(zhì)量的核心環(huán)節(jié)。它位于封裝測試階段前端,通過多維度的嚴(yán)格測試,如電性能測試、環(huán)境應(yīng)力篩選(如高低溫、濕度測試)以及功能驗(yàn)證等步驟,精準(zhǔn)剔除存在潛在缺陷(如材料瑕疵、工藝誤差導(dǎo)致的性能不達(dá)標(biāo))的芯片,直接影響產(chǎn)品良率、可靠性及終端應(yīng)用安全。隨著芯片向高集成度、先進(jìn)制程發(fā)展, -
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