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廣電計(jì)量

廣電計(jì)量一家全國(guó)化、綜合性的國(guó)有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)。專(zhuān)注于為客戶(hù)提供計(jì)量、檢測(cè)、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢(xún)與培訓(xùn)等專(zhuān)業(yè)技術(shù)服務(wù)。

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軌道交通電子元器件失效分析

型號(hào)： 電子元器件失效分析
品牌： GRGTEST(廣電計(jì)量)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 服務(wù)區(qū)域 全國(guó)
  • 服務(wù)資質(zhì) CNAS
  • 發(fā)票 可提供
  • 加急服務(wù) 可提供
  • 報(bào)告類(lèi)型 中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告

--- 產(chǎn)品詳情 ---

服務(wù)范圍

IGBT、IC集成電路、微機(jī)電器件

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GJB548微電子器件試驗(yàn)方法和程序

檢測(cè)項(xiàng)目

（1）常見(jiàn)檢測(cè)項(xiàng)?：3DX 射線檢查、聲學(xué)掃描檢查、開(kāi)封、IC 取芯片、芯片去層、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測(cè)、漏電位置檢測(cè)、彈坑檢測(cè)、粗細(xì)撿漏、ESD 測(cè)試

（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過(guò)電損傷、鍵合異常、封裝異常、散熱異常、電參數(shù)漂移

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

隨著動(dòng)車(chē)及高速列車(chē)電控性能的提升，其使用的電子元器件占比越來(lái)越高。一方面，為保證動(dòng)車(chē)及高速列車(chē)的運(yùn)行可靠性，需要對(duì)所使用的電子元器件進(jìn)行充分的性能摸底，以熟悉產(chǎn)品性能及預(yù)期壽命。另一方面，列車(chē)運(yùn)行過(guò)程中一旦出現(xiàn)電子元器件失效，將可造成災(zāi)難性的損失；而為滿(mǎn)足電子元器件高功率、高負(fù)載、高性能的要求，列車(chē)上多使用進(jìn)口集成電路芯片，因檢測(cè)手段匱乏、分析方法空白，其失效問(wèn)題常常受制于國(guó)外供應(yīng)商。

我們的優(yōu)勢(shì)

廣電計(jì)量通過(guò)與華為、海思等國(guó)內(nèi)集成電路芯片廠的深度合作，不斷提高自身芯片類(lèi)檢測(cè)硬件實(shí)力及分析軟件實(shí)力。具備分析芯片14nm及以上工藝能力，同時(shí)可以將問(wèn)題鎖定在具體芯片層或者um范圍內(nèi)。

 


 

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