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標(biāo)簽 > 開(kāi)關(guān)損耗
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絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)在電機(jī)驅(qū)動(dòng)和電器控制等多種工業(yè)領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。IGBT在具有更低的開(kāi)關(guān)損耗的同時(shí),還要同時(shí)具備一定的抗短路能力。短路時(shí),如...
2025-08-07 標(biāo)簽:IGBT晶體管開(kāi)關(guān)損耗 3.1k 0
如何準(zhǔn)確的測(cè)量開(kāi)關(guān)損耗
一個(gè)高質(zhì)量的開(kāi)關(guān)電源效率高達(dá)95%,而開(kāi)關(guān)電源的損耗大部分來(lái)自開(kāi)關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測(cè)量開(kāi)關(guān)器件的損耗,對(duì)于效率分析是非常關(guān)鍵的。...
2019-06-27 標(biāo)簽:開(kāi)關(guān)電源開(kāi)關(guān)損耗 3k 0
MOSFET的操作可以分為兩種基本模式:線性模式和開(kāi)關(guān)模式。在線性模式下,晶體管的柵源電壓足以使電流通過(guò)通道,但通道電阻相對(duì)較高。通道上的電壓和通過(guò)通道...
2024-06-13 標(biāo)簽:MOSFET晶體管開(kāi)關(guān)損耗 2.6k 0
PFC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試方案
MOSFET/IGBT的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對(duì)開(kāi)關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上,PFC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗...
使用Cauer網(wǎng)絡(luò)仿真熱行為與對(duì)開(kāi)關(guān)損耗影響的評(píng)估
過(guò)去,仿真的基礎(chǔ)是行為和具有基本結(jié)構(gòu)的模型,它們主要適用于簡(jiǎn)單集成電路技術(shù)中使用的器件。但是,當(dāng)涉及到功率器件時(shí),這些簡(jiǎn)單的模型通常無(wú)法預(yù)測(cè)與為優(yōu)化器件...
MOS管怎么用?從認(rèn)識(shí)米勒效應(yīng)、開(kāi)關(guān)損耗、參數(shù)匹配及選型入手
要比喻的話,三極管像綠皮車,MOS管像高鐵。
如何使用示波器測(cè)量電源開(kāi)關(guān)損耗
電源開(kāi)關(guān)損耗是電子電路中一個(gè)重要的性能指標(biāo),它反映了開(kāi)關(guān)器件在開(kāi)關(guān)過(guò)程中產(chǎn)生的能量損失。準(zhǔn)確測(cè)量電源開(kāi)關(guān)損耗對(duì)于優(yōu)化電路設(shè)計(jì)、提高系統(tǒng)效率具有重要意義。...
2024-05-27 標(biāo)簽:示波器電源開(kāi)關(guān)開(kāi)關(guān)損耗 2.3k 0
關(guān)于開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)損耗問(wèn)題探討
同步整流降壓轉(zhuǎn)換器的同步開(kāi)關(guān)(高邊+低邊)是對(duì)VIN和GND電壓進(jìn)行切換(ON/OFF),該過(guò)渡時(shí)間的功率乘以開(kāi)關(guān)頻率后的值即開(kāi)關(guān)損耗。
2020-04-06 標(biāo)簽:降壓轉(zhuǎn)換器開(kāi)關(guān)損耗 2.1k 0
MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)的開(kāi)關(guān)...
2024-09-14 標(biāo)簽:MOSFET半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)損耗 2.1k 0
問(wèn)題1:在功率MOSFET管應(yīng)用中,主要考慮哪些參數(shù)?在負(fù)載開(kāi)關(guān)的功率MOSFET管導(dǎo)通時(shí)間計(jì)算,通常取多少比較好?相應(yīng)的PCB設(shè)計(jì),銅箔面積布設(shè)多大散...
2023-12-03 標(biāo)簽:負(fù)載開(kāi)關(guān)功率MOSFET管MOSFET管 2.1k 0
終端區(qū)域?qū)﹂_(kāi)關(guān)損耗的物理分析
盡管硅是電子產(chǎn)品中使用最廣泛的半導(dǎo)體,但最近的研究表明它有一些局限性,特別是在高功率應(yīng)用中。帶隙是基于半導(dǎo)體的電路的一個(gè)相關(guān)因素,因?yàn)楦邘对诟邷亍㈦妷?..
2022-07-29 標(biāo)簽:MOSFET開(kāi)關(guān)損耗 1.9k 0
如何平衡IGBT模塊的開(kāi)關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗
IGBT模塊的開(kāi)關(guān)損耗(動(dòng)態(tài)損耗)與導(dǎo)通損耗(靜態(tài)損耗)的平衡優(yōu)化是電力電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)的核心挑戰(zhàn)。這兩種損耗存在固有的折衷關(guān)系:降低導(dǎo)通損耗通常需要提高載...
2025-08-19 標(biāo)簽:IGBT開(kāi)關(guān)損耗導(dǎo)通損耗 1.8k 0
效率一直以來(lái)都是電源領(lǐng)域的研究重點(diǎn),尤其在一些小體積高功率密度的電源系統(tǒng)中尤為重要。比如,適配器電源、模塊電源、服務(wù)器用電源等。近年來(lái),第三代GaN半導(dǎo)...
DC/DC評(píng)估篇損耗探討-同步整流降壓轉(zhuǎn)換器的開(kāi)關(guān)損耗
上一篇文章中探討了同步整流降壓轉(zhuǎn)換器的功率開(kāi)關(guān)--輸出端MOSFET的傳導(dǎo)損耗。本文將探討開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)損耗。開(kāi)關(guān)損耗:見(jiàn)文識(shí)意,開(kāi)關(guān)損耗就是開(kāi)關(guān)工...
2023-02-23 標(biāo)簽:MOSFET降壓轉(zhuǎn)換器開(kāi)關(guān)損耗 1.7k 0
通過(guò)驅(qū)動(dòng)器源極引腳改善開(kāi)關(guān)損耗-傳統(tǒng)的MOSFET驅(qū)動(dòng)方法
MOSFET和IGBT等電源開(kāi)關(guān)器件被廣泛應(yīng)用于各種電源應(yīng)用和電源線路中。需要盡可能地降低這種開(kāi)關(guān)器件產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗,但不同的應(yīng)用其降低損耗的...
2023-02-09 標(biāo)簽:MOSFET驅(qū)動(dòng)器IGBT 1.6k 0
安森美 (onsemi)的1200V 分立器件和模塊中的 M3S 技術(shù)已經(jīng)發(fā)布。M3S MOSFET 的導(dǎo)通電阻和開(kāi)關(guān)損耗均較低,提供 650 V 和 ...
雜散電感對(duì)IGBT開(kāi)關(guān)過(guò)程的影響(1)
IGBT的開(kāi)關(guān)損耗特性研究對(duì)IGBT變流器設(shè)計(jì)具有重要的意義,在有結(jié)構(gòu)緊湊性要求或可靠性要求較高或散熱條件特殊的場(chǎng)合,都需要嚴(yán)格按器件損耗特性進(jìn)行大余量...
Ton和Toff已經(jīng)接近圖二要求的時(shí)間,MOS管24V時(shí)帶載27歐,輸出功率21.3W,輸出電壓正常,MOS管基本不發(fā)熱。 總結(jié)一:MOS管發(fā)熱原因小結(jié)...
2023-12-11 標(biāo)簽:電路設(shè)計(jì)限流電阻開(kāi)關(guān)損耗 1.4k 0
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