鎖相環(huán)性能度量標準包括品質因數、噪聲基底、閃爍噪聲模型。

一個理想鎖相振蕩器的相位噪聲主要取決于以下因素：

a.VCO的頻率和鑒相器；

b.VCO的靈敏度kvco、VCO和參考振蕩器相位噪聲曲線;

c.電荷泵電流、環(huán)路濾波器和環(huán)路帶寬；

d.工作模式：整數、小數調制樣式。

(1)PLL相位噪聲

鎖相環(huán)對輸出相位噪聲的貢獻可以用PLL噪聲基底及PLL閃爍噪聲（又叫1/f噪聲）的品質因數來表征，見下式（1）：

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（3）品質因數的計算方法

品質因數（FOM）本質上是PLL和VCO的歸一化噪聲參數，它有助于快速評估PLL在所要求的VCO、頻偏及鑒相器頻率下的性能水平。一般來說，合成器在閉環(huán)帶寬內以PLL IC噪聲為主；在環(huán)路帶寬外（在遠離載頻的頻偏）以VCO開環(huán)相位噪聲為主。因此，通過將環(huán)路帶寬設置為PLL相位噪聲曲線與VCO自由運行相位噪聲曲線相交點對應的頻率值【即PLL相位噪聲曲線與VCO開環(huán)相位噪聲曲線相交于一點，環(huán)路帶寬等于該點對應的頻率】，來快速評估PLL的閉環(huán)性能。

品質因數在估計噪聲參數時也有用，這些噪聲參數會輸入到閉環(huán)設計工具（比如Hittite PLL Design），Hittite PLL Design工具能夠給出關于閉環(huán)相位噪聲的更準確評估，以及PLL環(huán)路濾波器的元件值。