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什么是原子層刻蝕

中科院半導(dǎo)體所 ? 來源:老虎說芯 ? 2025-01-20 09:32 ? 次閱讀
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本文介紹了什么是原子層刻蝕(ALE, Atomic Layer Etching)。

1.ALE 的基本原理:逐層精準刻蝕 原子層刻蝕(ALE)是一種基于“自限性反應(yīng)”的納米加工技術(shù),其特點是以單原子層為單位,逐步去除材料表面,從而實現(xiàn)高精度、均勻的刻蝕過程。它與 ALD(原子層沉積)相對,一個是逐層沉積材料,一個是逐層去除材料。

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工作原理

ALE 通常由以下兩個關(guān)鍵階段組成: 表面活化階段:使用氣相前體或等離子體激活表面,形成化學(xué)吸附層或修飾層。 例如,通過引入鹵化物前體(如 Cl?、SF?),與目標材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng),在表面生成易于刻蝕的化學(xué)物質(zhì)。 物理去除階段:通過離子轟擊、加熱或化學(xué)輔助,選擇性去除表面已修飾的原子層,而不影響未活化區(qū)域。 去除過程嚴格受限于表面活性層的厚度,確保每次循環(huán)僅去除一個原子層。這種分步進行的反應(yīng)和刻蝕,避免了傳統(tǒng)刻蝕中材料過度移除或損傷的問題。

2. ALE 的主要特性與優(yōu)勢

2.1 原子級精度

特性:ALE 可實現(xiàn)單原子層單位的去除,刻蝕深度和速率均可精確控制。

原因:每一步驟都是自限性反應(yīng),刻蝕厚度由表面化學(xué)反應(yīng)決定,不依賴時間或反應(yīng)劑濃度。

應(yīng)用:適用于 7nm、3nm 及更先進節(jié)點的半導(dǎo)體器件制造。

2.2 均勻性與高深寬比能力

特性:在高深寬比(Aspect Ratio, AR)的三維結(jié)構(gòu)中,ALE 依然能夠保持均勻刻蝕,不會出現(xiàn)傳統(tǒng)技術(shù)中底部過刻或側(cè)壁傾斜的現(xiàn)象。 原因:自限性反應(yīng)避免了離子轟擊的方向性影響,同時確保側(cè)壁和底部刻蝕速率一致。 應(yīng)用:適合 3D NAND 閃存、FinFET 晶體管等需要高縱深結(jié)構(gòu)的加工。

2.3 高選擇性

特性:ALE 可針對特定材料(如金屬氧化物、硅化物)進行選擇性刻蝕,不影響鄰近的不同材料。

原因:通過優(yōu)化前體化學(xué)性質(zhì),使反應(yīng)僅在目標材料表面進行。

應(yīng)用:適合復(fù)雜多層結(jié)構(gòu)中各層材料的分離刻蝕。

2.4 損傷最小化

特性:ALE 對材料表面及基底的物理和化學(xué)損傷顯著低于傳統(tǒng)刻蝕方法。

原因:離子轟擊能量較低,化學(xué)反應(yīng)溫和且受限于單層厚度。

應(yīng)用:對熱敏材料(如有機薄膜)或高精度器件(如光學(xué)鏡頭)的微細加工。

3. ALE 與傳統(tǒng)刻蝕技術(shù)的對比

特性 傳統(tǒng)刻蝕 ALE

刻蝕精度 受離子能量和刻蝕時間影響,精度較低 單原子層單位刻蝕,精度極高
均勻性 高深寬比結(jié)構(gòu)中容易出現(xiàn)側(cè)壁彎曲、過刻 均勻刻蝕,不受結(jié)構(gòu)形狀限制
選擇性 難以實現(xiàn)高選擇性 針對性強,可在多層結(jié)構(gòu)中分離特定材料
損傷程度 高能量離子轟擊易損傷基底 化學(xué)反應(yīng)主導(dǎo),低能量,損傷小

4. ALE 的工藝實現(xiàn)

溫度控制:ALE 的反應(yīng)需要一定溫度激活(如 50-250°C),但溫度不可過高,以免破壞材料或前體分解。

等離子體輔助:在許多 ALE 工藝中,低能量等離子體被用來增強表面反應(yīng)性,同時避免傳統(tǒng)高能離子的轟擊損傷。

前體選擇:根據(jù)目標材料選擇合適的化學(xué)前體(如氟化物、氯化物等),確保反應(yīng)的選擇性和效率。

5. ALE 的主要應(yīng)用

5.1 半導(dǎo)體制造:極紫外光刻(EUV)輔助結(jié)構(gòu):用于刻蝕圖案化的極窄溝槽或高縱深結(jié)構(gòu)。 FinFET 制造:實現(xiàn)精確的柵極與源漏區(qū)分離。5.2 光學(xué)與顯示技術(shù):圖像傳感器:對微透鏡結(jié)構(gòu)的精密加工,提升光學(xué)性能。 OLED 制備:在敏感材料上進行微結(jié)構(gòu)刻蝕。 MEMS 器件:微通道與高縱深比結(jié)構(gòu)的均勻刻蝕。 納米能源與光子學(xué):用于納米線陣列、光學(xué)器件的高精度制造。

6. ALE 的技術(shù)挑戰(zhàn)與未來趨勢

6.1 挑戰(zhàn)

反應(yīng)速度:ALE 的分步反應(yīng)導(dǎo)致刻蝕速率較慢,需要優(yōu)化工藝以提高效率。

材料兼容性:前體的化學(xué)選擇性限制了部分材料的刻蝕能力。

設(shè)備成本:ALE 工藝設(shè)備復(fù)雜,對反應(yīng)室的潔凈度和精密度要求高。

6.2 未來趨勢

更高選擇性前體開發(fā):研究能與特定材料反應(yīng)更高效的前體,提高工藝適配性。

等離子體輔助 ALE(PE-ALE):利用低能等離子體提升刻蝕速率和精度。

與 ALD 聯(lián)動:結(jié)合 ALE 和 ALD 工藝,實現(xiàn)原子級沉積與刻蝕的動態(tài)切換,滿足更復(fù)雜的器件制造需求。

7. 結(jié)論

ALE 是一種顛覆性的納米刻蝕技術(shù),憑借其原子級精度、高選擇性、低損傷的特性,在半導(dǎo)體、光子學(xué)、MEMS 等領(lǐng)域展現(xiàn)出廣闊的應(yīng)用前景。隨著前體開發(fā)和設(shè)備優(yōu)化的不斷進步,ALE 將在先進制程技術(shù)中扮演更加關(guān)鍵的角色。

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原文標題:原子層刻蝕(ALE, Atomic Layer Etching)詳解

文章出處:【微信號:bdtdsj,微信公眾號:中科院半導(dǎo)體所】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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